一种多层波纹管自动焊接装置与工艺方法

    公开(公告)号:CN116638227A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310699281.3

    申请日:2023-06-13

    Abstract: 本申请涉及一种多层波纹管自动焊接装置与工艺方法,属于波纹管焊接技术领域,其包括工作台,工作台的两端均设置有第一支撑座,第一支撑座上设置有电机,电机上转动连接有连接轴,电机的电机轴上连接有转动杆,连接轴上设置有焊接枪,工作台的两端均转动连接有固定套筒,固定套筒上开设有插接槽,转动杆插入所述插接槽内,工作台上设置有第一伺服缸,第一伺服缸连接有移动座,移动座上转动连接有用于固定波纹管的固定组件,固定组件上设置有用于其与固定套筒连接的连接件。本申请具有使焊接机能够在波纹管进行一次固定后,便可对波纹管的两端进行焊接,提高波纹管与接头的焊接效率的效果。

    一种控制棒驱动线高温高压试验装置及试验方法

    公开(公告)号:CN115389338A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202211039048.4

    申请日:2022-08-29

    Abstract: 本发明公开了一种控制棒驱动线高温高压试验装置及试验方法,包括承压容器,所述承压容器内从下到上依次设置燃料组件、控制棒组件、导向筒组件,承压容器的上方安装控制棒驱动机构;所述承压容器分为下筒体组件、中筒体组件、上筒体组件以及顶盖法兰组件,每个组件之间通过法兰进行连接,通过石墨缠绕垫进行密封;控制棒驱动机构中心与导向筒组件中心、顶盖法兰组件通过偏心法兰错对中设置;该试验装置能够在热态工况下开展控制棒驱动线完全对中、顶盖错对中和/或导向筒错对中性能试验和寿命试验;还能开展在不同出口流通面积的情况下控制棒驱动线落棒试验,研究不同出口流通面积引起流速变化对控制棒落棒时间的影响。

    一种抗沉降碳化硼粉体的表面接枝改性处理方法

    公开(公告)号:CN113881247A

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN202111208744.9

    申请日:2021-10-18

    Abstract: 本发明的目的在于公开一种抗沉降碳化硼粉体的表面接枝改性方法,它包括以下步骤:(1)通过筛分的方式得到粒径均一的碳化硼粉体,然后加入阳离子表面活性剂水溶液中,升温搅拌2‑4h并超声分散30‑60min,过滤后室温阴干,形成带阳离子有机物包覆层;(2)在阴干好的碳化硼粉体中加入正丁醇,蒸馏水,具有特定基团的反应物进行接枝反应,在40‑60℃的温度下保持3‑4h,反复用去离子洗涤,阴干后经真空干燥即得经接枝反应后形成的双包覆层碳化硼粉体;与现有技术相比,碳化硼粉体的超声再分散与阳离子表面活性剂相互作用,形成带正电性的阳离子有机包覆层,与带有特定基团的反应物进行接枝反应,有助于提高碳化硼的改性效果,方法简单,成本低,便于推广,实现本发明的目的。

    中压柜的低压箱结构及中压柜

    公开(公告)号:CN106329319A

    公开(公告)日:2017-01-11

    申请号:CN201510390232.7

    申请日:2015-07-03

    Abstract: 本发明公开了一种中压柜的低压箱结构及中压柜,该低压箱结构包括:一长方体的框架,该框架包括由上部前横梁、下部前横梁和2根前竖梁构成的前框,前框还包括垂直连接前竖梁的前中横梁和垂直连接前中横梁与下部前横梁的前中竖梁;其中,前中横梁和前中竖梁将前框分割为左下框、右下框和上框;低压箱,该低压箱具有与左下框、右下框、上框其中一个相匹配的宽和高且拉抽式地嵌设于相匹配的左下框、右下框或上框,该低压箱为具有开口的长方体且沿该开口向外延伸具有凸缘,凸缘用于防止该低压箱脱离该框架。本发明的低压箱结构能根据需求放置最多3个不同类型的低压元件,满足了核电站等场所使用非标准元件的要求。

    一种隔磁片翘曲疲劳测试的试验装置

    公开(公告)号:CN105928699A

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201610554463.1

    申请日:2016-07-14

    CPC classification number: G01M13/00

    Abstract: 本发明提供一种隔磁片翘曲疲劳测试的试验装置,其包括:上基座;下基座,其设置在所述上基座下方;固定环,其经配置以与所述下基座连接,用于固定隔磁片;及竖直位移限制块,其经配置以与所述上基座连接,用于限制隔磁片的位移。本发明提供的隔磁片翘曲疲劳测试的试验装置,相较现有技术无法实现隔磁片在实际工况下的破坏过程观测,其在对隔磁片破坏成因具体分析的基础上实现了隔磁片的疲劳破坏过程观测、疲劳性能测试以及隔磁片疲劳寿命预估。

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