公开(公告)号：CN1196931C

公开(公告)日：2005-04-13

申请号：CN98802165.X

申请日：1998-01-29

Applicant: ART探索研究技术公司

Inventor： 杰里·施拉格克 ,  皮埃尔·博德里

IPC: G01N25/72 ,  G01R31/309 ,  G12B15/04

CPC classification number: G01N25/72 ,  G01R31/309

Abstract: 本发明公开了一种红外检测和探测系统，包括：等温壳装置，用于限定接纳待检样品的等温室；在所述等温室中的支撑装置，用于支撑被检测样品；在所述等温室中的红外摄像装置，用于监视样品的红外辐射，并且产生表示所述样品所有区域温度的信号；在等温室中的传感器装置，用于监测所述样品的温度以及所述等温室中的环境温度状况，并且产生表示这种温度的信号；以及与所述摄像装置和所述传感器装置相连的计算机装置，用于检验所有信号，产生所述样品的三维图像，样品与样品之间在图像中的变化表示样品异常，其中所述等温壳装置包括外壳装置，在所述外壳装置中、并与其间隔一段距离的内壳装置以及将所述外壳和内壳装置之间热排除的空调装置。

公开(公告)号：CN1246180A

公开(公告)日：2000-03-01

申请号：CN98802165.X

申请日：1998-01-29

Applicant: ART探索研究技术公司

Inventor： 杰里·施拉格克 ,  皮埃尔·博德里

IPC: G01N25/72 ,  G01R31/04 ,  G01R31/309 ,  G12B15/04

CPC classification number: G01N25/72 ,  G01R31/309

Abstract: 一般使用红外线探测器检验印刷电路卡,其结果的空间分辨率和重复性很差,使得这些设备不能获得商业成功。本系统克服了这些问题,它包括:等热壳装置(1)用于收纳要检测的卡(33);在等温室(32)中的红外摄像装置(94);在等温室(32)中的传感器装置(109、110)用于监测所述样品的温度和所述等温室中的环境温度状况,并产生表示这种温度的信号;以及与摄像装置(94)和传感器(109、110)相连的计算机(96),用于检验所有信号来产生样品(33)的三维图象,样品与样品在图象中的变化表示出样品的异常。