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公开(公告)号:CN103765557A
公开(公告)日:2014-04-30
申请号:CN201180073030.X
申请日:2011-08-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/205
Abstract: 提供了一种气相沉积设备。根据本发明的气相沉积设备可以包括:反应腔室,在该反应腔室中,在晶圆上沉积并且生长外延薄膜,该反应腔室具有可旋转的基座,在该基座上安装晶圆;外壳,在其中布置所述反应腔室,该外壳具有可开启的窗口,使得能够将晶圆装载到反应腔室中或者从反应腔室移出;以及排气装置,用于将外壳内的气体排出到外部以调节内部压力。
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公开(公告)号:CN103208566A
公开(公告)日:2013-07-17
申请号:CN201210570042.X
申请日:2012-12-25
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L21/2633 , H01L21/76898 , H01L33/486 , H01L33/62 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2924/12044 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 提供了通过使用激光烧蚀形成硅通孔的方法。所述方法包括:激光打孔,以通过将激光束照射到硅片的上表面上来形成多个凹槽;以及研磨硅片的下表面,以通过在硅片的下表面上暴露所述凹槽来形成多个硅通孔。
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