-
公开(公告)号：CN110637377A
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201880032667.6
申请日：2018-03-26
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 米特克·巴科夫斯基·霍尔特里德 , 马茨·丹尼尔松 , 许成
IPC: H01L31/115 , H01L27/146 , H01L29/06
Abstract: 提供了一种X射线传感器(21)，具有有源检测器区域，该有源检测器区域包括在传感器的第一侧的多个检测器二极管(22)，并且结终端(23)布置在传感器的第二对侧。通常，这意味着结终端(23)从有源检测器区域所在的顶侧移动到传感器的底侧，允许利用检测器二极管到传感器的最边缘来充分利用顶侧处的有源检测器区域。
-
公开(公告)号：CN110494769A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201880023539.5
申请日：2018-03-26
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/24 , A61B6/03 , G01N23/04 , G01N23/083 , G01T1/36
Abstract: 提供了一种光子计数x射线探测器系统(200)，包括多个光子计数通道(220)和至少一个反重合电路(230)，每个反重合电路连接这些通道中的至少两个通道并且被配置为探测所连接的通道中的重合事件。x射线探测器系统(200)还包括反重合控制器(240)，该反重合控制器被配置为基于光子计数信息随着从阈值计数率开始渐增的计数率通过逐渐适应所述至少一个反重合电路的操作来控制所述至少一个反重合电路的操作。
-
公开(公告)号：CN110392847A
公开(公告)日：2019-10-29
申请号：CN201880016660.5
申请日：2018-02-05
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/24 , A61B6/03 , G01N23/04 , G01N23/046 , G01N23/083
Abstract: 本发明提供了一种用于确定在光子计数X射线探测器的单个探测器二极管(22)中的光子交互作用的位置的方法和装置，其特征在于，基于由所述单个探测器二极管响应于所述光子交互作用而生成的脉冲的脉冲特性而确定在所述探测器二极管(22)中的光子交互作用的位置。
-
公开(公告)号：CN110023997A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201680091320.X
申请日：2016-12-16
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 弗雷德里克·格伦贝格
Abstract: 提供一种用于基于针对至少两种不同的有效能量而获得的光谱图像数据来重构图像的方法及相应装置。该方法包括：获得与待成像对象相关的第一组光谱图像数据和与包括至少一种参考物质的校准体模相关的第二组光谱图像数据(S1)；基于第一组光谱图像数据执行基础分解，以根据相关联的基础函数提供待成像对象的估计的基础图像(S2)；基于第二组光谱图像数据执行基础分解，以提供与所述至少一种参考物质相应的参考基系数的校准估计(S3)；并且基于待仿真的成像系统的系统模型、已估计的基础图像及其相关联的基础函数、以及参考基系数的校准估计，来确定表示待成像对象的图像值(S4)。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108780158A
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201680055420.7
申请日：2016-09-05
Applicant: 棱镜传感器公司
Abstract: 本发明提供了用于模块化的X射线检测器的检测器模块（1），其中，所述检测器模块（1）包括多个X射线检测器基板（10）和相关联的防散射准直器（20）。每个X射线检测器基板（10）具有多个检测器二极管，每个X射线检测器基板具有相关联的防散射准直器（20）。每个X射线检测器基板（10）具有集成电路（30），用于从所述二极管采集X射线信号；所述集成电路是在X射线检测器基板底部附接到所述X射线检测器基板，假设X射线检测器基板的顶部是X射线进入的地方，所述相关联的防散射准直器（20）是被设置在集成电路（30）的上方。
-
公开(公告)号：CN108369284A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201580084449.3
申请日：2015-11-12
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马丁·斯约林
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/4208 , A61B6/54 , G01T1/2985
Abstract: 本发明公开了一种由计算机断层摄影(CT)系统10执行的测量方法。所述CT系统10包括X射线源和光子计数边缘上检测器的X射线探测器阵列，其中，每个边缘上检测器具有多个深度段，也称为检测器元件15，其被设置在入射的X射线方向的不同空间位置。所述方法包括应用时间偏移测量方案，所述时间偏移测量方案对于定位在不同深度的至少两个不同检测器元件15而提供在测量周期之间的时间偏移；所述时间偏移是被选择为使得至少两个测量周期在时间上至少部分地重叠。本发明还公开了相应的CT系统10、用于CT系统的控制单元20和用于CT系统10的测量电路30。本发明也公开了控制CT系统的计算机程序。所公开的技术提供了在角方向上的更高的采样频率。
-
公开(公告)号：CN107710020A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201580081248.8
申请日：2015-10-08
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马特斯·丹尼尔松 , 大卫·迈克尔·霍夫曼
Abstract: 本发明提供了在多级光子计数X射线探测器(102、103)中估计和/或补偿目标散射和/或内部散射的方法和装置，以及用于目标的X射线断层成像同时校正目标散射和/或内部散射的方法和装置。该X射线探测器具有安装在几何形的边缘上的至少两层探测器二极管，例如被设计用于：1)在目标散射具有缓慢变化的空间分布的假设下，基于在顶层和底层之间计数的差异来估计对所述至少两层的顶层中的计数的目标散射贡献；和/或2)基于通过将高衰光束截止置停留于探测器元件的顶部而选择性地遮蔽来自首次辐射的一些探测器元件来在底层中或在顶层和底层中估计具有在所述探测器内部的康普顿散射的光子的再吸收的计数，以及测量在那些探测器元件中的计数。
-
公开(公告)号：CN107430778A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201580077923.X
申请日：2015-03-18
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 弗雷德里克·格洛伯格 , 马特斯·佩尔松 , 汉斯·波拿佛克
IPC: G06T11/00 , G01N23/04 , G01N23/087 , A61B6/03
CPC classification number: G06T11/003 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/463 , A61B6/482 , A61B6/5205 , A61B6/5241 , G01N23/046 , G06T11/005 , G06T2210/41 , G06T2211/408
Abstract: 本发明提供了一种基于来自光子计数多仓检测器或中间存储器的能量分辨图像数据的图像重建的方法。该方法包括：通过采用不同数量的用于线性衰减建模的基础函数进行至少两种独立的基础分解来处理(S1)能量分辨图像数据；其中，第一个基础分解是采用第一组较小的基础函数进行的，以获得至少一个第一基础图像表现；以及第二个基础分解是采用第二组较大的基础函数进行的，以获得至少一个第二基础图像表现。该方法还包括：基于从所述第一个基础分解获得的所述至少一个第一基础图像表现来重建第一图像；以及合并所述第一图像与所述至少一个第二基础图像表现的信息代表。
-
公开(公告)号：CN106233335A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201480077832.1
申请日：2014-04-07
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马特斯·佩尔松
IPC: G06T11/00 , G01N23/04 , G01N23/087 , A61B6/03
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/482 , A61B6/52 , A61B6/5205 , A61B6/5258 , G01N23/04 , G01N23/087 , G06T7/0012 , G06T11/005 , G06T2207/10081 , G06T2207/30004 , G06T2211/408
Abstract: 本发明提供了一种用于处理以至少两个能量水平获得的放射照相图像的方法。第一个步骤(S1)涉及例如从检测器或者从中间存储器提供具有至少两个能量水平的放射照相图像的能量分辨的图像数据表示。第二个步骤(S2)涉及基于模型将所提供的图像数据分解为至少一个基础图像表示，在该模型中，至少两个基础函数的组合被用于表达至少一个线性衰减系数的表示，其中至少一个基础函数用于模拟物理材料，以及至少一个其它基础函数用于模拟非线性部分容积(NLPV)效应。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
69
records
(took 0.08 seconds)
