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公开(公告)号：CN103095538A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201210586898.6
申请日：2012-12-28
Applicant: 武汉华中数控股份有限公司 , 华中科技大学
IPC: H04L12/40
Abstract: 本发明公开了一种多类工业以太网总线集成主站；该主站包括核心处理器、系统总线接口模块，N个双端口数据存储器，中断信号处理模块，N个微处理器，N个网络芯片以及N个网络接口。本发明在同一个总线主站设备中，在不改变任何硬件的情况下可实现多类工业以太网总线主站功能的集成，并且实现多类工业以太网总线主站功能的并行工作，从而可以保证在同一台总线主站设备中，同时接入不同工业以太网总线设备，使得这些设备在同一套系统中能够兼容并存，并行工作，这有利于打破不同工业以太网总线协议之间的技术壁垒，解决各种总线设备不能兼容并存的问题，提升总线系统的可扩展性能，满足总线设备用户的多元化、可互换的配置需求。
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公开(公告)号：CN102284888B
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201110045763.4
申请日：2011-02-25
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
Abstract: 本发明提出了一种数控机床车削稳定性监测的方法，涉及监测技术领域。由于伺服系统性能的不断提高，其响应速度、敏感性等也不断提高，因此，在切削过程中机床的状态可以在驱动电机的电流上得到反映。本发明中，通过各种信号处理方法提取电流信号的多个特征值，建立特征状态向量作为数学模型的输入，再通过数学模型的分析计算，输出机床的切削状态。该发明中由于电流信号抗干扰性强、易于采集、使用辅助工具少等特点，相对于目前的诸多监测方法其操作上具有简单易行、监测效果好等优点，更容易实现对加工状态的在线监测，有效保证了加工安全和产品质量。
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公开(公告)号：CN102063091B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201010538801.5
申请日：2010-11-10
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G05B19/414
Abstract: 本发明公开了一种数控机床总线式检测元件的现场总线接口，用于数控机床上的位置检测元件与数控机床外部控制模块之间的通信，该接口包括：现场可编程逻辑门阵列FPGA，用于数据的发送缓冲、接收缓冲以及协议处理；以太网物理层PHY芯片，与所述现场可编程门阵列FPGA通信，用于发送和接收数据，将网络中传输的差分模拟信号转变为数字信号，以便于现场可编程门阵列FPGA进行处理；网络变压器，与所述太网物理层PHY芯片连接，用于隔离信号；和双绞线接头，与所述网络变压器相连，用于发送和接收模拟信号。本发明可以将总线的通信速率提高到100M，传输延迟可以减小到1微秒以内，满足了现行的数控机床高速、高精度加工的要求。
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公开(公告)号：CN102436216A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110378995.1
申请日：2011-11-24
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G05B19/19
Abstract: 本发明公开了一种叶片的螺旋磨削轨迹规划方法，可用于叶片叶身区域的磨削加工，实现叶片表面经铣削加工后的磨削抛光处理。本发明首先将组成叶片表面的组合曲面展开，利用相邻组合曲面共有的边界线作为控制曲线，将控制曲线用几何的方法参数化，然后再按螺旋线的圈数将其平分，得到控制曲线的中间控制点，对于任意单个叶片曲面，以曲面拥有的两条控制曲线的中间控制点作为螺旋曲线轨迹的两个端点，在这两点之间通过对参数插值得到中间初始刀触点，再通过二分法在两点中间增加点直到产生满足加工精度要求的刀具轨迹。该方法产生的刀具轨迹光滑连续，磨削过程没有让刀，在组合曲面之间的过渡区域不会出现大幅度的摆动，适用于组合叶片曲面的磨削数控加工。
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公开(公告)号：CN101963492B
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201010284037.3
申请日：2010-09-17
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于椭圆柱内反射镜的位移检测装置，该装置将凸透镜成像的原理进行巧妙地运用，通过光致发光物质(或漫反射材料)、椭圆柱内反射镜和线阵感光元件将光汇聚点的位置检测转化为线阵感光元件上感光最强点的检测，只需通过计算机便可检测出来。装置包括点光源激光器、凸透镜、椭圆柱内反射镜和线阵感光元件。点光源激光器与椭圆柱内反射镜放置于凸透镜的同一侧；光致发光物质(或漫反射材料)涂在椭圆柱内反射镜的一条焦线上，此焦线与凸透镜的光轴重合；椭圆柱内反射镜的另一焦线放置线阵感光元件，以检测被测表面的位移。该装置结构简单，使用方便，测量精度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102091967A
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN201110045684.3
申请日：2011-02-24
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: B23Q15/013
Abstract: 一种多轴数控加工的进给速度平滑方法，可用于任意标准或异构的多轴联动数控机床，实现其加工复杂曲面时的进给速度平滑。它在多轴数控加工的后置处理阶段，构建多轴联动数控机床的运动学模型，并利用雅可比矩阵计算刀具运动的广义距离，再根据期望的表面切削速度计算每行G代码的名义进给速度。在多轴联动数控加工时，多轴联动数控机床按照名义进给速度运动，刀具切削刃相对于工件被加工表面的实际切削速度即为期望的表面切削速度，且是恒定的，从而实现刀具进给速度平滑，显著提高零件表面加工质量。
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公开(公告)号：CN102081376A
公开(公告)日：2011-06-01
申请号：CN201110045708.5
申请日：2011-02-25
Applicant: 武汉华中数控股份有限公司 , 华中科技大学
IPC: G05B19/18
Abstract: 一种基于指令序列优化的加工负荷控制系统，其结构为：参数设置模块主要用于设置加工参数、加工约束条件、加工零件的CAD数据和加工代码，提供零件的几何模型和加工指令序列代码数据，生成相应的参数文件；学习模块学习零件加工指令序列对应的切削负荷、振动和加工精度，生成包含参数设置信息和本模块学习结果的数据文件，为分析模块提供切削负荷、振动和加工精度信息；分析模块用于完成确定有待优化的位置和加工指令序列代码，并进行图形化显示表示有待优化的位置和加工指令序列代码；优化模块对加工指令序列进行优化，生成新的加工指令序列代码，并统计分析，生成优化后的加工指令序列代码文件。本发明能够在现有条件下实现高精度加工。
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公开(公告)号：CN101750031A
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN200910273162.1
申请日：2009-12-09
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开一种不依赖坐标的二维轮廓形状的测量方法及测量装置，根据本发明，首先通过基于该测量方法实现的测量装置与物体之间的相对运动测得轮廓各处的累积弧长及近似曲率之间的关系数据，然后根据所测量的关系数据重构出物体的二维轮廓形状。本发明提出了一种不依赖坐标的测量方法及测量装置，使得被测对象的尺寸不受测量装置自身的量程限制，并且在二维轮廓形状测量中，更加方便快捷。
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公开(公告)号：CN101434045A
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200810236687.3
申请日：2008-12-05
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: B23Q17/09
Abstract: 本发明公开了一种数控机床电机电流-切削负荷关系标定装置，它包括磁流变旋转阻尼器、磁流变阻尼器控制器、数据采集卡、标定处理器、霍尔传感器、联轴器、模拟刀具、滑块、齿条、支架。磁流变阻尼器通过齿轮、齿条、模拟刀具或者联轴器与机床主轴相连，机床主运动或进给运动转化为磁流变阻尼器轴的转动。根据不同控制参量得到模拟切削负荷大小，实时检测电流数据送入标定处理器进行记录和处理，实现机床电机电流和切削负荷之间的关系的标定。本装置广泛适用于在生产车间条件下进行数控机床的标定，响应速度极快，精度高，环境适应性强，噪声小，无污染。
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公开(公告)号：CN101334656A
公开(公告)日：2008-12-31
申请号：CN200810048524.2
申请日：2008-07-25
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G05B19/406
Abstract: 本发明提出一种数控机床加工性能监控系统，由管理服务器通过工业以太网将多台机床上的监控装置连接起来，监控装置接收机床自身状态数据，采集主轴电机和进给电机的电流以及主轴的振动量，对采集的数据进行处理，将处理结果与机床加工性能判断基准比较，根据设定的控制策略发出控制指令对加工过程进行控制，并将所有相关信息反馈给管理服务器，管理服务器分析机床的加工性能状态和发展趋势。本发明对多台机床自身参数和现场加工状态进行监测，分析机床当前加工性能及其发展趋势，并自适应控制复杂的加工过程，有效保证了加工安全和质量。
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