公开(公告)号：CN116981526A

公开(公告)日：2023-10-31

申请号：CN202280019284.1

申请日：2022-04-11

Applicant: 三井金属矿业株式会社

Inventor： 西野光彦 ,  佐佐木隆史 ,  井手仁彦

IPC: B22F1/052 ,  B22F1/054 ,  B22F9/24

Abstract: 本发明的镍粉在基于由利用扫描型电子显微镜的测定而算出的圆当量直径的粒度分布中，将累积个数为50个数％处的个数累积粒径设为D50时，D50为50nm以上且200nm以下，且具有D50的1.5倍以上的粒径的颗粒的存在比率为0.5个数％以下。将所述粒度分布中的粒径的标准偏差设为σ(nm)时，优选(σ/D50)×100(％)的值为14％以下。将利用WPPF法测定的微晶尺寸设为Cs时，也优选Cs/D50的值为0.3以上且0.6以下。

公开(公告)号：CN119816389A

公开(公告)日：2025-04-11

申请号：CN202380063343.X

申请日：2023-06-28

Applicant: 三井金属矿业株式会社

Inventor： 西野光彦 ,  佐佐木隆史 ,  泽本裕树

IPC: B22F1/052 ,  B22F1/145 ,  B22F1/054 ,  B22F1/17 ,  B22F9/24 ,  C22C19/03 ,  H01B5/00 ,  H01B13/00 ,  H01G4/008 ,  H01G4/30 ,  H01G4/12

Abstract: 一种镍粒子，其具有包含镍与金属元素M的合金的表面区域。金属元素M为选自铋、铜、铁及钼中的至少1种。金属元素M相对于镍粒子整体的含量为0.09质量％～15.8质量％。在通过X射线光电子分光分析在镍粒子的深度方向上对从最表面至以SiO2换算计的溅射深度为5nm为止的区域进行测定时，在该区域中，将金属元素M的原子数相对于镍元素与金属元素M的合计原子数的比例的最大值设定为X(at％)，在通过ICP发光分光分析法对镍粒子进行测定时，将金属元素M的原子数相对于镍元素与金属元素M的合计原子数的比例设定为Y(at％)时，X/Y的值为0.5～35。

公开(公告)号：CN119816387A

公开(公告)日：2025-04-11

申请号：CN202380063344.4

申请日：2023-06-28

Applicant: 三井金属矿业株式会社

Inventor： 西野光彦 ,  佐佐木隆史 ,  泽本裕树

IPC: B22F1/00 ,  B22F1/052 ,  B22F1/054 ,  B22F1/17 ,  B22F9/24 ,  B22F9/30 ,  C22C19/03 ,  H01B5/00 ,  H01B13/00

Abstract: 一种镍粒子，其具有包含镍与金属元素M的合金的表面区域。金属元素M为选自锡及锌中的至少1种。金属元素M相对于镍粒子整体的含量为0.16质量％～11.4质量％。在通过X射线光电子分光分析在镍粒子的深度方向上对从最表面至以SiO2换算计的溅射深度为5nm为止的区域进行测定时，在该区域中，将金属元素M的原子数相对于镍元素与金属元素M的合计原子数的比例的最大值设定为X(at％)，在通过ICP发光分光分析法对镍粒子进行测定时，将金属元素M的原子数相对于镍元素与金属元素M的合计原子数的比例设定为Y(at％)时，X/Y的值为1.5～30。