一种高温合金铸锭枝晶偏析和枝晶间距定量表征方法

    公开(公告)号:CN113049621B

    公开(公告)日:2023-02-28

    申请号:CN202110297432.3

    申请日:2021-03-19

    Abstract: 本发明公开了一种高温合金铸锭枝晶偏析和枝晶间距定量表征方法,包括高温合金的制备和表面处理、校准样品的选取和元素含量测定微束X射线荧光光谱仪元素定量方法的建立、高温合金的元素成分定量分布分析、高温合金特征元素线分布定量表征和特征元素线分布图谱解析和二次枝晶间距统计。本发明根据高温合金元素的凝固偏析特性,依据特征元素的含量二维分布图确定一次枝晶臂的分布取向和相邻一次枝晶间距,并通过特征元素含量线分布图谱来计算二次枝晶臂的平均间距和偏析比,制样简单,无需进行样品表面的化学腐蚀,极大地提高了检测效率,具有统计的视场大,信息全的优点,统计的数据更为准确可靠。

    一种基于增量学习的镍基高温合金中晶界提取方法及系统

    公开(公告)号:CN115713521A

    公开(公告)日:2023-02-24

    申请号:CN202211482908.1

    申请日:2022-11-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于增量学习的镍基高温合金中晶界提取方法及系统,包括:获取被检测目标的晶粒图像;对晶粒图像进行预处理,得到晶粒图像中晶界特征值,晶界特征识别机器学习网络模型设置依据特征值,通过基础分割网络模型参数集合得到晶界识别判断结果,若用户调整晶界识别判断结果,将调整后的晶界识别结果作为最终识别结果输出,并对晶粒图像识别机器学习模型进行优化更新;本发明通过机器学习进行晶粒图像中晶界的识别,利用多任务、多标签的增量学习方法,并根据最终识别结果与新增任务进行增量优化,持续更新迭代机器学习模型,提高算法模型的精度与泛化能力,有效提高了晶界识别的准确性,克服了以往晶界识别算法精度低、效果差的缺陷。

    一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器及其成像方法

    公开(公告)号:CN111458364A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN202010335910.0

    申请日:2020-04-25

    Abstract: 本发明涉及X射线检测仪器的技术领域,尤其是涉及一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器及其成像方法。一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器,包括X射线发生装置、X射线收束装置、探测装置、移动装置及分析处理数据信息的计算机,所述探测装置包括至少两个探测器,所有探测器的探测面与X射线收束装置的射出焦点之间的距离相等。X射线发生装置产生X射线,产生的X射线通过X射线收束装置收束形成小焦斑。X射线照射样品后产生的荧光数据被探测器采集发送到计算机进行分析。通过设置多个探测器来增加探测面积和计数率,同时探测器的死时间并不会增加,实现高精度且高效率的扫描。

    一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器

    公开(公告)号:CN212207172U

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN202020646943.2

    申请日:2020-04-25

    Abstract: 本实用新型涉及X射线检测仪器的技术领域,尤其是涉及一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器。一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器,包括X射线发生装置、X射线收束装置、探测装置、移动装置及分析处理数据信息的计算机,所述探测装置包括至少两个探测器,所有探测器的探测面与X射线收束装置的射出焦点之间的距离相等。X射线发生装置产生X射线,产生的X射线通过X射线收束装置收束形成小焦斑。X射线照射样品后产生的荧光数据被探测器采集发送到计算机进行分析。通过设置多个探测器来增加探测面积和计数率,同时探测器的死时间并不会增加,实现高精度且高效率的扫描。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    压头校准装置、系统
    46.
    实用新型

    公开(公告)号:CN222125028U

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202323451900.1

    申请日:2023-12-18

    Abstract: 本实用新型提供了一种压头校准装置,属于检测装置技术领域。本实用新型包括样品盒和设置于样品盒内的调节组件;调节组件包括多个用于固定不同尺寸压头的固定装置,且固定装置能够在样品盒内升降。本实用新型通过在样品盒内设置多个能够升降的固定装置,实现不同尺寸压头的固定和升降,能够同时实现对多个不同尺寸的压头的同时检测,大大提高了检测效率。

Patent Agency Ranking