一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构

    公开(公告)号:CN107305852A

    公开(公告)日:2017-10-31

    申请号:CN201610262775.5

    申请日:2016-04-25

    CPC classification number: H01L22/32

    Abstract: 本发明提供了一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,包括上端盖、下端盖和发射极金属电极;上端盖和下端盖均为凹形盖,上端盖和下端盖的两侧壁通过外框架弹簧连接形成一个长方体框架;发射极金属电极设置在长方体框架内,其包括圆盘形金属电极,及相对该圆盘形金属电极的中心轴对称分布的多个凸台,凸台上放置IGBT模块;圆盘形金属电极布置在下端盖上,其上面和侧面分别设置有一个栅极PCB板和一个辅助栅极/发射极端子。与现有技术相比,本发明提供的一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,可以在主回路参数一致的条件下,测量多个并联的IGBT芯片的开关波形,从而综合评价芯片的动静态参数是否一致。

    一种大功率压接型IGBT模块
    62.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104362141B

    公开(公告)日:2017-06-23

    申请号:CN201410693404.3

    申请日:2014-11-26

    Abstract: 本发明涉及一种大功率压接型IGBT模块,模块由子单元壳体(1)和子单元壳盖组件(2)组成气密性封装壳体。至少一个半导体芯片(1‑1)与第一辅助件(1‑6)、至少一个第二辅助件(1‑2)、至少一个第三辅助件(1‑3)形成的夹层结构布置在子单元壳体(1)与子单元壳盖组件(2)之间的气密性壳体内。不少于一个的上述子单元平行排布在模块外壳(3)中形成大功率IGBT模块。本发明涉及的IGBT模块具有低热阻,高可靠性及适于串联使用的优点。

    一种压接式功率器件热阻测试检测装置

    公开(公告)号:CN105548249A

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201610013950.7

    申请日:2016-01-11

    CPC classification number: G01N25/20

    Abstract: 本发明提供一种压接式功率器件热阻测试检测装置,所述热阻测试装置包括:由水平方向的构件设置于竖直方向的立柱(21)组成的框架,所述立柱设有高度调节件和限位件。本热阻测试装置采用液压泵施加压力,相比传统的旋转螺杆施加压力可调范围大、精度高、均匀性好,具有较好的可移植性,可以同时满足传统热电偶测试法和瞬态热界面法,而且可以同时实现压接式功率器件单面和双面散热时热阻测试,非常适用于压接式功率器件的热阻测试。

    一种电流互感器极性测试装置

    公开(公告)号:CN207623447U

    公开(公告)日:2018-07-17

    申请号:CN201721744068.6

    申请日:2017-12-14

    Abstract: 本实用新型涉及一种电流互感器极性测试装置,属于电力系统测试设备技术领域。一种电流互感器极性测试装置,包括用于产生脉冲信号的单片机控制系统、功率放大器以及万用表;单片机控制系统的输出端与功率放大器的输入端连接,功率放大器的输出端连接到电流互感器穿过的一次设备的导线两端,万用表连接电流互感器的二次出线两端。本实用新型使用单片机控制系统或干电池控制电路自动产生脉冲信号使电流互感器产生感应电流,通过万用表的指针偏向判断电流互感器的极性,该装置操作简单,自动化程度高;能够保证测试的准确性,使用该装置能够大幅降低工作人员的劳动强度,测试时间也相应降低,测试效率提高,该装置测试准确率能够达到100%。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种大功率压接型IGBT模块
    67.
    实用新型

    公开(公告)号:CN204230238U

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201420721791.2

    申请日:2014-11-26

    Abstract: 本实用新型涉及一种大功率压接型IGBT模块,模块由子单元壳体(1)和子单元壳盖组件(2)组成气密性封装壳体。至少一个半导体芯片(1-1)与第一辅助件(1-6)、至少一个第二辅助件(1-2)、至少一个第三辅助件(1-3)形成的夹层结构布置在子单元壳体(1)与子单元壳盖组件(2)之间的气密性壳体内。不少于一个的上述子单元平行排布在模块外壳(3)中形成大功率IGBT模块。本实用新型涉及的IGBT模块具有低热阻,高可靠性及适于串联使用的优点。

    基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构

    公开(公告)号:CN206148403U

    公开(公告)日:2017-05-03

    申请号:CN201620356492.2

    申请日:2016-04-25

    Abstract: 本实用新型提供了一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,包括上端盖、下端盖和发射极金属电极;上端盖和下端盖均为凹形盖,上端盖和下端盖的两侧壁通过外框架弹簧连接形成一个长方体框架;发射极金属电极设置在长方体框架内,其包括圆盘形金属电极,及相对该圆盘形金属电极的中心轴对称分布的多个凸台,凸台上放置IGBT模块;圆盘形金属电极布置在下端盖上,其上面和侧面分别设置有一个栅极PCB板和一个辅助栅极/发射极端子。与现有技术相比,本实用新型提供的一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,可以在主回路参数一致的条件下,测量多个并联的IGBT芯片的开关波形,从而综合评价芯片的动静态参数是否一致。

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