公开(公告)号：CN116338711A

公开(公告)日：2023-06-27

申请号：CN202310261428.0

申请日：2018-04-06

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 尾崎宪幸 ,  木村祯祐 ,  东谦太 ,  秦武广

IPC: G01S17/10 ,  G01S7/4865

Abstract: 多个光检测器(31)形成受光组，且多个受光组形成一个像素。受光阵列部(3)具备一个以上这样的像素。光检测器通过光子的入射而输出脉冲信号。测量部(4)设置于多个受光组中的每一个受光组。测量部根据从受光组输出的脉冲信号，生成表示从由外部输入的照射定时开始的经过时间的时间信息、以及在根据时间信息确定出的一个以上的定时中的每一个定时获取的光量信息。作为光量信息，使用属于受光组的多个光检测器中的输出脉冲信号的光检测器的数量。

公开(公告)号：CN115380222A

公开(公告)日：2022-11-22

申请号：CN202180023876.6

申请日：2021-03-17

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 尾崎宪幸 ,  村上嘉浩 ,  秦武广 ,  帆足善明 ,  中岛正人

IPC: G01S7/484 ,  G01S7/4865 ,  G01S17/894

Abstract: 本发明涉及测距装置。测距装置(10、10a)具备：发光部(40)、受光部(60)、运算到反射物(OBJ)的距离的运算部(200)以及控制部(270)。运算部具有受光强度确定部(210)、峰值检测部(240)、距离运算部(250)以及距离确定部(510)。控制部控制脉冲光的强度、受光部中的受光灵敏度以及关注区域的位置中的至少一个，以使得至少一次确定第一受光强度作为多个飞行时间中的每个受光强度，并且至少一次确定更高的SN比的第二受光强度作为多个飞行时间中的每个受光强度。距离确定部利用基于第一受光强度的第一距离和基于第二受光强度的第二距离来确定测定对象距离。

公开(公告)号：CN113678021A

公开(公告)日：2021-11-19

申请号：CN202080022913.7

申请日：2020-02-05

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 尾崎宪幸 ,  林内政人 ,  秦武广

IPC: G01S7/497 ,  G01C3/06

Abstract: 测距装置100具备：受光部30，具有用于接受入射光的多个受光区域，以各受光区域为单位来执行入射光的受光；以及发光部20，与各受光区域对应地排他地执行检测光的照射。测距装置100还具备异常判定部10，在根据检测光的照射而由受光部接受入射光时，该异常判定部10根据多个受光区域中的、与排他性的检测光的照射对应的受光对象区域中的入射光强度的特性和与排他性的检测光的照射不对应的受光非对象区域中的入射光强度的特性之间的不同，进行测距装置中的异常判定。

公开(公告)号：CN112567260A

公开(公告)日：2021-03-26

申请号：CN201980053271.4

申请日：2019-08-02

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 尾崎宪幸 ,  清野光宏 ,  木村祯祐 ,  柏田真司

IPC: G01S7/484 ,  G01C3/06 ,  G01S17/894 ,  G01S17/08

Abstract: 本发明涉及光测距装置。光测距装置(10)具备：光源部(20)，对测定范围照射照射光；受光部(30)，具有受光面(32)，上述受光面(32)具有能够接受与照射光的照射对应的来自包含测定范围的范围的反射光的多个受光要素，上述受光部(30)按每个受光要素输出与反射光的受光状态对应的信号；以及测定部(40)，使用从受光部输出的信号来测定到测定范围中的物体的距离。而且，受光部具有通过选择输出信号的受光要素来使接受反射光的受光位置可变的功能，并针对反射光的位置，将受光位置向多个位置变更。

公开(公告)号：CN110462437A

公开(公告)日：2019-11-15

申请号：CN201880022194.1

申请日：2018-03-23

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 秦武广 ,  尾崎宪幸 ,  木村祯祐 ,  东谦太 ,  柏田真司

IPC: G01S17/10 ,  G01C3/06

Abstract: 受光阵列部(31)接受从照射部照射并被物体反射的反射光，并且并列地输出从多个受光部(80c)分别输出的脉冲信号。计时部(33c)计测从被输入表示照射部照射光的定时的照射定时信号起的经过时间。响应获取部(34)按照每个恒定周期的定时，获取多个受光部中的正在输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数，并且输出从响应数中减去或者除以偏差值而得到的调整响应数。存储器(6)将地址与由计时部计测的计时值建立对应关系。直方图生成部(52)累计调整响应数并储存至根据计时部中的计时值确定的存储器的地址，来作为该地址的数据。

公开(公告)号：CN110462426A

公开(公告)日：2019-11-15

申请号：CN201880021577.7

申请日：2018-03-30

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 东谦太 ,  尾崎宪幸 ,  柏田真司 ,  木村祯祐 ,  高井勇 ,  松原弘幸 ,  太田充彦 ,  平塚诚良

IPC: G01S7/486 ,  G01S17/10 ,  H01L31/10 ,  H01L31/107

Abstract: 光检测器具备具有对光子的射入进行响应的SPAD(4)的多个检测部(2)。多个检测部中的至少一个检测部构成为在SPAD对光子的射入进行响应之后，到下次能够进行响应为止的复原时间与多个检测部中的其它的至少一个检测部的SPAD的复原时间不同。