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公开(公告)号:CN113853054B
公开(公告)日:2023-11-14
申请号:CN202111303596.9
申请日:2021-11-05
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本申请涉及机械调节领域,尤其涉及一种等离子体炬及其间隙调节方法。该等离子体炬包括等离子体炬本体、第一绝缘套和调节组件;其中,等离子体炬本体包括喷头、钨针、内壳和外壳,钨针连接有第一端子,喷头和钨针的极性相反,钨针设置于内壳内,内壳设置于外壳内,钨针和内壳之间形成气腔,内壳和外壳之间形成冷却腔;第一绝缘套,与外壳连接,钨针远离喷头的端部设置于第一绝缘套内;调节组件,设置于第一绝缘套上,用于带动钨针沿等离子体炬本体的轴向平动,以改变钨针和喷头之间的距离。本申请提供的等离子体炬可以快速精确地调节钨针与喷头之间的间隙,从而改变等离子体束的喷射流速、喷流外形,以适应多场景的使用要求。
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公开(公告)号:CN116345171A
公开(公告)日:2023-06-27
申请号:CN202211543958.6
申请日:2022-12-01
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: H01Q15/00
Abstract: 本发明涉及超材料技术领域,特别涉及一种闭环超材料及其制备方法。该方法包括:将聚酰胺酸旋转涂敷在基底片上,得到第一预制层,进行热酰亚胺化处理得到聚酰亚胺材质的底部介质层;在底部介质层上表面得到一个闭环金属层;将聚酰胺酸旋转涂敷在底部介质层上,得到第二预制层,进行热酰亚胺化处理得到聚酰亚胺材质的中间介质层;在中间介质层的表面上得到另一个闭环金属层;将聚酰胺酸旋转涂敷在设置闭环金属层的中间介质层上,得到第三预制层,进行热酰亚胺化处理得到聚酰亚胺材质的顶部介质层,进而得到周期单元;将周期单元周期排列形成闭环超材料。本发明实施例提供了一种能够改变太赫兹波段电磁波偏振状态的超材料的制备方法。
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公开(公告)号:CN116345170A
公开(公告)日:2023-06-27
申请号:CN202211537100.9
申请日:2022-12-01
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及超材料技术领域,特别涉及一种闭环超材料和太赫兹传输隔离系统。本发明实施例提供一种闭环超材料,包括多个周期单元,所述周期单元沿互相垂直的两个方向周期排列形成超材料;周期单元为包括两个正方形面的长方体,沿厚度方向依次包括第一介质层、第二介质层和第三介质层,第二介质层和第三介质层朝向第一介质层的面均设置有闭环金属层,闭环金属层包括呈长方形的金属环和设置在金属环内部的两个T型金属片,T型金属片包括互相垂直的第一金属臂和第二金属臂,第二金属臂的一端与第一金属臂的中点连接,另一端与金属环的长臂的中点连接。本发明实施例能够提供一种能够改变太赫兹波段电磁波偏振状态的超材料。
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公开(公告)号:CN115939753A
公开(公告)日:2023-04-07
申请号:CN202211538688.X
申请日:2022-12-01
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及隔离器技术领域,特别涉及一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器和隔离性能测试系统。本发明实施例提供了一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器,包括闭环超材料和偏振器;闭环超材料包括多个周期单元,周期单元沿互相垂直的相邻单元边缘所在的两个方向周期排列形成超材料;周期单元为包括两个正方形面的长方体,沿厚度方向依次包括第一介质层、第二介质层和第三介质层,第二介质层和第三介质层朝向第一介质层的面均设置有闭环金属层;偏振器用于透射偏振方向与线栅的线垂直的偏振光,反射偏振方向与线栅的线平行的偏振光。本发明实施例提供了一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器和其对太赫兹波隔离性能的测试系统,能够提供一种隔离太赫兹电磁波的隔离器。
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公开(公告)号:CN109932338B
公开(公告)日:2021-06-04
申请号:CN201910267623.8
申请日:2019-04-03
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于太赫兹频段测量样品复折射率的方法和装置,涉及激光技术领域。其中,该方法包括:根据太赫兹脉冲在样品表面的反射信号和在金属镜表面的反射信号确定样品复反射率的测量值;根据反射率计算模型确定样品复反射率的模型估计值,并根据所述复反射率的测量值和所述复反射率的模型估计值构建代价函数;其中,所述反射率计算模型考虑了所述金属镜复折射率对参考信号的影响以及测量过程中的相位误差,所述样品复反射率的模型估计值基于多个参数表示;对所述代价函数进行优化求解,并根据优化求解结果确定所述样品的复折射率。通过以上步骤,能够精确确定样品的复折射率,尤其适用于高反射率材料的复折射率测量。
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公开(公告)号:CN109211842B
公开(公告)日:2020-12-08
申请号:CN201811219793.0
申请日:2018-10-19
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/55 , G01N21/3586 , G01N21/3563
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹频段材料反射系数定标测量装置及方法,通过太赫兹波透射测量分别获取有无定标板的太赫兹波透射电场强度,根据获取的太赫兹波透射电场强度得到定标板的透射系数,进而得到定标板的复折射率;通过太赫兹波反射测量获取定标板和被测材料板在同一入射角度下分别反射的太赫兹波反射电场强度;根据定标板的复折射率和太赫兹波反射测量的入射角度,计算定标板的反射系数;结合定标板和被测材料板反射的太赫兹波反射电场强度与反射系数之间的比例关系,计算被测材料板的反射系数。该装置及方法能够在无法准确计量太赫兹脉冲功率的情况下,有效度量各种材料反射性能,快速、便捷地获取被测材料板在太赫兹频段的反射系数和反射率。
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