-
公开(公告)号：CN118690718A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410252037.7
申请日：2024-03-06
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F30/398 , H04L43/0894 , G06F17/18
Abstract: 提供了一种用于估计关于产品的缺陷的核密度函数的阈值的方法、设备和系统。该方法包括：自举采样操作，通过使用根据样本数据的数量从多个带宽估计方法当中选择的带宽估计方法来为样本数据集估计最佳核带宽，基于最佳核带宽来估计与核密度函数的尾部区域相对应的阈值，以及基于多个阈值来提供用于对阈值的不确定性进行量化的定量值。
Search Results
1
records
(took 0.029 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
