公开(公告)号：CN104978249A

公开(公告)日：2015-10-14

申请号：CN201510167012.8

申请日：2015-04-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴城范 ,  朴镇成 ,  曹娥罗

IPC: G06F11/26

CPC classification number: G06F9/3865 ,  G06F9/30145 ,  G06F11/3688

Abstract: 本发明公开了一种系统芯片及其验证方法。所述验证方法包括步骤：接收测试产生器和异常处理程序；基于测试模板，通过测试产生器来产生测试程序，所述测试程序包括异常引发指令；在执行测试程序时，在第一操作状态下执行第一指令；当在测试程序的执行过程中执行了异常引发指令时，使测试程序的执行停止并且执行包括在异常处理程序中的固定指令序列；以及在执行固定指令序列之后设置的第二操作状态下从第二指令恢复执行测试程序，该第二指令对应于与异常引发指令的地址邻近的地址。

公开(公告)号：CN104978249B

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201510167012.8

申请日：2015-04-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴城范 ,  朴镇成 ,  曹娥罗

IPC: G06F11/26

Abstract: 本发明公开了一种系统芯片及其验证方法。所述验证方法包括步骤：接收测试产生器和异常处理程序；基于测试模板，通过测试产生器来产生测试程序，所述测试程序包括异常引发指令；在执行测试程序时，在第一操作状态下执行第一指令；当在测试程序的执行过程中执行了异常引发指令时，使测试程序的执行停止并且执行包括在异常处理程序中的固定指令序列；以及在执行固定指令序列之后设置的第二操作状态下从第二指令恢复执行测试程序，该第二指令对应于与异常引发指令的地址邻近的地址。