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公开(公告)号：CN109387673B
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN201810876569.2
申请日：2018-08-03
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 朴雄纪
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 本发明揭示一种用于测试待测试物件的电气特性的测试探针和使用其的测试装置。测试探针包括：第一接触部分；第二接触部分，可接近或远离第一接触部分移动；以及弹性变形部分，使第一接触部分与第二接触部分连接且通过在探针轴线方向上的压缩而弹性地变形，其中第一接触部分和第二接触部分中的至少一个包括由沿纵向方向形成的第一狭缝分离的多个分离接触部分。根据本揭示，多个分离接触部分被配置成独立地接触待测试物件的测试接触点，从而不仅提高接触可靠性而且通过替代分离接触部分来确保接触可靠性，即使分离接触部分中的一个有故障或损坏。
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公开(公告)号：CN107209207B
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201680007209.8
申请日：2016-01-26
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 朴商德
IPC分类号： G01R1/04
摘要： 本发明揭示一种用于测试物件的电性质的测试装置。测试装置包含：物件支撑单元，被设置以用于支撑物件；罩盖单元，包含耦接至物件支撑单元的罩盖主体，以及由罩盖主体支撑以便朝向与远离物件移动的推动器；以及压力调整器，包含：在接触推动器的同时可旋转地设置于罩盖主体中且具有多级接触按压部分的多级调整凸轮，多级接触按压部分的接触半径取决于旋转角而变化，使得推动器可处于后移位置中且被定位成与罩盖主体相隔多种按压距离；以及操作多级调整凸轮的操作单元。
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公开(公告)号：CN115698729A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202180039310.2
申请日：2021-05-28
申请人： 李诺工业股份有限公司
摘要： 公开一种测试座。所述测试座包括：第一块，包括为导电材料的第一基础构件及为绝缘材料的第一绝缘构件；第二块，包括为导电材料的第二基础构件及为绝缘材料的第二绝缘构件；为绝缘材料的间隙构件，夹置于所述第一块与所述第二块之间；第一探针，被支撑成与所述第一基础构件接触且不与所述第二基础构件接触；第二探针，被支撑成不与所述第一基础构件接触且与所述第二基础构件接触；以及电子部件，设置于所述间隙构件中且放置于使所述第一基础构件与所述第二基础构件电性连接的导电路径上。
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公开(公告)号：CN110446930B
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN201880020227.9
申请日：2018-03-22
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 郑宰欢
摘要： 本发明揭示一种用于检查待测试对象的电特性的探针插座。探针插座包含：多个电源接脚，用于将电源施加至待测试对象；多个接地接脚，平行于电源接脚布置；支撑块，用于容纳及支撑相平行的多个电源接脚或接地接脚；以及导电板，以横向于电源接脚及接地接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部，且具有用于使多个电源接脚共同电连接的电源连接图案及用于使多个接地接脚共同电连接的接地连接图案中的至少一者。
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公开(公告)号：CN114076838A
公开(公告)日：2022-02-22
申请号：CN202110884624.4
申请日：2021-08-03
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 曺惺铉
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 公开一种用于检测被检测物的电特性的检测探针。检测探针包括：筒体，具有中空且在一端部配备有向内侧突出的内向突起；端子，具有卡在所述内向突起处的止挡部、以及在插入到所述筒体的一端部时通过所述内向突起使所述止挡部朝向所述筒体的中心轴弹性变形的弹性变形部；以及柱塞，以沿长度方向可滑动移动的方式容纳在所述筒体的另一端部。
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公开(公告)号：CN113597561A
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202080021355.2
申请日：2020-04-17
申请人： 李诺工业股份有限公司
IPC分类号： G01R1/18
摘要： 本发明公开一种用于测试待测试对象的电特性的测试装置。所述测试装置包括：区块，包括探针孔；多个信号探针，被支撑在探针孔中且被可缩回地配置成连接待测试对象的接触点与用于施加测试信号的信号接触点；同轴缆线，包括绝缘护套、被绝缘护套围绕的主芯体以及自绝缘护套暴露且自主芯体延伸以与信号探针接触的探针接触部分，其中信号探针的轴与同轴缆线的轴间隔开，且探针接触部分包括自绝缘护套暴露且沿着同轴缆线的轴延伸的线性延伸部分以及自线性延伸部分朝向探针的轴延伸的接触部分。
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公开(公告)号：CN109690328B
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN201780052906.X
申请日：2017-08-28
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 申晶澈
摘要： 公开一种测试装置。所述测试装置包括：测试座，被配置成支撑多个探针；测试电路基板，包括用于接触所述探针的接触点；滑动件，使所述测试座耦合至所述测试电路基板及自所述测试电路基板分离；以及滑动件操作器，包括主体及滑动件按压部，所述主体配置在所述测试座上，所述滑动件按压部以能够上下移动的方式支撑于所述主体上且自所述主体朝所述滑动件向下移动以使所述滑动件能够沿所述测试座的表面方向滑动。
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公开(公告)号：CN108780117B
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN201780018232.1
申请日：2017-03-22
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 郑宰欢
摘要： 本发明公开一种测试插座组件，用于电连接测试物体中的待测试的接触点与用于在测试电路中测试的接触点。测试插座组件包含：多个信号探针；插座块体，包含面朝测试电路的底部表面、面朝测试物体的顶部表面、用于在多个信号探针的相对末端自顶部表面及底部表面曝露时容纳多个信号探针以彼此平行的多个探针孔以及自顶部表面及底部表面的排除探针孔的周界区域的至少部分区域凹入的凹入部分；以及弹性接地构件，容纳于凹入部分中且是由导电弹性材料制成以与测试物体及测试电路中的至少一者接触。
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公开(公告)号：CN109983769B
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201780070606.4
申请日：2017-11-23
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 金熙哲
摘要： 公开一种测试装置，其电连接待测物的端子与测试电路的测试端子。测试装置包括信号探针、接地探针、导电块以及绝缘壳体。导电块配置为包括由信号探针穿过而没有电接触的信号探针孔以及由接地探针穿过而电接触的接地探针孔。绝缘壳体配置为容纳导电块并支撑信号探针的相对端。因此，可有效地屏蔽信号探针和信号端子间的噪音。
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公开(公告)号：CN108139429B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201680052420.1
申请日：2016-09-08
申请人： 李诺工业股份有限公司
摘要： 一种高频(RF)用探针插座。所揭示的高频用探针插座包括：导电性的噪声屏蔽本体，以两端部露出的方式彼此平行地收容多个信号用探针而屏蔽噪声；上部噪声阻隔壁及下部噪声阻隔壁，自上述噪声屏蔽本体向上述多个信号用探针所露出的两端部之间的一部分区域延伸；及上部固定构件及下部固定构件，分别配置至上述噪声屏蔽本体的上部及下部，分别支持上述多个信号用探针所露出的两端部，且具有收容上述噪声阻隔壁的收容槽部。藉此，可通过自屏蔽区块延伸的噪声阻隔壁屏蔽，防止通过上部固定构件及下部固定构件的信号用探针引脚之间的串扰。
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