公开(公告)号：CN1170936A

公开(公告)日：1998-01-21

申请号：CN97113300.X

申请日：1997-05-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金宪哲 ,  田弘信 ,  赵昌贤

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/18 ,  G01R31/31813

Abstract: 带有测试电路的半导体集成电路,能在测试操作的适当时间对存储器电路部分进行有效的刷新,包括:测试用地址产生装置64;测试用数据产生装置56;比较地址产生装置56产生的地址和刷新点地址是否相同,如果相同,则禁止地址产生装置的比较装置62;刷新地址产生装置66;响应控制信号,对地址产生装置64的输出信号或刷新地址产生装置66的输出信号进行有选择输出的选择装置68;以及BIST控制装置50。

公开(公告)号：CN1106648C

公开(公告)日：2003-04-23

申请号：CN97113300.X

申请日：1997-05-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金宪哲 ,  田弘信 ,  赵昌贤

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/18 ,  G01R31/31813

Abstract: 带有测试电路的半导体集成电路，能在测试操作的适当时间对存储器电路部分进行有效的刷新，包括：测试用地址产生装置64；测试用数据产生装置56；比较地址产生装置56产生的地址和刷新点地址是否相同，如果相同，则禁止地址产生装置的比较装置62；刷新地址产生装置66；响应控制信号，对地址产生装置64的输出信号或刷新地址产生装置66的输出信号进行有选择输出的选择装置68；以及BIST控制装置50。