辐射监测装置
    1.
    发明公开
    辐射监测装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN119805527A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202510131628.3

    申请日:2025-02-06

    Abstract: 本发明属于安全监测领域,公开了一种辐射监测装置。辐射监测装置由底座、屏蔽机构和探测器组成,通过将屏蔽机构设置为至少两个屏蔽部,屏蔽机构具有屏蔽部围合形成屏蔽空间的第一状态和屏蔽部相互分离的第二状态,并且屏蔽部均滑动或滚动设置于所述底座上,使得屏蔽机构可以在第一状态和第二状态之间切换,缩短了去除和搭建屏蔽机构所耗时间,减少人员数量和作业时间,解决了现有技术中辐射监测装置铅屏蔽层拆卸和安装过程复杂的技术问题。

    一种基于环形靶的动态扫描的电子束高亮度微焦点射线源

    公开(公告)号:CN117979525A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410077961.6

    申请日:2024-01-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于环形靶的动态扫描的电子束高亮度微焦点射线源,其特征在于,包括电子枪、聚焦线圈、偏转系统和环形反射靶;所述电子枪,用于产生电子束流并依次经所述聚焦线圈、偏转系统入射到所述环形反射靶;所述聚焦线圈,用于聚焦入射的电子束,减小电子束的束斑尺寸;所述偏转系统,用于控制电子束偏转方向及角度,使电子束沿多角度轰击所述环形反射靶;所述环形反射靶,用于被电子束轰击后产生对待扫描对象成像的X射线;其中所述环形反射靶由外向内依次为靶膜、导热基底和水冷通道层,所述靶膜用于与入射的电子束反应产生X射线,所述导热基底用于将所述靶膜上沉积的热量传递给所述水冷通道层。利用本发明可实现高速在线检测。

    一种基于透射靶的电子束动态扫描的微焦点射线源

    公开(公告)号:CN117832045A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410077607.3

    申请日:2024-01-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于透射靶的电子束动态扫描的微焦点射线源,其特征在于,包括电子枪、聚焦线圈、偏转系统和透射靶;所述电子枪,用于产生电子束流并依次经所述聚焦线圈、偏转系统入射到所述透射靶;所述聚焦线圈,用于聚焦入射的电子束,减小电子束的束斑尺寸;所述偏转系统,用于控制电子束偏转方向及角度,使电子束沿多角度轰击所述透射靶;所述透射靶,用于被电子束轰击后产生对待扫描对象成像的X射线;其中所述透射靶的入射面设有多个不同靶材的分区,通过电子束轰击不同靶材分区产生不同的X射线能谱。本发明能够减少高精度机械运动系统,降低CL成像系统的成本,同时可以实现高速在线检测。

    一种有机玻璃内应力方向的检测装置与方法

    公开(公告)号:CN116124335B

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202310076840.5

    申请日:2023-01-29

    Abstract: 本发明涉及一种有机玻璃内应力方向检测装置与方法,属于内应力检测技术领域,解决了现有技术中内应力方向无损检测的问题。包括设置于待测有机玻璃两侧的入射装置和接收装置;调整入射装置和接收装置中第一偏振片镜架、波片镜架、第二偏振片镜架的刻度盘,在光谱仪采集的光谱数据整体光谱曲线幅值最小时,得到待测有机玻璃内应力的可能方向;其中,所述可能方向包括与波片慢轴方向平行或垂直;保持波片镜架刻度盘不变,同步转动起偏器刻度盘与检偏器刻度盘,记录波片光程差与待测有机玻璃光程差的结果确定最终有机玻璃内应力的方向。实现了有机玻璃内应力方向无损检测。

    一种基于FPGA的实时模拟核信号发生器

    公开(公告)号:CN118838574A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202410875796.9

    申请日:2024-07-02

    Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的实时模拟核信号发生器,其特征在于,包括数字板卡和模拟板卡;所述数字板卡包括FPGA和时钟模块;所述模拟板卡包括第一DAC、第二DAC、单端转差分器、ADC和两运算放大器;所述时钟模块为FPGA提供时钟信号;所述FPGA用于根据接收的指令进行参数配置,以及根据配置的参数生成数字核信号并传输至第一DAC、第二DAC;所述第一DAC将数字核信号转换为模拟信号后通过运算放大器放大后输出;所述第二DAC将数字核信号转换为模拟信号后通过运算放大器放大后输出;所述单端转差分器用于对外部输入的核信号转换为差分信号发送给ADC;所述ADC用于将差分信号转换为单端信号传输给FPGA。

    一种电路板背钻孔尺寸自动化无损测量方法

    公开(公告)号:CN114742771B

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202210293155.3

    申请日:2022-03-23

    Abstract: 本发明公开了一种电路板背钻孔尺寸自动化无损测量方法,其步骤包括:1)利用选取或生成的数据集训练U‑net网络,得到用于对PCB断层图像进行层分割的分割模型;2)根据待检测电路板的X射线计算机层析成像重建PCB断层图像,从重建的PCB断层图像中选取包含背钻孔部位的图像区域,并将其层间图像各层输入到所述分割模型中,得到各个层间图像对应的二值图像,进而根据各所述二值图像确定电路层的位置;3)从步骤2)重建的PCB断层图像中截取经过N个钻孔柱心的层间图像,根据对应二值图像确定钻孔末梢位置;4)根据电路层位置及钻孔末梢位置,得到待检测电路板对应钻孔的背钻孔尺寸。本发明能快速、自动化地得到微米级的测量值。

    一种有机玻璃内应力方向的检测装置与方法

    公开(公告)号:CN116124335A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202310076840.5

    申请日:2023-01-29

    Abstract: 本发明涉及一种有机玻璃内应力方向检测装置与方法,属于内应力检测技术领域,解决了现有技术中内应力方向无损检测的问题。包括设置于待测有机玻璃两侧的入射装置和接收装置;调整入射装置和接收装置中第一偏振片镜架、波片镜架、第二偏振片镜架的刻度盘,在光谱仪采集的光谱数据整体光谱曲线幅值最小时,得到待测有机玻璃内应力的可能方向;其中,所述可能方向包括与波片慢轴方向平行或垂直;保持波片镜架刻度盘不变,同步转动起偏器刻度盘与检偏器刻度盘,记录波片光程差与待测有机玻璃光程差的结果确定最终有机玻璃内应力的方向。实现了有机玻璃内应力方向无损检测。

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