公开(公告)号：CN112913039A

公开(公告)日：2021-06-04

申请号：CN201980068351.7

申请日：2019-10-16

Applicant: 大金工业株式会社

Inventor： 小谷哲浩 ,  酒见沙织 ,  尾藤慎也 ,  金村崇 ,  杉山明平

IPC: H01L41/193 ,  A61B5/11 ,  G01L1/16 ,  H01L41/257 ,  H01L41/318 ,  H04R17/00 ,  H04R17/02

Abstract: 本发明所解决的技术问题在于：提供一种具有良好的压电性的压电膜。上述技术问题能够通过包含偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物膜且剩余极化量为40mC/m2以上的压电膜解决。

公开(公告)号：CN104884942B

公开(公告)日：2019-02-19

申请号：CN201380068407.1

申请日：2013-12-27

Applicant: 大金工业株式会社 ,  东邦化成株式会社

Inventor： 小谷哲浩 ,  向井惠吏 ,  金村崇 ,  高明天 ,  川户进 ,  清水聪

IPC: G01N21/892 ,  C08J7/00

Abstract: 本发明提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其极大地降低了用作光学膜时的、由显示元件产生的影像或图像的质量的劣化。本发明提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其通过后述的缺陷测定方法测得的点状缺陷的数量为2,000个/m2以下。＜缺陷测定方法＞使用外观检查机，按照能够以相对于LED光源为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机，一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描，一边在宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷。就缺陷而言，首先选定明面积为1.5mm2以下且暗面积为1.4mm2以下的缺陷。接着，为除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷，以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形，仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为2.3mm以下、纵横比率为－3.9～+2.7、外接矩形中的占有面积比率为4,000～6,950、且面积比率为‑3,100～+5,200的缺陷作为点状缺陷，利用外观检查机自动地对其个数进行计数。

公开(公告)号：CN108886088A

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：CN201780020474.4

申请日：2017-03-27

Applicant: 东邦化成株式会社 ,  大金工业株式会社

Inventor： 小笠原健 ,  清水聪 ,  川户进 ,  金村崇 ,  小谷哲浩

IPC: H01L41/087 ,  G01L1/16 ,  H01L41/09 ,  H01L41/113 ,  H01L41/193 ,  H01L41/45

CPC classification number: G01L1/16 ,  H01L41/087 ,  H01L41/09 ,  H01L41/113 ,  H01L41/193 ,  H01L41/45

Abstract: 本发明的压电线的特征在于，其具备导电性线(11)和被覆导电性线(11)的高分子压电体层(12)，高分子压电体层(12)含有β型聚偏氟乙烯系共聚物，导电性线(11)的线径为1.0mm以下。另外，上述β型聚偏氟乙烯系共聚物优选为选自偏氟乙烯‑三氟乙烯共聚物以及偏氟乙烯‑四氟乙烯共聚物中的至少一种。

公开(公告)号：CN102834792A

公开(公告)日：2012-12-19

申请号：CN201180016410.X

申请日：2011-02-28

Applicant: 大金工业株式会社 ,  理想星株式会社

Inventor： 小谷哲浩 ,  桑岛祐己 ,  向井惠吏 ,  金村崇 ,  高明天 ,  表研次 ,  大东弘二

IPC: G06F3/041 ,  B32B27/00

CPC classification number: G06F3/041 ,  G06F2203/04105 ,  H01L41/0478 ,  H01L41/1132 ,  H01L41/193

Abstract: 本发明的课题在于提供一种具有更大的有效面积且更高的精度检测触摸压力，且制造成本较低的透明压电片。本发明的透明压电片的特征在于包含：透明压电薄膜，具有四边形形状，该透明压电薄膜含有有机聚合物且整个主面具有压电性；以及第1透明平板电极，其积层于该透明压电薄膜的第1主面的一部分；且上述透明压电薄膜的四边形形状的4边中的1～3边及其附近的第1主面未被第1透明平板电极覆盖。

公开(公告)号：CN102822779A

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：CN201180017080.6

申请日：2011-02-28

Applicant: 大金工业株式会社 ,  理想星株式会社

Inventor： 小谷哲浩 ,  桑岛祐己 ,  向井惠吏 ,  高明天 ,  金村崇 ,  表研次 ,  大东弘二

IPC: G06F3/041 ,  G01L1/16

CPC classification number: G01L1/16 ,  G06F3/041 ,  G06F2203/04105

Abstract: 本发明的课题在于提供一种具有更广的有效面积且能够更高精度地检测触摸压力，制造成本较低且外观优异的带框架的透明压电片。本发明的带框架的透明压电片的特征在于包含，透明压电片，其包含：1个透明压电薄膜，其含有有机聚合物；1个第1透明平板电极，其配置于该透明压电薄膜的第1主面；及1个第2透明平板电极，其配置于该透明压电薄膜的第2主面；上述第1透明平板电极具有第1透明平板电极部，上述第2透明平板电极具有第2透明平板电极部，上述第2透明平板电极部的轮廓于俯视时位于上述第1透明平板电极部的轮廓内侧；及框架，其覆盖上述透明压电片的周缘部；于俯视时，上述第1透明平板电极部的轮廓完全重叠于上述框架，且上述第2透明平板电极部的轮廓完全不重叠于该框架。

公开(公告)号：CN101405585A

公开(公告)日：2009-04-08

申请号：CN200780009853.X

申请日：2007-03-19

Applicant: 大金工业株式会社

Inventor： 石田谦司 ,  桑岛修一郎 ,  松重和美 ,  堀内俊寿 ,  松本有史 ,  小谷哲浩 ,  高明天

IPC: G01J1/02 ,  H01L37/02

CPC classification number: G01J5/34 ,  H01L37/025

Abstract: 本发明提供热电型红外线传感器，其为可以变形且灵敏度高的热电型红外线传感器。所述热电型红外线传感器设有由聚酰亚胺或聚对苯二甲酸乙二醇酯等高分子材料构成的具有可挠性的基板(11)和由偏二氟乙烯(VDF)低聚物构成的层(13)，在VDF低聚物层(13)的上下设置由Al的蒸镀膜等构成的具有可挠性的电极(12)和(14)。通过这些各构成要素的可挠性，本发明的热电型红外线传感器作为整体具有可挠性，可以变形为所期望的形状。此外，由于与以往的热电型红外线传感器中使用的Si等基板相比，由高分子材料构成的基板的热容量和热传导率低，因而可以提高传感器的灵敏度。