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公开(公告)号：CN112506577A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202110159693.9
申请日：2021-02-05
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
IPC: G06F9/4401 , H04W52/02
Abstract: 本申请公开了一种唤醒系统、近场通信装置及唤醒方法。该唤醒系统包括：接收电路，适于获得天线感应信号；检测电路，适于根据天线感应信号的幅值和载波频率提供唤醒信号，其中，在低功耗模式下，当天线感应信号的幅值大于/等于阈值且载波频率与预定频率一致时，唤醒信号处于有效状态，以便受控于唤醒信号的后级负载电路由低功耗模式切换至工作模式。该唤醒系统有效降低了后级负载电路被误唤醒的概率，保证了唤醒可靠性。
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公开(公告)号：CN112448709A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202110133121.3
申请日：2021-02-01
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
IPC: H03K19/00 , H03K19/003 , H03K19/0175
Abstract: 本发明提出一种SWP主接口电路及终端，其中，电路包括：SWP主接口；电压脉冲发射单元，用于根据初始数字调制信号产生两路不同沿的第一数字调制信号及第二数字调制信号，并基于第一数字调制信号及第二数字调制信号，分别控制SWP主接口向SWP从接口发送电压脉冲调制信号；电流接收单元，电流接收单元分别与SWP主接口及电压脉冲发射单元相连，用于在SWP主接口发送电压脉冲调制信号时，基于电流阈值从SWP主接口接收SWP从接口发送的电流调制信号。该电路可以产生两路不同沿的第一数字调制信号及第二数字调制信号，并通过该两路信号控制电压脉冲调制信号的发射，有利于减少大量干扰信号、减少电路发射时的功耗。
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公开(公告)号：CN112327145A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202110000872.8
申请日：2021-01-04
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种通过IO引脚测量芯片的测量电路，通过分压控制电路对芯片处于高压的工作电压进行分压至预设电压，预设电压处于电源电压端的电压域。而后预设电压能够通过开关电路和限流电路后传输至IO引脚，而后通过IO引脚即能够对该预设电压进行测量，以达到对芯片的工作电压进行测量的目的，进而在不增加封装引脚数量的基础上，能够在封装后通过IO引脚对芯片进行模拟量的测量。同时，由于工作电压转换为处于电源电压端的电压域的预设电压，因而无需对IO引脚所在IO电路设置高压器件，保证了IO引脚的传输速度高。
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公开(公告)号：CN112200949A
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN202011391713.7
申请日：2020-12-02
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
Abstract: 本申请提供了一种门禁启动方法、装置以及身份验证系统。用户的电子设备可以基于服务器发送的私钥生成二维码，在用户到达门禁设备时，通过电子设备出示二维码即可通过门禁，无需用户本人到相应部门登记并领取卡牌。由于私钥是服务器生成并发送给电子设备的，其他设备即使得到用户身份信息，也无法基于用户身份信息推算得到私钥，若其他设备可以基于“伪”私钥生成签名信息，门禁设备可以基于其他设备生成的二维码得到上述用户验证信息和签名信息，由于签名信息是基于“伪”私钥生成的，所以无法启动门禁。所以本申请实施例提供的门禁启动方法，安全性较高。
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公开(公告)号：CN120018108A
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202510202325.6
申请日：2025-02-24
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
IPC: H04W8/24 , H04W8/20 , H04W12/069 , H04W12/30 , H04L67/06
Abstract: 本公开实施例涉及一种Profile信息管理方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：从嵌入式用户身份识别卡eSIM获取LPA证书，所述LPA证书携带所述电子设备的设备信息；基于所述LPA证书向目标运营商发起Profile下载请求，其中，所述目标运营商响应于所述Profile下载请求，对所述LPA证书进行验证通过后生成与所述设备信息对应的Profile下载地址并返回给所述LPA；响应于接收到所述Profile下载地址，基于所述Profile下载地址向所述目标运营商的下载服务器请求下载Profile。采用上述技术方案，保证了请求Profile的电子设备是可信的，使得只有提供合法的LPA证书的电子设备才能获得对应的Profile下载地址，实现了Profile下载地址的定向传输，方便了运营商对Profile信息的管理。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119960948A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510203744.1
申请日：2025-02-24
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Abstract: 本申请涉及SE和eSIM技术领域，尤其提供一种算法调用方法、装置、设备、系统和存储介质，该方法应用于第一设备，第一设备包括安全单元、嵌入式用户识别模块、接口模块、第一算法库和第二算法库，方法由接口模块执行，方法包括：响应于接收到接口调用请求，获取接口调用请求中携带的计算参数，接口调用请求由安全单元发送，或者，接口调用请求由嵌入式用户识别模块发送；基于接口调用请求中携带的计算参数创建第一计算任务；基于第一算法库所需使用的算法资源的状态，从第一算法库或者第二算法库中选取第一算法；调用第一算法执行第一计算任务。利用第一算法库与第二算法库结合，并根据算法资源的状态，进行动态调用，提高算法模块的扩展性。
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公开(公告)号：CN119945490A
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202510440544.8
申请日：2025-04-09
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Abstract: 本公开涉及近场通信技术领域，公开了一种近场通信系统和电子设备，近场通信系统包括近场通信控制芯片、第一低通滤波器、第一阻抗匹配电路、第二阻抗匹配电路、第一天线和第二天线；第一天线为近场通信天线，第二天线为近场通信天线或高频通信天线中的任一者；第一阻抗匹配电路连接于第一低通滤波器的两个输出端和第一天线之间，第二阻抗匹配电路连接于第一低通滤波器的一个输出端和第二天线之间；第二天线为近场通信天线时，第二阻抗匹配电路和第二天线连接；第二天线为高频通信天线时，第二阻抗匹配电路和第二天线之间还包括隔离电路。电子设备包括上述近场通信系统。本公开可以提高电子设备的通信范围，提升用户体验。
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公开(公告)号：CN119808808A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411736549.7
申请日：2024-11-29
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Abstract: 本申请提供一种用于条码识读设备的感应控制方法、装置、设备和介质，该方法包括：在检测到条码识读设备进入感应状态时，获取摄像头拍摄的第一图像；判断第一图像的亮度值是否在第一预设范围内；如果第一图像的亮度值未在第一预设范围内，则按照第一图像的亮度值调整摄像头的拍摄参数，得到调整后的拍摄参数，以使摄像头按照调整后的拍摄参数进行拍摄，得到新的第一图像，并返回执行获取摄像头拍摄的第一图像的步骤；直到第一图像的亮度值在第一预设范围内，则获取摄像头拍摄的第二图像，并基于第二图像确定条码识读设备是否退出感应状态。以提高条码识读设备对环境的适应性，进而提高扫码体验。
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公开(公告)号：CN119780678A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411962351.0
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及芯片技术领域，公开一种用于合封芯片的参数修调方法、装置和合封芯片。其中，参数修调方法，应用于合封芯片中的主芯片，包括：获得待修调参数和待修调参数对应的目标修调值；控制主芯片按照预设档位运行，并对主芯片进行采样，获得待修调参数对应的待修调模拟值；其中，预设档位预先保存于主芯片和/或从芯片内，不同预设档位对应有不同的待修调参数输出值；将待修调模拟值与目标修调值进行比较，确定出目标档位；控制主芯片按照目标档位运行，以完成主芯片的参数修调。本申请能够提升多die合封芯片的Trim修调效率。
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公开(公告)号：CN119758033A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411886676.5
申请日：2024-12-20
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
IPC: G01R31/28 , G01R19/165 , G01R27/02 , G01R1/30 , G01R1/36
Abstract: 本申请涉及芯片设计技术领域，公开一种芯片边缘完整性检测电路和芯片，其中，芯片边缘完整性检测电路包括：金属环路、检测电路和保护电路；金属环路设置于芯片四周；检测电路与金属环路连接，被配置为检测金属环路的阻抗变化，以确定芯片边缘的完整性；保护电路与金属环路、检测电路均连接，被配置为对电路进行保护。本申请中，检测电路提供了一种客观的损伤评估方法，通过设置检测电路的参数，能够对金属环路的阻抗变化进行定量分析，从而定量分析芯片的损伤程度，进而提高对芯片的损伤程度的判断的准确性，减少因芯片轻微损伤而判定整个芯片损毁的情况，提高芯片良率。
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