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公开(公告)号：CN118262780A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202311723396.8
申请日：2023-12-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开存储器装置、存储器装置测试方法和测试系统。所述存储器装置包括：存储器单元阵列；时序电路，被配置为：生成第一时钟信号和第二时钟信号，第二时钟信号具有第一时钟信号的频率的i倍的频率；命令解码器，被配置为接收包括多个即时(OTF)位的OTF数据；接收器，被配置为接收输入数据，被配置为基于第一时钟信号对输入数据进行采样，并且被配置为基于采样的输入数据生成第一信号；解串器，被配置为基于所述第二时钟信号从第一信号生成第一解串行化信号；数据模式生成器，被配置为基于第二时钟信号根据第一解串行化信号和OTF数据生成模式信号；以及解码器，被配置为将模式信号发送到存储器单元阵列，其中，i是大于或等于2的自然数。
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