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公开(公告)号：CN114441149A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202210371679.X
申请日：2022-04-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提出的一种微米发光二极管检测系统及检测方法，属于发光二极管检测领域，其中，系统包括第一光发生模块，用于发出第一光信号至多个待测微米发光二极管，以使多个待测微米发光二极管生成第二光信号；高光谱相机，所高光谱相机用于采集第二光信号，获得光谱成像帧，光谱成像帧中包括多个待测微米发光二极管的光谱数据；控制模块，与高光谱相机连接，用于基于光谱成像帧，从多个待测微米发光二极管中确定出缺陷微米发光二极管，其中，多个待测微米发光二极管，在接收到第一光信号中的光能后，激发自身以生成第二光信号。本发明实现同时准确对多个微米发光二极管进行检测，提高了在生产中对微米发光二极管的检测效率。
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公开(公告)号：CN114998330B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210894978.1
申请日：2022-07-28
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明属于晶圆检测技术领域，公开了一种无监督的晶圆缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取初始晶圆检测数据集；利用预设无监督自编码器为初始晶圆检测数据集中的无标签晶圆检测数据制作伪标签，生成目标晶圆检测数据集；根据目标晶圆检测数据集对预设分类器进行训练，得到训练好的目标分类器；在接收到待检测晶圆数据时，利用目标分类器对待检测晶圆数据进行检测，得到晶圆缺陷检测结果。通过上述方式，为无标签晶圆检测数据制作伪标签，利用有标签数据和伪标签数据对目标分类器进行训练，使得目标分类器学习到不同的缺陷特征，能够识别到未知的缺陷种类，提高了晶圆缺陷的检测精度。
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公开(公告)号：CN114782451B
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：CN202210715388.8
申请日：2022-06-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种工件缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述工件缺陷检测方法包括：获取待测工件的偏振光强信息，依据所述偏振光强信息，确定待测工件对应的总光强信息、对应的偏振度信息以及对应的偏振角信息；对所述总光强信息、所述偏振度信息以及所述偏振角信息进行加权聚合，得到工件偏振特征图像；对所述工件偏振特征图像进行工件边缘轮廓检测，得到边缘轮廓特征信息；依据所述边缘轮廓特征信息，对所述待测工件进行工件缺陷检测，得到工件缺陷检测结果。本申请解决了工件缺陷检测准确度低的技术问题。
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公开(公告)号：CN114376609B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202210285932.X
申请日：2022-03-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种鼻声反射仪、鼻气道测量方法、测量设备和介质，该方法包括：通过上位机检测到启动检测信号后，基于FPGA控制器控制电火花发生装置进行周期性放电；基于安装在声波导管中的麦克风采样装置记录电火花发生装置进行周期性放电后产生的声音信号；通过FPGA控制器对麦克风采样装置中的声音信号进行读取和存储后，将存储在FPGA控制器中的声音信号发送至上位机中进行计算，得到鼻气道测量结果。通过将声源由扬声器替换为脉冲极短的电火花，缩短了所需的声波导管的长度，进而避免因螺旋结构的声波导管而导致的鼻气道测量精度下降的问题，通过对连续多次采集的声音信号进行处理计算，进一步提升鼻气道测量的稳定性和测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114376609A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202210285932.X
申请日：2022-03-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种鼻声反射仪、鼻气道测量方法、测量设备和介质，该方法包括：通过上位机检测到启动检测信号后，基于FPGA控制器控制电火花发生装置进行周期性放电；基于安装在声波导管中的麦克风采样装置记录电火花发生装置进行周期性放电后产生的声音信号；通过FPGA控制器对麦克风采样装置中的声音信号进行读取和存储后，将存储在FPGA控制器中的声音信号发送至上位机中进行计算，得到鼻气道测量结果。通过将声源由扬声器替换为脉冲极短的电火花，缩短了所需的声波导管的长度，进而避免因螺旋结构的声波导管而导致的鼻气道测量精度下降的问题，通过对连续多次采集的声音信号进行处理计算，进一步提升鼻气道测量的稳定性和测量精度。
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