一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统

    公开(公告)号:CN108680602A

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201810481646.4

    申请日:2018-05-18

    CPC classification number: G01N25/72

    Abstract: 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统,利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用,利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列,并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理,并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息,与特征数据库中的数据进行分析比对,得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面,利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析,具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点,并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。

    一种复合绝缘子缺陷无损检测方法

    公开(公告)号:CN106950227A

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201710163598.X

    申请日:2017-03-20

    CPC classification number: G01N22/02

    Abstract: 本发明公开了一种复合绝缘子缺陷无损检测方法。该方法步骤如下:A)控制扫频微波信号源发出入射信号,被物理探头发射至待测复合绝缘子内,并产生反射信号和透射信号;接收探头收集该三个信号并传送至分析仪进行处理;B)分析仪根据该三个信号的幅值和相位,进行联合计算得到散射参数S;C)如果已经完成一次完整的扫频检测则进入D),否则调整扫频微波信号源的入射信号频率,并返回A);D)完成一次完整的扫频检测后,得到一列散射参数S,绘制频率‑散射参数S曲线;E)根据曲线的变化情况,对待测复合绝缘子的缺陷进行判定和估计。本发明能够根据复合绝缘子散射参数的变化情况,对其状态及缺陷进行精确高效的诊断。

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