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发明公开
搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法审中-实审

公开(公告)号：CN115985373A

公开(公告)日：2023-04-18

申请号：CN202210916834.1

申请日：2022-08-01

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李卫稙 , 鲁官宇 , 宋弦锺

IPC: G11C16/26

Abstract: 公开了搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法。非易失性存储器装置包括具有彼此不同的第一状态和第二状态的多个存储器单元。搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法包括：确定表示数据读取操作被执行的次数的数量n；选择读取电压的n个读取电压电平，使得读取电压电平的数量等于数据读取操作的次数，其中，所述n个读取电压电平彼此不同；通过使用全部的所述n个读取电压电平对所述多个存储器单元执行n次数据读取操作来生成n个单元计数值；以及通过使用所述n个读取电压电平和所述n个单元计数值执行基于一阶多项式的回归分析来生成读取电压的最佳读取电压电平。

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