用于距离测量的耦合多波长共聚焦系统

    公开(公告)号:CN103620340A

    公开(公告)日:2014-03-05

    申请号:CN201280028199.8

    申请日:2012-05-31

    Inventor: O·埃亚尔

    CPC classification number: G01B11/14 G01B2210/50 G02B21/0064

    Abstract: 一种用于测量到基板的距离的系统,其包括第一光源,所述第一光源通过透镜发射第一波长在所述基板的区域上。第二光源通过透镜发射第二波长在所述基板的区域上。第一和第二检测器配置为检测从所述基板反射回的第一和第二波长光。处理器被配置为计算第一响应函数,其中所述第一响应函数将从所述第一光源发射的反射光强度表示为成像设备和所述基板之间的距离的函数。第二响应函数将从所述第二光源发射的反射光强度表示为所述成像设备和所述基板之间的距离的函数。比率响应函数将所述第一响应函数和所述第二响应函数的比率表示为所述成像设备和所述基板之间的距离的函数。

    多色打印头维护站
    55.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102046386B

    公开(公告)日:2013-08-21

    申请号:CN200980119855.3

    申请日:2009-05-26

    Inventor: O·奥德

    CPC classification number: B41J2/16588 B41J2/16547

    Abstract: 提供了一种用于喷墨打印头的维护站设备。所述打印头包括并排设置在一行并且相对于打印介质运动的方向倾斜的多个喷射模块,该多个喷射模块中的每个都包括喷嘴面,每个喷嘴面都包括被构造成喷射第一液体的第一喷嘴阵列和被构造成喷射第二液体的第二喷嘴阵列。所述维护站设备包括擦拭单元,以及包括与所述多个喷射模块相对应的多个盖帽对的盖帽单元,其中,所述擦拭单元包括第一擦拭器、第二擦拭器、和擦拭器移动机构,所述第一擦拭器与每个喷射模块的第一喷嘴阵列相关联,所述第二擦拭器与每个喷射模块的第二喷嘴阵列相关联,每个盖帽对中的一个盖帽与相对应的喷射模块的第一喷嘴阵列相关联,所述盖帽对中的另一个盖帽与相对应的喷射模块的第二喷嘴阵列相关联。

    用于沉积的输送装置
    59.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101809192B

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN200880109091.5

    申请日:2008-09-24

    Abstract: 用于薄膜材料沉积的输送装置至少具有分别接收第一、第二和第三气态材料的公共供给源的第一、第二和第三进入口。该第一、第二和第三伸长输出通道中的每一个允许与相应的第一、第二和第三入口之一气体连通。该输送装置可以由孔板形成,所述孔板叠置而界定将供应室和导向通道互连的网络,以便将气态材料中的每一种从其相应的入口传递到相应的多个伸长输出通道。该输送装置包括由护面板之间的浮雕图案形成的扩散通道。还公开了薄膜沉积的方法。最后,一般地说,公开了流动扩散器和相应的流动扩散方法。

    物体的距离和取向测量
    60.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101981468B

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN200980111359.3

    申请日:2009-03-17

    Abstract: 一种测量物体(256)和光源(230)之间的距离并且感测所述物体的取向的方法,所述方法包括:将来自多个光源(230、240或810)的光施加在所述物体上;检测来自物体的反射能量(270)水平;测量来自所述物体的所述反射能量水平;计算距离校准函数;确定在所述距离校准函数内由最小值(302)和最大值(304)指示的至少一个测量范围(301);计算指示在调制函数的周期内在预定时隙处采样的能量水平关系的角度校准函数;以及用所述调制函数(435、445)调制所述多个光源中的每一个,使得在所述光发射的时间期间从所述多个光源施加在所述物体上的总能量由光发射预定函数表示。

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