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公开(公告)号:CN206311210U
公开(公告)日:2017-07-07
申请号:CN201621347033.4
申请日:2016-12-09
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本实用新型涉及一种基于滤波效应的太赫兹波谱测量装置,应用中,避开采用傅里叶变换的方法,因此无需先得到待测太赫兹波的时域谱,也不需要使用机械延迟装置,其结构和光路较为简单,并且整个设计结构易于制作,且可选择的材料种类繁多,因此整个装置的成本较低;而且对于各种预设滤波条件所对应的滤波单元来说,太赫兹波在滤波单元各个出射部位和出射的各个方向上,具有相同的透射波谱,它们都是经过相同的滤波作用,能够提高光谱测量的稳定性;不仅如此,所设计基于滤波效应的太赫兹波谱测量装置,相比现有的太赫兹时域波谱测量装置体积较小,便携性大大提高。
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公开(公告)号:CN203719770U
公开(公告)日:2014-07-16
申请号:CN201420001022.5
申请日:2014-01-02
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本实用新型公开了一种基于磁光调制的光谱测量装置,属于光学测量技术领域。本实用新型光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。本实用新型还公开了一种使用上述装置的光谱测量方法,首先测量在不同磁场强度下进行磁光调制时光探测器所检测到的光功率,并以得到的光功率数据作为增广矩阵,结合光谱测量装置在不同磁场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵,建立线性方程组;对该线性方程组求解,得到待测入射光中各频率分量的光功率,然后对其进行线性拟合、光谱定标,得到待测入射光的光谱。本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号:CN203629684U
公开(公告)日:2014-06-04
申请号:CN201320841875.5
申请日:2013-12-19
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本实用新型公开了一种基于电光效应的光谱测量装置,包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、电光效应晶体、第二偏振片、光探测器;其中,第一偏振片的偏振方向与所述电光效应晶体在外加电场下的感应主轴方向不平行。使用本实用新型进行光谱测量,首先测量对电光效应晶体施加不同外加电压下光探测器所检测到的光功率,并以得到的光功率数据作为增广矩阵,结合光谱测量装置在不同外加电压下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵,建立线性方程组;对该线性方程组求解,得到待测入射光中各频率分量的光功率,然后对其进行线性拟合,并经光谱辐射定标,得到待测入射光的光谱。本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等显著优点。
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公开(公告)号:CN203216609U
公开(公告)日:2013-09-25
申请号:CN201320132558.6
申请日:2013-03-21
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本实用新型公开了一种光谱仪,属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片,以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统;所述分光器件包括透明基底,所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层透明涂层,所述透明涂层中包含有一组尺寸或形状不均匀分布的气泡。相比现有技术,本实用新型具有制作简单、实现成本低、便携性好,以及较高的分辨率和较宽的光谱测量范围的优点。
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公开(公告)号:CN204007868U
公开(公告)日:2014-12-10
申请号:CN201420135901.7
申请日:2014-03-25
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本实用新型公开了一种光谱测量装置,属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置,包括光学准直装置、光散射器件、阵列式探测芯片,以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统;经由光学准直装置准直后的入射光经由光散射器件形成散射光,并被阵列式探测芯片接收;所述光散射器件可令不同频率的入射光形成不同的散射光强角分布,且相同频率的入射光在光散射器件的不同部位所产生的散射光强分布也不同。相比现有技术,本实用新型具有体积更小、结构复杂度及制作成本更低的优点,并提出了一种新的光谱测量技术途径。
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公开(公告)号:CN203772415U
公开(公告)日:2014-08-13
申请号:CN201420139316.4
申请日:2014-03-25
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本实用新型公开了一种光谱测量装置,属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置,包括沿光入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片,以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统,其特征在于,所述分光器件包括透明基底,所述透明基底的至少一个表面上固着有一层金属粒子膜,所述金属粒子膜包括一组纳米至微纳米尺度的大小不等的金属粒子,所述金属粒子在金属粒子膜中呈不均匀分布,且金属粒子之间形成有一系列可容光线通过的大小不等的孔隙。相比现有技术,本实用新型具有结构简单、对振动不敏感、测量精度高、制作成本低等优点。
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公开(公告)号:CN203719769U
公开(公告)日:2014-07-16
申请号:CN201320843415.6
申请日:2013-12-19
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/433
Abstract: 本实用新型公开了一种基于声光调制的光谱测量装置,属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的声光调制器、光探测器。利用本实用新型进行光谱测量时,首先测量不同声场强度下光探测器所检测到的光功率,并以得到的光功率数据作为增广矩阵,结合所述光探测器在不同声场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵,建立线性方程组;对该线性方程组求解,得到待测入射光中各频率分量的光功率,然后对其进行线性拟合,并经光谱辐射定标,得到待测入射光的光谱。相比现有技术,本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等显著优点。
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