一种X射线荧光粉末压片法分析红土镍矿的方法

    公开(公告)号:CN119064397A

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202411400534.3

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 本发明提供一种X射线荧光粉末压片法分析红土镍矿的方法,包括:S1、对各供应商镍矿检测值统计分析,找出不同供应商及矿山的典型值和代表样;S2、针对步骤S1中挑选出的代表样采用熔片定值法和荧光压片法进行分析,以熔片定值法的结果为标准值,建立荧光压片法的标准曲线;S3、对步骤S2得出的标准曲线进行优化;S4、验证优化后的标准曲线是否准确的分析出红土镍矿内各元素的含量;若是,针对后续红土镍矿的样品,使用荧光压片法对待测样品进行检测。通过荧光粉末压片以及优化后的标准曲线,对供应商的红土镍矿进行检测时,相比于采用熔片定值法,能够大大的降低检测成本,提升经济效益,且能够提高红土镍矿的分析速度。

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