磁头滑块的制造方法
    51.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101425295B

    公开(公告)日:2012-10-31

    申请号:CN200710170008.2

    申请日:2007-11-02

    Abstract: 本发明提供一种可以制造出高品质磁头滑块的方法,根据该制造方法可以精确地调整写入元件及读取元件的长度。本发明提供的磁头滑块的制造方法,包括有:在基体上层叠形成具有读取元件及写入元件之磁头的积层形成工序、切出由多个具有所述磁头的磁头滑块相连接而成的长形条块并对飞行面进行研磨从而露出所述读取元件及写入元件的研磨工序、以及,从所述长形条块中切割出一个个磁头滑块的滑块切割工序;其中,所述积层形成工序包括在设有所述读取元件的相同层上形成根据被研磨程度而改变其输出值的读取元件用研磨量检测传感器的环节,同时还包括在设有所述写入元件的相同层上形成根据研磨而改变其输出值的写入元件用研磨量检测传感器的环节,而所述研磨工序则根据所述读取元件用研磨量检测传感器及写入元件用研磨量检测传感器的各个输出值进行研磨。

    磁头滑块的制造方法
    52.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101465125A

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN200710305024.8

    申请日:2007-12-18

    Abstract: 本发明提供一种在制造高可靠性磁头滑块的同时,还能够简化该磁头滑块的制造工序、并能缩短制造时间及制造成本的磁头滑块的制造方法。本发明所涉及的磁头滑块的制造方法,是包括层积形成具有读取元件及/或写入元件、以及对该读取元件及/或写入元件进行磁性屏蔽的磁性屏蔽层的磁头部之层积形成工序,并从层积形成有磁头部的层积体中切割出磁头滑块的一种方法,该方法还包括:在层积形成工序结束后进行的屏蔽层端部除去工序,以此除去位于磁头滑块飞行面侧的磁性屏蔽层之宽度方向的端部。

    磁头滑块的检查方法以及检查装置

    公开(公告)号:CN101202051A

    公开(公告)日:2008-06-18

    申请号:CN200710199584.X

    申请日:2007-12-12

    CPC classification number: G11B5/102 G01N21/95 G11B5/3166 G11B5/3173 G11B5/3189

    Abstract: 本发明提供一种既能抑制对磁头滑块的影响,又能高效率地进行磁头滑块外观检查的方法。一种磁头滑块的检查方法,是在多个矩形形状的磁头滑块沿长形条的长度方向排列成一列的状态下检查磁头滑块的方法。该方法包括:支撑长形条的支撑步骤,从而在分别以长形条长度方向两侧的端面以外的磁头滑块四个面为起点向外侧延伸的四个法线矢量中,使从第一面延伸的第一法线矢量和从与第一面相邻的第二面延伸的第二法线矢量同时具有铅直方向上的分量;检查步骤,从而对被支撑的所述长形条中的磁头滑块,用第一检查单元光学地检查其所述第一面,同时用第二检查单元光学地检查其所述第二面。另外,本发明还提供一种磁头滑块的检查装置。

    磁头滑块的检查方法及检查装置

    公开(公告)号:CN101101757A

    公开(公告)日:2008-01-09

    申请号:CN200710126487.8

    申请日:2007-06-19

    Inventor: 藤井隆司

    CPC classification number: G01N21/9515 G01N21/13 G01N21/95692

    Abstract: 本发明提供的磁头滑块检查方法是一种大致呈长方体形状的磁头滑块的检查方法,其包括如下步骤:将媒体相对面或成为媒体相对面的表面的第一表面之外的表面作为下表面而支撑所述磁头滑块,同时,将磁头滑块向上方移动,并停止在检查位置上的移动步骤(S2、S3);利用预先将光轴对准检查位置而设置的第一相机检查第一表面的同时,利用预先将光轴对准检查位置而设置的第二相机检查不同于第一表面也不同于下表面的所述磁头滑块的第二表面的检查步骤(S4)。通过本发明可以抑制对磁头滑块的影响的同时有效地进行磁头滑块的外观检查。

    用于形成磁头的长形条及晶圆

    公开(公告)号:CN205845513U

    公开(公告)日:2016-12-28

    申请号:CN201620766708.2

    申请日:2016-07-19

    CPC classification number: G11B5/3103 G11B5/10 G11B5/1272 G11B5/3163 G11B5/3173

    Abstract: 本实用新型公开一种用于形成磁头的长形条及晶圆。所述长形条,包括一列磁头形成部,每一所述磁头形成部包括将从长形条上切割出来的磁头以及邻近所述磁头的切割部,所述磁头上设置有一行连接触点以及一第一电研磨导向触点,所述切割部上设有一第二电研磨导向触点,所述第一电研磨导向触点及所述第二电研磨导向触点分别用于在研磨过程中与一探针相接触,其中,所述第一电研磨导向触点及所述第二电研磨导向触点的外周形成有高于所述第一电研磨导向触点及所述第二电研磨导向触点的所在平面的导电结构。该导电结构可防止在研磨过程中探针从其上偏移,从而保证探针和电研磨导向触点之间接触稳定,进而确保有效、精确的电阻测量。

    磁头保护膜、磁头、磁头折片组合及磁盘驱动器

    公开(公告)号:CN205810377U

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201620308544.9

    申请日:2016-04-13

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于磁头的磁头保护膜,包括金属层、金属氧化物层、DLC层及氟化碳层,所述金属层层压于磁头或长形条上,所述金属氧化物层层压于所述金属层;其中,所述金属氧化物层与所述金属层为同一金属元素,所述DLC层层压于所述金属氧化物层,所述氟化碳层层压于所述DLC层。本实用新型实施例的磁头保护膜,能够获得高粘附性、高耐热性和低表面能,在磁头使用过程中能够有效保护磁头,防止周围环境对磁头的侵蚀影响。本实用新型还公开了设有所述磁头保护膜的磁头、设有所述磁头的折片组合和磁盘驱动器。

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