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公开(公告)号：CN101529274B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200780039419.6
申请日：2007-10-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及用于探测X射线光子，尤其是计算机断层摄影设备中的光子(32、34)的装置(10)、成像设备和方法。将光子(32、34)转换成电脉冲，并采用鉴别器(20)将其与阈值进行比较。执行这些功能的电网络(12)包括开关元件(28)，所述开关元件能够改变处理信号沿其传输的电路径(22)。由电路径(22)的电状态导出用于起动开关元件(28)的触发信号(VT)。如果探测到了与光子(32、34)相关的脉冲，那么将起动开关元件(28)，从而避免源自于第一光子(32)的电荷脉冲的处理受到后续的第二光子(34)的影响。
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公开(公告)号：CN102124372A
公开(公告)日：2011-07-13
申请号：CN200880108832.8
申请日：2008-09-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/16
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18)，所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24)，其中，所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16)，使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理，并且其中，所述处理电子器件(18)包括处理器(34)，所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32)，并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K)，从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。
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公开(公告)号：CN102066976A
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN200980122524.5
申请日：2009-06-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
CPC classification number: G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(10)，包括像素(1)的阵列，其中，每个像素(1)包括用于将入射辐射转换成电信号的半导体材料(4)的转换层，并且其中，每个像素(10)被至少部分填充有阻隔材料的沟槽(3)围绕，所述阻隔材料吸收所述入射辐射生成的光子的至少一部分。本发明还涉及一种制造这种辐射探测器(10)的方法。
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公开(公告)号：CN101858983A
公开(公告)日：2010-10-13
申请号：CN201010156435.7
申请日：2010-04-06
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/241
Abstract: 本发明涉及包括转换器元件(530)和布置于所述元件上的多个电极系统(ES)的辐射探测器(500)，其中，每个电极系统包括连接到读出电路的主电极(511)和辅助电极(521)。特别地，通过在公共平面中延伸的平坦、平行条状物实现所述主电极和辅助电极，其中，所述条状物在所述平面之上电连接。
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公开(公告)号：CN101622551A
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：CN200880006243.9
申请日：2008-02-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/17 , G01T1/2985
Abstract: 本发明涉及对X射线光子(12、14)，特别是计算机断层成像中的光子进行计数的装置(10)。将来自第一光子感应元件(20)的事件记录在第一积分器(24)中，并将来自第二光子感应元件(22)的事件记录在第二积分器(26)中。提供第一求和单元(28)，用于对来自第一和第二积分器(24、26)的值以及结果信号进行求和，以获得总和，其中从设有总和的反馈设备(30)中获得所述结果信号。有可能降低撞击光子(12、14)生成的总信息密度，使得在输出端(34)呈现具有降低信息密度(或降低数据速率)的数据流。本发明还涉及基于对X射线光子(12、14)进行探测的、特别是用于医疗用途的成像设备(16)，以及涉及对X射线光子(12、14)，特别是计算机断层成像中的光子进行计数的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101518056A
公开(公告)日：2009-08-26
申请号：CN200780035472.9
申请日：2007-09-17
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: H04N5/35518 , H04N5/32 , H04N5/3597 , H04N5/361
Abstract: 本申请描述了一种X射线检测器，其使用与CMOS像素电路结合的直接X射线转换(DiCo)。DiCo材料必须在高电压下使用以实现高场强。这使得传感器易于产生泄漏电流，其伪造所测量的充电结果。此外，大部分直接转换材料遭受引起X射线图像序列中的时间伪差(鬼像)的大量残差信号。描述了一种电路，其感测传感器的暗电流，该暗电流包括源自传感器被X射线(再次)照射之前的先前照射的残差信号，并且以在照射期间仍然可以消耗暗电流(泄漏电流和残差信号)的方式冻结感测阶段末期的相关电路参数。因此，可以在不具有泄漏电流或残差信号所携带的电荷的情况下对由于X射线照射而在传感器中产生的电荷脉冲进行积分，从而获得对所沉积的X射线能量的更准确估计。
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公开(公告)号：CN101031879A
公开(公告)日：2007-09-05
申请号：CN200580033075.9
申请日：2005-09-21
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： C·赫尔曼
CPC classification number: G06F8/61 , G06F9/44505 , G06F11/1433
Abstract: 本发明提供了一种可以容易地并且用户适应地在计算机上安装软件程序的方法和系统，其提出了将配置文件和/或增补文件的变化存储(24)在预定文件夹内。将这些配置和/或增补文件用于执行该软件程序。另外，还将软件程序的这些配置和/或增补文件存储到安装媒质上(30)。本发明提供了一种用于在新计算机上重新安装软件程序的简单解决方案。尤其是这种解决方案与旧计算机的状态无关，原因在于该安装媒质上还存在当前配置和/或增补文件。在系统崩溃的情况下，用户能够使用包含当前配置和/或增补文件的安装媒质。所以，用户系统地保存了其软件程序的单独设定。
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公开(公告)号：CN1836401A
公开(公告)日：2006-09-20
申请号：CN200480023388.1
申请日：2004-08-04
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： C·赫尔曼
IPC: H04L12/18
CPC classification number: H04W4/06 , H04L1/1607 , H04L1/1692 , H04L1/1887 , H04L1/1896 , H04L12/1868 , H04L12/189 , H04L2001/0093 , H04W52/36 , H04W52/48 , H04W76/40
Abstract: 组播方式的数据传输，其中重发是通过接收者向一个发送者发送反馈来请求的。接收站收到关于另一个接收站的反馈的通知。这是通过反射接收站到其它接收站的反馈实现的。由此，在例如反射反馈之一是否定应答消息的情况下，其它的接收站收到了不再需要提供它们的反馈的通知，因为重发不管怎样都会启动。有益地，这可以使得反馈方向上的干扰降低。
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公开(公告)号：CN102667526B
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201080058842.2
申请日：2010-12-07
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/243 , G01T1/247 , G01T7/005 , H01J49/0009 , H04N5/32 , H04N5/378 , H04N17/002
Abstract: 一种辐射探测器组件（20）包括被配置成将辐射粒子转换成电探测脉冲的探测器阵列模块（40）以及与所述探测器阵列操作性连接的专用集成电路（42）。所述ASIC包括被配置成使从探测器阵列模块接收的电探测脉冲数字化的信号处理电路（60）和被配置成向所述信号处理电路注入测试电脉冲的测试电路（80）。所述测试电路包括被配置成测量注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电流计（84）以及被配置成生成注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电荷脉冲发生器（82）。通过使所述ASIC（42）与所述探测器阵列模块（40）操作性连接组装所述辐射探测器组件（20），并且在不利用辐射的情况下测试组装后的辐射探测器组件的ASIC的信号处理电路（60）。
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公开(公告)号：CN103314307A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201180064645.6
申请日：2011-12-27
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于探测辐射源（2）发射的光子的探测装置（6）。信号发生单元（20）在光子撞击探测装置（6）的同时生成指示探测到的光子的能量的探测信号，在光子被避免撞击探测装置（6）的同时生成基线信号，所述基线信号受到先前撞击探测装置（6）的光子的影响。基线偏移确定单元（40）根据所述基线信号来确定探测信号的基线偏移。能量确定单元（30）根据所述探测信号和所确定的基线偏移来确定所探测的光子的能量。由于探测信号的基线偏移是由在光子被避免撞击检测装置（6）的同时生成的基线信号确定的，因而能够以更高的准确度确定基线偏移，从而得到改善的能量确定。
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