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公开(公告)号：CN114863488A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210646437.7
申请日：2022-06-08
Applicant: 电子科技大学成都学院
IPC: G06V40/10 , G06V10/82 , G06V10/764 , G06N3/04 , G06N3/08
Abstract: 一种基于行人重识别的公共场所多态行人目标识别追踪方法、电子设备及存储介质，属于计算机视觉技术领域。为提供准确的无监督的行人重识别多态检测方法。本发明采用ImageNet网络进行数据的预训练，得到预训练的分类网络模型，通过AdaptiveAvgPool2d自适应池化，进行空间维度的压缩，同时取出对应维度的均值，抑制部分特征的权重，得到输出为Market1501数据集的网络模型，采用梯度下降法对网络模型进行训练，然后输入查询图像，如为重复图像则将重复图像丢弃，如为有效图像则对查询图像进行处理，调用函数计算出每张查询图片和查询库图像的相对权重，并对查询图片进行保存分类。本发明方法准确。
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公开(公告)号：CN113121226B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202110481507.3
申请日：2021-04-30
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: C04B35/495 , C04B35/622 , H01G7/06
Abstract: 本发明属于陶瓷材料技术领域，特别涉及一种光介电铁电陶瓷材料及其制备方法和应用。本发明提供了一种光介电铁电陶瓷材料，所述光介电铁电陶瓷材料的化学通式为(1‑x)(K0.5Na0.5)NbO3‑xA(MyNb1‑y)O3‑δ，x为0.005～0.10，y为0.01～0.5；A为AII族元素中的一种或多种，M为过渡金属元素中的一种或多种。本发明通过过渡金属的引入降低(K0.5Na0.5)NbO3材料的带隙，实现半导化，从而使光介电铁电陶瓷材料具有高的光介电调谐率，使光介电铁电陶瓷材料的介电常数在光激励时产生改变，实现光对光介电铁电陶瓷材料介电性能的非接触式调控。
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公开(公告)号：CN114609554A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210506574.0
申请日：2022-05-11
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种长度伸缩谐振型磁传感器，属于磁传感器技术领域，包括第一引出电极，第二引出电极，以及自下而上依次设置的基座、下磁敏薄膜、下电极层、压电薄膜层、上电极层和上磁敏薄膜；压电薄膜层包括中间镂空的绝缘结构，位于绝缘结构镂空区域的长度伸缩型压电薄膜结构，以及两个用于固定的支撑梁；基座上表面设有空腔，下磁敏薄膜和下电极层位于空腔内部对应压电薄膜结构位置；上电极层与第一引出电极相连，下电极层贯穿绝缘结构与第二引出电极相连。本发明中下磁敏薄膜和上磁敏薄膜均可与待测磁场充分接触，同时利用压电薄膜结构的长度伸缩特性，保证ΔE效应的充分转换，提高磁传感器的相对灵敏度。
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公开(公告)号：CN111798418B
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202010572723.4
申请日：2020-06-22
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06T7/00 , G06K9/62 , G06V10/80 , G06V10/764
Abstract: 本发明公开了一种基于HOG、LBP和GLCM特征融合的吸波涂层散斑缺陷检测方法，收集若干吸波涂层散斑图像样本并对是否存在脱粘缺陷进行标注，对于每幅散斑图像样本分别提取其HOG特征向量并降维，对于每幅散斑图像样本获取对应的LBP图像，然后对LBP图像提取对应的GLCM特征向量，将每幅散斑图像样本降维后的HOG特征向量和GLCM特征向量进行串行特征融合，得到融合特征向量并进行降维，将降维后的融合特征向量及对应标签对分类模型进行训练，在缺陷检测时，从需要进行缺陷检测的吸波涂层散斑图像中提取出降维后的融合特征向量，输入训练好的分类模型得到缺陷检测结果。本发明融合了HOG、LBP和GLCM进行纹理特征提取，对于散斑图像的脱粘缺陷检测可以取得更好的检测效果。
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公开(公告)号：CN110502806B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201910704416.4
申请日：2019-07-31
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明涉及到无线频谱分析领域，具体为一种基于LSTM网络的无线频谱占用度预测方法。本发明将ARIMA模型和Kalman滤波算法结合，以克服ARIMA模型存在的局限性，Kalman滤波算法的初值由ARIMA模型决定,相得益彰。考虑到LSTM神经网络对非线性关系有很强的捕捉能力，本发明将构建ARIMA与Kalman和LSTM组合预测模型，即利用ARIMA与Kalman混合模型提取频段占用度序列数据中存在的线性关系，LSTM对混合模型剩余残差中未提取的非线性部分进行提取，将拟合信息叠加到ARIMA与Kalman混合模型中。所以本发明结合了ARIMA与Kalman与LSTM网络的优点，既可以对平稳序列进行分析，也可以对非平稳序列进行分析，同时还可以很好的提取线性和非线性的信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113671262B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202111238257.7
申请日：2021-10-25
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明提供一种高压环境下的电容容值测量方法，属于电容测量技术领域，先获取待测电容所处高压环境的参数，构建由高压直流偏置单元、高频变压单元和与待测电容并联的放电单元串联成回路的电压电流测量电路；以可调电容器为待测电容接入电压电流测量电路，获取参考工作曲线；接入待测电容后断开放电单元，启动高压直流稳压电源至高电压输出，启动高频变压单元测量原边的电压和电流，关闭高压直流稳压电源和高频变压单元，接通放电单元；根据待测电容对应电压和电流在参考工作曲线中查找可选电容值，作为待测电容在高压环境下的电容值。本发明保证了获取参考工作曲线和测量待测电容时电路的工作状态一致，实现高压环境下高精度的电容容值测量。
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公开(公告)号：CN113671262A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202111238257.7
申请日：2021-10-25
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明提供一种高压环境下的电容容值测量方法，属于电容测量技术领域，先获取待测电容所处高压环境的参数，构建由高压直流偏置单元、高频变压单元和与待测电容并联的放电单元串联成回路的电压电流测量电路；以可调电容器为待测电容接入电压电流测量电路，获取参考工作曲线；接入待测电容后断开放电单元，启动高压直流稳压电源至高电压输出，启动高频变压单元测量原边的电压和电流，关闭高压直流稳压电源和高频变压单元，接通放电单元；根据待测电容对应电压和电流在参考工作曲线中查找可选电容值，作为待测电容在高压环境下的电容值。本发明保证了获取参考工作曲线和测量待测电容时电路的工作状态一致，实现高压环境下高精度的电容容值测量。
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公开(公告)号：CN112949096A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110401851.7
申请日：2021-04-14
Applicant: 杭州电力设备制造有限公司 , 国网浙江杭州市余杭区供电有限公司 , 国网浙江省电力有限公司杭州供电公司 , 杭州凯达电力建设有限公司 , 杭州电子科技大学
IPC: G06F30/20 , G06Q10/04 , G06Q10/00 , G06Q50/06 , G06F111/04
Abstract: 本申请公开了一种工器具柜布局规划的方法，包括：建立工器具柜分布评价模型；对每个布局方案下工器具柜的使用情况进行统计，得到每个布局方案对应的使用数据；利用工器具柜分布评价模型对每个布局方案对应的使用数据进行评价，并依据评价结果选取最优布局方案；根据最优布局方案对工器具柜进行布局规划。本申请通过利用建立的工器具柜分布评价模型对每个布局方案进行评价，并根据最优布局方案对工器具柜进行布局规划，进而提高了工具器柜的使用效率，降低了人力成本，极大地降低了应急电力维修所需的时间，降低了电力安全隐患。本申请同时还提供了一种工器具柜布局规划的系统、设备及可读存储介质，具有上述有益效果。
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公开(公告)号：CN111552341B
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN202010414703.4
申请日：2020-05-15
Applicant: 电子科技大学
IPC: G05F1/56
Abstract: 一种裕度可调的输出电压裕度产生电路，第一缓冲器接入固定基准电压的分压值，输出端通过片内电阻后连接可调基准电压输出端；第二缓冲器接入固定基准电压，输出经过缓冲后的固定基准电压加在片外电阻上产生基准电流，电流镜模块将基准电流镜像到上通路或下通路；控制上、下通路，当上通路打开、下通路关闭时，基准电流流入可调基准电压输出端，使得第一基准电压为第二基准电压加上基准电流在片内电阻上的压降；当上通路关闭、下通路打开时，基准电流从可调基准电压输出端流出，使得第一基准电压为第二基准电压减去基准电流在片内电阻上的压降；当上、下通路都关闭时，第一基准电压为第二基准电压，改变片外电阻的电阻值能够改变输出电压裕度。
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公开(公告)号：CN112904089A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110060080.X
申请日：2021-01-18
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光介电材料的光介电响应测试仪及测试方法，所述测试仪包括计算机和可变波长光源、可多向平移的样品台、遮光板、LCR表，遮光板固定在旋转轴上，旋转轴带动遮光板旋转，遮光板上分布有透光部位与遮光部位，遮光板的透光部位布置有滤光片，样品台平移控制器、遮光板旋转轴控制器、可变波长光源和LCR表统一受计算机控制。本发明不仅能测试单光源下的不同测试频率的光介电响应，还可以测试不同波长以及不同光强下的光介电响应，同时可以利用遮光板实现开关特性的测试，是一套完备的光介电测试系统，它包含了不同光波长，不同光强度，不同信号频率等多种变化因素，节约了测试时间，降低了测试的劳动强度。
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