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公开(公告)号：CN106847936B
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201611120663.2
申请日：2016-12-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: H01L31/02 , H01L31/0203 , H01L31/18
Abstract: 公开了一种基于金属键合的光电器件封装结构及其制造方法。根据实施例，一种光电器件封装结构可以包括光电芯片和封装基底。光电芯片包括：衬底，具有彼此相对的第一表面和第二表面；在衬底上形成的光电器件；以及在第一表面上形成的用于光电器件的电极。封装基底具有彼此相对的第一表面和第二表面，并包括从第一表面延伸到第二表面的导电通道。光电芯片以其第一表面面向封装基底的方式与封装基底叠置在一起，且光电芯片的第一表面上形成的电极与封装基底中的相应导电通道键合在一起。
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公开(公告)号：CN105798466B
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201410831981.4
申请日：2014-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: B23K26/38 , B23K26/402 , B28D1/24
CPC classification number: G01T1/2018
Abstract: 本发明的陶瓷闪烁体阵列的加工方法具备如下步骤：（a）利用激光在闪烁体基片上在第一方向形成彼此平行并且间隔预定距离的预定数量的平直的第一方向通透切缝；（b）使用粘合剂充分填充所述第一方向通透切缝并使所述粘合剂固化；（c）利用激光在所述闪烁体基片上在与第一方向垂直的第二方向上以预定间隔形成预定数目的彼此平行的第二方向通透切缝；以及（d）使用粘合剂充分填充所述第二方向通透切缝并使所述粘合剂固化。
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公开(公告)号：CN108572183A
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201710135023.7
申请日：2017-03-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
Abstract: 公开了一种分割车辆图像的方法和检查设备。对车辆进行X射线透射扫描，得到透射图像；利用经过训练的卷积网络对透射图像的各个像素进行加类别标签；根据各个像素的类别标签得到确定车辆的各个部分的图像。利用上述的方案，能够在车型种类繁多、情况复杂的状况下较为准确地分割出车辆的各个部分的图像。
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公开(公告)号：CN108445111A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201810437372.9
申请日：2018-05-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本申请公开一种用于样品检测的闸机系统及样品检验方法。涉及检测分析领域，该闸机系统，包括：容纳装置，用于容纳插入的待测票证；擦拭采样装置，包括擦拭采样带，所述擦拭采样带带动所述待测票证在所述容乃装置内移动，并且对所述待测票证进行擦拭采样；吸气采样装置，用于收集从所述擦拭采样装置上掉落的样品；以及检测装置，用于对所述样品进行检测，输出检测结果。本申请公开的用于样品检测的闸机系统及样品检验方法，适用范围广，能够对难挥发物质进行快速的取样检测。
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公开(公告)号：CN107884072A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201610871957.2
申请日：2016-09-30
Applicant: 北京固鸿科技有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 西安航天化学动力厂
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J5/0037
Abstract: 本发明公开了一种搅拌釜辐射测温装置和方法。通过将测温装置设在搅拌釜内部，对搅拌混合物发出的毫米波段电磁辐射进行非接触式探测，从而测量搅拌釜混合物内部温度。本方案通过利用混合物自身辐射特性，非接触式测温不干扰搅拌过程，受搅拌釜内尘埃、雾气的影响小，可精确测量混合物内部温度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104515781B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/02
Abstract: 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
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公开(公告)号：CN104345334B
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201310341234.8
申请日：2013-08-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明涉及阳极丝对中性能改善的中子探测管和中子探测设备。具体地，提供了一种中子探测管，其包括：阴极管，所述阴极管内限定有轴向延伸的管腔，且管腔内壁具有中子敏感材料；阳极丝，所述阳极丝在所述阴极管的管腔中轴向延伸；绝缘套，所述绝缘套的一部分气密密封地沿轴向插入所述阴极管中的一端，而且所述绝缘套内限定有通向所述阴极管的管腔的第一中央内孔；以及同心装置，其被置于所述绝缘套的第一中央内孔中，且被配置成使得所述阳极丝至少在轴向向内穿过所述同心装置后被居中于所述阴极管的中心轴线。本发明还提供了一种中子探测设备，其包括至少一只所述中子探测管；以及用于组合所述中子探测管的阵列组合装置。
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公开(公告)号：CN107045138A
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201710469197.7
申请日：2017-06-20
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/201
Abstract: 本发明提出一种背散射探测模块，包括板状的透光载体、两层闪烁体及光传感器；透光载体由可供荧光光子透过的材料制作，具有两个相对的透光平面以及至少一个出光端面，所述出光端面位于两个所述透光平面之间；两层闪烁体分别固定贴合于两个所述透光平面；光传感器耦合于所述出光端面。本发明的背散射探测模块，采用两层闪烁体以及透光载体来吸收X射线，极大地提高了探测效率，本探测模块利用透光载体作为导光材料，并在端面设置光传感器，透光载体不仅能够传输荧光光子，还能够改变光路，极大地减小了背散射探测器的厚度。
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公开(公告)号：CN106374224A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201510437014.4
申请日：2015-07-23
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了电磁波成像系统及天线阵列信号校正方法。在一示例中，电磁波成像系统可以包括：天线阵列，用于接收来自目标物体的电磁波，并将电磁波转换为电信号；信号处理单元，用于对电信号进行处理，以获得目标物体的图像；以及距离测量装置，用于测量目标物体到天线阵列的距离，其中，信号处理单元至少部分地基于所测量的距离来对电信号进行校正。
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公开(公告)号：CN106353828A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201510434952.9
申请日：2015-07-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0041 , G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 公开了一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置。通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值。利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值。通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。此种方法可以较精确计算出被检物的重量，节省了传统的称重硬件成本。
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