互连构件及具有其的功率器件

    公开(公告)号:CN119050090B

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411509866.5

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 本发明提供了一种互连构件及具有其的功率器件,互连构件包括:主体段,主体段的下表面为导电连接面;界面互连段,与主体段连接,界面互连段的下表面为互连面;拱形连接段,包括相连接的第一弧形段和第二弧形段,第一弧形段与主体段连接,第二弧形段与界面互连段连接,第一弧形段在预设纵向截面内具有第一弧形中心线,第一弧形中心线与预设曲线满足确定系数R2,预设曲线满足以下公式:#imgabs0#;x和y为预设曲线在预设坐标系内的横坐标值和纵坐标值;h为预设曲线的最高点至X轴的距离,a为预设曲线至Y轴的最大距离,#imgabs1#为预设常数;在预设曲线的最高点处,预设曲线满足#imgabs2#;R2≥0.8。通过本方案,能够缓解互连构件的互连界面处的应力大的问题。

    功率模块及具有其的功率器件

    公开(公告)号:CN119028935A

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202411509868.4

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 本发明提供了一种功率模块及具有其的功率器件,该功率模块包括衬板和芯片,衬板上设置有第一导电结构和第二导电结构,第一导电结构和第二导电结构均为轴对称结构,第一导电结构和第二导电结构的对称轴均沿功率模块的长度方向延伸,第一导电结构和第二导电结构上均设置有芯片;其中,功率模块还包括片状的第一互连片和第二互连片,芯片的上表面通过第一互连片与第一导电结构和/或第二导电结构导电连接,第一导电结构通过第二互连片与第二导电结构导电连接。通过本申请提供的技术方案,能够解决相关技术中的功率模块的散热能力较差的问题。

    一种适用高压大电流的功率半导体模块

    公开(公告)号:CN118943137A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202410993644.9

    申请日:2024-07-24

    Abstract: 本申请涉及一种适用高压大电流的功率半导体模块,其包括基板以及n组相互平行布置的半桥子模块,其中n≥2,所述半桥子模块通过焊锡连接于基板上,单组半桥子模块呈轴对称结构,且相邻半桥子模块呈中心对称结构。其利用偶数数量的相同的半桥子模块组成一个半桥模块,并将相邻的半桥子模块成中心对对称布置,使得半桥模块运行时流通电流产生的互磁链与自磁链相互抵消,从而减小寄生电感。同时该模块减小了公共支路的长度,提高了模块的散热能力。

    抑制碳化硅MOSFET电压过冲的栅极电感匹配方法

    公开(公告)号:CN113541461B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202110971757.5

    申请日:2021-08-23

    Abstract: 抑制碳化硅MOSFET电压过冲的栅极电感匹配方法,包括:搭建基于碳化硅MOSFET的双脉冲测试平台;获取电感匹配计算所需的电路参数,包括碳化硅MOSFET器件漏源极电容CDS、栅漏极电容CGD以及功率回路共源极电感LS;计算栅极电感匹配值#imgabs0#;提取栅极回路设计所引入的寄生电感;计算栅极电感附加电感值,并将相应电感值的电感元器件串联接入栅极回路;进行双脉冲测试。通过调整碳化硅MOSFET栅极回路的寄生电感、附加电感值,对器件关断漏源极电压过冲实现有效抑制,对提高碳化硅MOSFET在应用中的经济性和可靠性具有重要意义,有利于保证电力系统的可靠运行。

    一种MMC子模块短路测试系统
    59.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118275936A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202410449284.6

    申请日:2024-04-15

    Abstract: 本发明公开一种MMC子模块短路测试系统,涉及半导体器件测试领域,防爆柜体的柜本体的侧壁为防爆板,绝缘板将柜本体分隔为第一腔体、第二腔体;试验阀组设于第一腔体,第一供能回路组件、第二供能回路组件、桥臂回路组件、短路保护开关和隔离开关设于第二腔体内;第一供能回路组件、短路保护开关、试验阀组的第一待测IGBT器件以及第二待测IGBT器件串联;第二供能回路组件、桥臂回路组件的负载保护开关、负载电感以及第二待测IGBT器件串联;桥臂回路组件的上电感续流开关与下电感续流开关反串联后与负载电感并联;隔离开关与第二待测IGBT器件并联。本发明提高了拆装的便捷性和试验的安全性。

    一种改善焊接型碳化硅功率模块电热性能的封装结构

    公开(公告)号:CN109817612B

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN201910191808.5

    申请日:2019-03-14

    Abstract: 本发明公开了一种改善焊接型碳化硅功率模块电热性能的封装结构,该封装结构包括铜底板,DBC板,碳化硅芯片,驱动信号端子和功率回路端子;所述碳化硅芯片,以每两个为一个单元进行并联,长边沿着所述铜底板的长边平行排列放置,每两个单元共用一块DBC板,所述两个单元为串联结构,所述DBC板固定在所述铜底板上;所述驱动信号端子采用顶针方式直接引出;所述功率回路端子采用带有螺纹的铜块引出。本发明通过优化碳化硅芯片放置方式、DBC分布方式和端子的引出方式,减小了电流路径长度,增大了电流路径宽度,提高了DBC板的底板面积利用率,增大了散热面积,减小了散热热阻,从而提高封装的电热性能。

Patent Agency Ranking