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公开(公告)号：CN112198085B
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202011072898.5
申请日：2020-10-09
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种基于边孔光纤的液体密度测量装置及其测量方法，属于液体密度测量领域，对于液体的密度测量装置，主要是基于边孔光纤与单模光纤熔接的两个光纤微结构，尤其需要在边孔光纤上写制光栅，通过将不同尺寸空气孔的两根边孔光纤插入待测液体中，根据光纤微结构的反射光谱，测量出进入边孔光纤空气孔中的液体量，分析该部分液体受力情况，并对比两个光纤微结构装置中液体的受力分析，即可算出液体密度值和表面张力系数。
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公开(公告)号：CN113375914A
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN202110623769.9
申请日：2021-06-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种用于激光板条面检测的光斑强度分布获取方法，本发明属于激光板条的质量检测领域，在运用光纤白光干涉测量装置对激光板条进行面检测时，主要依赖自聚焦透镜光纤探头的出射光斑进行面扫描，激光板条受三维位移台把持控制，在连续移动激光板条过程中，基于自聚焦透镜光纤探头出射类高斯光束的特性，在刀口法光斑测量技术的基础上，提出激光板条边缘扫描光斑的反射式测量方法，并将光斑等效为四个相等的扇形区域，获取每个区域对应的一个光斑强度分布参数，同时消除机械回程误差的影响，获取精确的光斑强度分布。
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公开(公告)号：CN110207846B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201910560318.8
申请日：2019-06-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 本发明涉及一种毛细管光纤温度传感器，属于光纤温度传感领域。包括光源、尾纤、光纤环形器、毛细管光纤、液体、玻璃泡和光探测器；光源通过尾纤与光纤环形器一端相连，光探测器通过尾纤与光纤环形器另一端相连，光纤环形器另一端通过尾纤与毛细管光纤一端相连，毛细管光纤另一端与玻璃泡相连并整体密封，液体置于毛细管光纤和玻璃泡中。毛细管光纤为悬挂芯中空光纤或内壁环形波导中空光纤；毛细管光纤空气孔中的液体长度为L；毛细管光纤与玻璃泡相连一端的纤芯端部镀金属膜改变端部反射率，反射率取值范围90％～100％。本发明光纤温度传感器具有体积小、耐腐蚀、易制备、成本低、结构简单、不易受电磁干扰、温度量程大、灵敏度高等优点。
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公开(公告)号：CN112198085A
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN202011072898.5
申请日：2020-10-09
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种基于边孔光纤的液体密度测量装置及其测量方法，属于液体密度测量领域，对于液体的密度测量装置，主要是基于边孔光纤与单模光纤熔接的两个光纤微结构，尤其需要在边孔光纤上写制光栅，通过将不同尺寸空气孔的两根边孔光纤插入待测液体中，根据光纤微结构的反射光谱，测量出进入边孔光纤空气孔中的液体量，分析该部分液体受力情况，并对比两个光纤微结构装置中液体的受力分析，即可算出液体密度值和表面张力系数。
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公开(公告)号：CN112082492A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010919118.X
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种具有角度监测的薄膜厚度与折射率同时测量的装置及方法，属于光学测量领域，包括宽谱光输出模块、窄线宽激光输出模块、薄膜测量模块、解调干涉仪模块以及采集与控制模块等五个主要部分。本发明基于偏振复用的原理，利用双面四探头的测量结构，在对薄膜厚度及折射率测量的基础上，实现对其角度偏移进行监测及校正，提升厚度测量准确性的同时可对薄膜厚度均匀性的评价。偏振复用技术的采用消除了透射光影响，降低特征干涉峰的识别难度。本发明实现不需要额外的装置即可实现对薄膜的偏转角度进行测量，具有薄膜厚度与折射率测量准确性高、评价结果丰富、自校准、自标定、可溯源以及测量系统稳定性高等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111693545A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010488277.9
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种用于板条测试的复合结构阵列探头及光纤白光干涉装置，复合结构阵列探头由4×4排列的测量探头，和中央部分对准探头阵列构成，其中对准探头阵列包括，发射子探头，和反射光斑的接收探头阵列，且前端配有自聚焦透镜阵列进行光路准直。并匹配该复合结构排列的阵列探头提出一种新型板条检测装置包括光源，1×2耦合器一，光开关，复合阵列探头，待测板条，位移调节架，用于对准检测的探测器阵列，软件驱动，2×2耦合器二，法拉第旋镜，延迟线结构，干涉信号探测模块，装置中光学元件由单模光纤连接，软件驱动部分通过电路连接，进行控制和接收信号。可以实现对板条弱反射区域的高精度超大动态范围检测。
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公开(公告)号：CN111692991A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010488458.1
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/24 , G01B11/255 , G01B9/02
Abstract: 本发明提供一种基于白光干涉测量板条键合面的点云数据获取方法，属于激光板条的质量检测领域，白光干涉系统通过光纤探头对键合面进行光斑点式探测，配合位移调节架实现扫描测试，提出一种改进的点云数据获取方法，尤其涉及双曲率参数加权平均值评估，经过粗测和精测两次点云数据获取的技术方法，具体是：首先粗测采点，获取键合面初步点云，包括键合面三维位置点云，和对应点反射率信息点云；然后构建邻域，求解两种点云对应的曲率分布；最后根据两曲率加权值的值域分级别对键合面区域分割，插值补测。本发明创新性提出改进的加权平均合曲率参数作为键合面缺陷评价指标，并针对合曲率大的区域插值补测，有效节省检测成本。
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公开(公告)号：CN111521312A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202010381063.1
申请日：2020-05-08
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所 , 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提出一种基于盲孔法标定光纤测量材料残余应力的方法。属于光纤测量技术领域。本发明的方法基于盲孔法测试原理，通过预先在周围布置的应变传感器来计算该位置附近的残余应力大小。再将待测材料放入测量材料表面形貌的橡胶底座中，得到材料表面的应变分布情况，结合盲孔法测试数据，得到残余应力与光纤测量材料表面形貌装置信号的对应关系。用以辅助基于光纤测量材料表面形貌装置测试残余应力进行残余应力定量测试及分析。
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公开(公告)号：CN108871638B
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201810379267.4
申请日：2018-04-25
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所 , 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种材料残余应力的光纤测量装置及监测方法，该装置包括橡胶底座、橡胶底座凹槽、第一层光纤光栅传感器串、橡胶、第二层光纤光栅传感器串、石英护管、光纤光栅解调装置，本发明通过设计一种材料残余应力的光纤测量装置，研究高精度的材料残余应力无损测试方法，结构简单，精度高等特点；本发明提供了一种材料残余应力的监测方法，对材料外表面整体应释放测试是采用加载静态载荷或动态载荷的方法；对于材料内部应力释放测试研究，基于超声波和接触式光纤光栅传感阵列，根据不同传感器对超声信号的响应时间，定位材料内部应力不均匀处，结合有限元软件，分析材料内部残余应力的分布。
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公开(公告)号：CN108426530B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201810082442.3
申请日：2018-01-29
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种薄膜厚度与折射率同时测量的装置及测量方法，属于光学测量领域。具体包括宽谱光源输出模块、窄线宽激光光源输出模块、膜厚测量探头模块、解调干涉仪模块以及采集与控制模块五部分。本发明将窄线宽激光光源输出模块的输出信号直接输入到解调干涉仪模块中，满足干涉信号共光路的同时避免了膜厚测量探头模块中激光透射光以及激光多次反射光对干涉信号质量的影响；通过控制膜厚测量探头尾纤的长度避免了膜厚测量探头模块中宽谱光透射光对特征信号峰识别的干扰。本发明实现不需标定样品标定即可对薄膜的厚度及折射率进行非接触测量，具有自校准、测量结果可溯源、稳定性高、特征信号识别简单等优点。
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