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公开(公告)号：CN110376211B
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN201910726981.0
申请日：2019-08-07
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种湿法涂胶的合成革卷边在线检测装置及方法，包括支撑杆、支撑杆底盘、横杆一、横杆二、背光源、短杆、支杆、正面光源、采图模块、报警灯、工控机以及电气控制柜；所述支撑杆设置于支撑底盘，支撑底盘设置于地面，支撑杆竖立于检测点左右两侧；所述横杆一设置于支撑杆之间；所述背光源设置于横杆一上；所述短杆设置于支撑杆，短杆与支撑杆之间设置支杆；所述横杆二设置于短杆之间；所述采图模块、正面光源以及报警灯设置于横杆二；所述工控机与电气控制柜设置于支撑杆，工控机与采图模块以及正面光源电性连接；本发明通过机器代替人工，避免了人工检查可能存在漏检或是发现问题不及时的情况发生，保证了生产布匹的质量。
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公开(公告)号：CN112162149A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010942420.7
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的跟踪测频方法，包括双频率跟踪功能、单频率跟踪功能、测频参数初始化、扫频参数设置和两个功能之间的切换功能；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的跟踪测频方法。
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公开(公告)号：CN113639630B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202110356536.7
申请日：2021-04-01
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开基于多模板匹配和自动对焦功能的尺寸测量仪系统，1)初始化步骤、2)模板选择界面处理步骤、3)实时测量步骤；本发明提供了提供了全自动、标准化、高效工作的基于多模板匹配和自动对焦功能的尺寸测量仪系统。
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公开(公告)号：CN112304217B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202011104917.8
申请日：2020-10-15
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种基于机器视觉的尺寸测量评分装置及评分方法，其中装置包括操作台、检测台、光源以及相机；所述检测台的中间部位设置有通孔，在通空处设置有透明板；光源设置于检测台下方，与透明板对应设置；相机设置于透明板的正上方，相机固定设置；操作台与光源以及相机电性连接，操作台能够控制光源以及相机的动作；相机和检测台之间设置有激光测距装置；操作台包括显示模块；本发明通过在系统中设置学生、教师、游客权限的管理，并且在教师权限下设置试题制作的功能，实现对于考试题目的编辑和确定。
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公开(公告)号：CN112162151B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010943414.3
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线双频率跟踪测频方法，包括双频率跟踪功能；双频率跟踪功能对两个频率跟踪测频的单次扫频测到谐振波形情况进行分析；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线双频率跟踪测频方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112162150B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010943412.4
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片测频测试的波形数据处理方法，包括单次扫频双谐振频率波形匹配功能、单次扫频谐振频率数据处理功能、单位时间内数据处理功能；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片测频测试的波形数据处理方法。
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公开(公告)号：CN110125793B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201910470944.8
申请日：2016-12-23
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: B24B37/005 , B24B49/00
Abstract: 本发明公开了基于扫频数据机制的石英晶片测控方法，包括如下步骤：初始化数据、谐振频率自动搜索流程、基于扫频数据机制的跟踪测频流程、惯性导航流程；本发明的优点在于：石英晶片研磨在线测频的自动搜索方法，具有抗干扰性强、运行稳定、统计参数多样、全自动化的晶片研磨。
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公开(公告)号：CN112327051A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202010942431.5
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片研磨的在线测频系统，其特征在于，在线测频功能包括自动搜索功能和跟踪测频功能；自动搜索功能实现对SC晶片当前频率的搜索，并且根据自动搜索的不同结果进行不同的处理；跟踪测频功能包括双频率跟踪功能、单频率跟踪功能、测频参数初始化、扫频参数设置和两个功能之间的切换功能；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片研磨的在线测频系统。
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公开(公告)号：CN112284250A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202011103724.0
申请日：2020-10-15
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种基于机器视觉的尺寸测量评分系统及测量方法，其中系统包括操作模块和检测模块，所述操作模块包括系统设置模块以及尺寸测量模块；系统设置模块包括参数配置、试题制作以及模板校准功能；进入系统设置模块需要输入密码；尺寸测量模块包括正面尺寸测量和侧面尺寸测量的功能；尺寸测量评分系统还包括退出系统模块；本发明通过设置尺寸测量界面完成参数配置、试题制作、模板校准以及尺寸测量的功能，实现模板的制作以及待检测零件的精确测量。
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公开(公告)号：CN112162151A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010943414.3
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的在线双频率跟踪测频方法，包括双频率跟踪功能；双频率跟踪功能对两个频率跟踪测频的单次扫频测到谐振波形情况进行分析；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的在线双频率跟踪测频方法。
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