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公开(公告)号：CN114078552A
公开(公告)日：2022-02-22
申请号：CN202110344001.8
申请日：2021-03-30
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明涉及一种验证存储器设备的方法。该方法包括基于存储在第一存储器设备的经验证的预定部分中的一个或多个第一微码指令来验证第二存储器设备以检测第二存储器设备的运行状态。此外，该方法包括在验证第二存储器设备之后接收一个或多个第二微码指令。最后，基于存储在第二存储器设备中的一个或多个第二微码指令来验证第一存储器设备以检测第一存储器设备的运行状态。
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