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公开(公告)号：CN109142272B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201810850002.8
申请日：2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种提高光电传感阵列测量折射率过程中数据处理精度的方法，属于测量与光学领域，其包括如下步骤，S1光电传感阵列器件探测得到光强数据，根据光强数据计算获得临界角对应的像素，S2取临界角对应的像素位置前后m个像素，一共为(2m+1)个像素，采集该(2m+1)个像素对应的反射率，以作为拟合数据，S3采用高斯拟合公式，对步骤S2获取的拟合数据进行高斯拟合，得到高斯拟合函数，S4：对步骤S3获得的高斯拟合函数求导，导函数为0即为高斯拟合峰值处，该峰值处对应为亚像素位置处。本发明方法在光电阵列器件测量折射率的自动化、快速的特点基础上，进一步地提高了折射率测量的精度。
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公开(公告)号：CN108572160B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201710148080.9
申请日：2017-03-14
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种折射率分布测量的折光计，属于测量与光学领域，其包括光源单元、光路调节单元、探测单元以及图像采集及处理单元，其中，光源单元用于产生平行光，光路调节单元用于根据设定的测量范围调节平行光光束大小，还用于调节平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元，探测单元包括棱镜和透镜阵列，透镜阵列贴合设置在棱镜的一个侧面上，其用于接受来自光路调节单元的平行光束，棱镜的底面贴合于待测对象的界面上，图像采集及处理单元用于接收从棱镜的另一个侧面出射的光斑，还用于对光斑进行图像处理，进而获得待测对象的折射率。本发明装置结构简单紧凑，能对折射率分布进行测量，测量精度较高。
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公开(公告)号：CN106815832B
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201611187643.7
申请日：2016-12-20
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种表面贴装技术的钢网图像自动配准方法，属于图像处理与光学测量领域。该发明方法利用图像外接矩形和配准点间的距离不受钢网任意摆放位置和角度的影响的特型，利用设计配准点和设计点阵图和钢网成品图像进行配准，配准时将钢网与设计图像进行仿射变换配准所需要计算的平移、旋转、缩放3个参量的计算转换成了传输特征矩阵的计算，配准后进行配准自动测试，配准失败后进行二次配准。同时本发明还实现了一种表面贴装技术的钢网图像自动配准系统。本发明技术方案不受配准产品的摆放位置和摆放角度的影响，具有配准精确、快速和简单高效的特点，同时有效的提高了配准成功率。
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公开(公告)号：CN106969833B
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201710177442.7
申请日：2017-03-23
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种大视场的紫外光探测系统，属于紫外光探测领域，其包括光学接收单元、光电传感器、电源模块、信号处理模块以及信号分析显示单元，其中，光学接收单元用于接收紫外光，光电传感器用于将光学接收单元接收的紫外光信号转换为电信号，电源模块与光电传感器相连接，以用于产生设定的电压供光电传感器工作，信号处理模块用于将来自光电传感器的电信号进行滤波或/和放大处理，信号分析显示单元用于分析经信号处理模块处理后的电信号，以获得表征紫外光的参数，信号分析显示单元还用显示出紫外光的参数。本发明装置能较好的探测GIS电晕放电。
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公开(公告)号：CN107782642A
公开(公告)日：2018-03-09
申请号：CN201710889301.8
申请日：2017-09-27
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0205
Abstract: 本发明公开了一种多峰值颗粒群粒径分布检测装置，属于光学测量领域，其包括微流控芯片、微流泵、激光器、第一聚焦透镜组、第二聚焦透镜组、圆盘调整架、光电探测器、数字相关器以及计算机，微流控芯片设置在圆盘调整架上，微流控芯片上设置有与微流泵连通的微流道，光电探测器设置在圆盘调整架上或者周边，第一聚焦透镜组用于将激光器的出射光进行准直和聚焦，第二聚焦透镜组用于将从样品池出射的散射光汇聚至光电探测器，数字相关器用于根据离散光子数获得所测角度处的光强自相关函数，计算机用于依据光强自相关函数反演获得样品的粒径。本发明装置易于实现、耗样量低、可实现原位测量以及同时对多个角度的动态散射光进行测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107677573A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201710888708.9
申请日：2017-09-27
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0211
Abstract: 本发明公开了一种多峰值颗粒群粒径分布检测方法，属于光学测量领域，其包括如下步骤：S1采用微流泵产生包含待测颗粒群的流量稳定的流动液体，送入微流控芯片，微流通道作为待测颗粒群的样品池；S2激光器发出的光经第一组聚焦透镜后传输到微流控芯片的样品池，待测颗粒群液体发出散射光；S3散射光经过第二组聚焦透镜聚焦到光电探测器靶面上，光电探测器产生光电流；S4光电流进入数字相关器，获得多个散射角度处的光强自相关函数；S5光强自相关函数被执行数据处理，计算获得待测颗粒群的平均粒径分布函数。本发明方法可实现原位测量以及同时对多个角度的动态散射光进行测量，可获得更准确的多峰值颗粒群粒径分布。
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公开(公告)号：CN102967583B
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201210447155.0
申请日：2012-11-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/43
Abstract: 本发明公开了一种用于测量液相气体折射率的测量仪，包括：点光源照明模块，其产生光束以对待检测液相气体进行检测；探测棱镜，其一棱镜面与所述待测液体表面接触形成反射面，点光源照明模块出射后的光束在该反射面上聚焦形成光斑，并发生全反射和部分反射；反射光接收模块，其用于收集经所述反射面反射的光线，并将收集的光斑图像信息转换成电信号输出；图像分析模块，其对输出的光斑图像信息进行处理，提取出光斑中的明暗界限，进而即可得到待测物的折射率。本发明还公开了一种测量液相气体折射率的方法。本发明的装置和方法可以有效测量液相气体折射率，具有精度高、维护简单、实现容易、抗干扰能力强、受测量环境影响小等优点。
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公开(公告)号：CN202974864U
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201220593874.9
申请日：2012-11-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/43
Abstract: 本实用新型公开了一种用于测量液相气体折射率的测量仪，包括：点光源照明模块，其产生光束以对待检测液相气体进行检测；探测棱镜，其一棱镜面与所述待测液体表面接触形成反射面，点光源照明模块出射后的光束在该反射面上聚焦形成光斑，并发生全反射和部分反射；反射光接收模块，其用于收集经所述反射面反射的光线，并将收集的光斑图像信息转换成电信号输出；图像分析模块，其对输出的光斑图像信息进行处理，提取出光斑中的明暗界限，进而即可得到待测物的折射率。本实用新型的装置可以有效测量液相气体折射率，具有精度高、维护简单、实现容易、抗干扰能力强、受测量环境影响小等优点。
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公开(公告)号：CN203534965U
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201320522682.3
申请日：2013-08-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/43
Abstract: 本实用新型公开了一种折射率测量装置，包括：单色角点光源照明模块，用于产生进行测量的两束光束；参考光路模块，其中一束作为参考光入射到该参考光路模块中，经全反射后出射带有原始光场信息的参考信息光；探测模块，其与待测物接触形成介质面，另一束光束作为探测光入射到探测模块并经介质面反射后出射耦合有待测物质折射率信息的探测信息光；反射光能量收集模块，分别接收参考信息光和探测信息光，并转换为电信号；以及图像处理模块，其对两路图像进行比较，得到相对反射率分布，可提取出待测物质的折射率信息。本实用新型的装置和方法具有测量范围大、可普遍适用于气体、液体以及玻璃材料等物质的折射率测量。
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公开(公告)号：CN202948221U
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201220629576.0
申请日：2012-11-25
Applicant: 华中科技大学
IPC: G02F1/03
Abstract: 本实用新型公开了一种高速快门装置，包括：起偏器，用于将入射的探测光转化为线偏振光；检偏器，其沿光轴设置在所述起偏器后方，其用于通过与其偏振方向一致的线偏振光；电光晶体，其沿光轴设置在所述起偏器和检偏器之间，经所述起偏器转化的线偏振光入射到该电光晶体，通过在其两端加载电压和/或改变加载电压大小，从而改变线偏振光的偏振态，使其可从所述检偏器通过或被阻隔，完成对探测光的选择性接收或阻隔，实现成像。本实用新型的装置能够将成像快门的开关时间控制在纳秒级以内，并且体积可控，从而更好的实现距离选通主动成像，提升大气或水体中成像的分辨率。
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