石英晶片研磨在线测频系统

    公开(公告)号:CN105866540A

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201610271878.8

    申请日:2016-04-28

    CPC classification number: G01R23/02

    Abstract: 本发明公开了一种石英晶片研磨在线测频系统,包括电源模块、MCU控制系统模块、DDS模块、射频功率放大模块、π网络接口电路模块、信号放大滤波模块、射频幅值检测模块和触摸屏模块。本发明用基于DDS技术的π网络最大传输法检测原理增强了系统的抗干扰性,解决现有ALC系统“在某些频段发生测频值跳变”的问题。本发明所有频段采用统一的π网络接口电路,解决现有ALC系统不同频段需要更换探测头的缺陷,降低射频接头频繁插拔导致的电学故障风险,增强系统工作稳定性,能够显著提升晶片研磨质量和产品品质稳定性。本发明的硬件系统方案不仅能够覆盖目前晶片研磨生产所涉及的所有频段,而且只需要通过算法参数上修改就能兼容石英晶片的所有切型。

    一种合成革卷边在线检测方法

    公开(公告)号:CN113567447B

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202110793717.6

    申请日:2019-08-07

    Abstract: 一种合成革卷边在线检测方法,包括支撑杆、支撑杆底盘、横杆一、横杆二、背光源、短杆、支杆、正面光源、采图模块、报警灯、工控机以及电气控制柜;所述支撑杆设置于支撑底盘,支撑底盘设置于地面,支撑杆竖立于检测点左右两侧;所述横杆一设置于支撑杆之间;所述背光源设置于横杆一上;所述短杆设置于支撑杆,短杆与支撑杆之间设置支杆;所述横杆二设置于短杆之间;所述工控机与电气控制柜设置于支撑杆,工控机与采图模块以及正面光源电性连接;本发明通过机器代替人工,避免了人工检查可能存在漏检或是发现问题不及时的情况发生,保证了生产布匹的质量;通过灰度值检测确定布匹的边缘,便于进行毛边以及卷边检测。

    一种尺寸测量评分装置及调节方法和评分方法

    公开(公告)号:CN112330599B

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202011103725.5

    申请日:2020-10-15

    Abstract: 一种尺寸测量评分装置及调节方法和评分方法,其中尺寸测量评分装置包括固定架、操作台、检测台、光源以及相机;所述检测台、光源以及相机设置于固定架;检测台的中间部位设置有通孔,在通孔处设置有载物板,载物板为透明材质;光源设置于检测台下方,与载物板对应设置;相机设置于载物板的正上方的相机固定板;操作台与光源以及相机电性连接;相机和检测台之间设置有标准平晶;相机的镜头处设置有远心同轴镜头,远心同轴镜头的侧面设置有He‑Ne激光器;通过在相机和载物板之间设置标准平晶,并且在载物板的四个角上设置微调节旋钮,在相机上设置He‑Ne激光器,实现相机的镜头和载物板之间的平行设置。

    一种湿法涂胶的合成革卷边检测方法

    公开(公告)号:CN113552134A

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN202110784407.8

    申请日:2019-08-07

    Abstract: 一种湿法涂胶的合成革卷边检测方法,包括支撑杆、支撑杆底盘、横杆一、横杆二、背光源、短杆、支杆、正面光源、采图模块、报警灯、工控机以及电气控制柜;所述支撑杆设置于支撑底盘,支撑底盘设置于地面,支撑杆竖立于检测点左右两侧;所述横杆一设置于支撑杆之间;所述背光源设置于横杆一上;所述短杆设置于支撑杆,短杆与支撑杆之间设置支杆;本发明通过机器代替人工,避免了人工检查可能存在漏检或是发现问题不及时的情况发生,保证了生产布匹的质量;通过提取待检测区域,便于对图像进行毛边检测,缩小检测范围,提高检测速度。

Patent Agency Ranking