芯片功耗相关参数的确定方法、装置和计算机设备

    公开(公告)号:CN117875233A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311857028.2

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本申请涉及芯片功耗相关参数的确定方法、装置和计算机设备。其中方法包括:获取设计芯片的各结构信息、多个芯片运行模式、以及每个结构信息的结构参数,并构建设计芯片的功耗仿真模型;识别每个芯片运行模式对应的各结构信息的运行策略,并针对每个芯片运行模式,基于各运行策略,分别仿真芯片运行模式的运行进程;识别该芯片运行模式的异常电压分布信息对应的异常结构信息的新结构参数,返回执行上述步骤,直到不存在异常电压分布信息时,得到芯片运行模式对应的各结构信息的结构参数范围;筛选每个结构信息均属于每个芯片运行模式对应的结构参数范围的结构参数,作为目标结构参数。采用本方法能够提升与降低芯片功耗相关的结构参数的调整效率。

    芯片数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117873422A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311868557.2

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本申请涉及一种芯片数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括:获取芯片中待处理的多个数据信息,确定各数据信息相对应的数据处理任务和数据内容,并确定各数据信息相对应的数据内容的数据类型;根据各数据信息相对应的数据处理任务和数据类型,将芯片中待处理的多个数据信息划分为多个数据组;根据各数据组中数据信息相对应的数据内容和数据类型对各数据组中的数据信息进行优先度排序,得到各数据组的运算序列;基于各数据组的运算序列,对多个数据组同时进行数据运算处理,直到芯片中待处理的多个数据信息均完成运算处理。采用本方法能够提升重要度较高的数据信息的运算效率,同时提升芯片数据处理的效率。

    芯片数据缓存方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117873391A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311873751.X

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本申请涉及一种芯片数据缓存方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:获取芯片需要进行处理的待处理数据集合;根据待处理数据集中各待处理数据对应的数据处理任务,对待处理数据集中的数据进行划分,得到各数据处理任务对应的待处理数据子集合;对数据处理任务对应的待处理数据子集合中的数据按照数据类型进行分组,得到数据处理任务对应的各数据类型的待处理数据分组;对数据处理任务对应的各数据类型的待处理数据分组进行数据压缩处理,得到数据处理任务对应的各数据类型的压缩数据;基于芯片的缓存空间空闲状态信息,将压缩数据缓存至匹配缓存位置中。采用本方法能够提高芯片的缓存性能。

    一种低功耗条件下的芯片自检方法、系统、设备及介质

    公开(公告)号:CN119414206A

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202411542979.5

    申请日:2024-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种低功耗条件下的芯片自检方法、系统、设备及介质,所述低功耗条件下的芯片自检方法包括:实时获取芯片的运行功耗;当运行功耗低于预设阈值时,获取芯片的当前运行状态和芯片自检任务;基于芯片自检任务得到各子自检任务;基于当前运行状态和芯片自检任务进行当前芯片自检处理;在完成当前芯片自检处理后,获取新运行状态和剩余芯片自检任务,并基于新运行状态和剩余芯片自检任务继续进行芯片自检处理,直到完成所有子自检任务。由此本发明在运行功耗低于预设阈值时根据当前获取的运行状态和芯片自检任务进行芯片自检,能够在低功耗条件进行芯片自检,进而有效降低芯片自检的功耗。

    一种芯片存储性能的检测方法及装置

    公开(公告)号:CN119296619A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411421392.9

    申请日:2024-10-12

    Abstract: 本发明公开了一种芯片存储性能的检测方法及装置,所述方法包括:获取芯片的检测信息集,所述检测信息集包括芯片存储规格的规格信息、芯片存储性能影响因素的因素信息和芯片存储数据的数据类型的类型信息;利用所述检测信息集生成芯片的多个存储性能测试策略,并记录每个所述存储性能测试策略对应的测试日志信息;采用所述测试日志信息计算芯片的存储性能变化值,基于所述存储性能变化值确定芯片的存储性能检测结果。本发明通过芯片的多种信息构建测试策略,再结合不同测试策略进行综合测试,从而可以提升检测的精准度,降低检测的误差,以满足现有的检测需求。

    一种用于芯片运行过程的检测方法及系统

    公开(公告)号:CN119291458A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411421393.3

    申请日:2024-10-12

    Abstract: 本申请提供一种用于芯片运行过程的检测方法及系统,该方法包括获取检测任务,基于所述检测任务获取若干个检测目标,进而得到若干个所述检测目标对应的若干个原始检测流程,基于若干个所述检测目标,获取若干个所述原始检测流程对应的若干个目标运行流程,基于若干个所述目标运行流程,调整若干个所述原始检测流程,得到若干个最终检测流程,获取当前运行流程,基于所述当前运行流程在若干个所述最终检测流程中识别出当前目标检测流程,基于所述当前目标检测流程对芯片进行检测,得到芯片运行过程的检测结果,实现了芯片运行流程和检测流程的同步进行,并进一步通过对芯片动态运行流程的实时检测,提高了芯片性能检测结果的精确度。

    用于芯片故障的数据应急存储方法、系统和计算机设备

    公开(公告)号:CN119248193A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202411348512.7

    申请日:2024-09-26

    Abstract: 本申请提供一种用于芯片故障的数据应急存储方法、系统和计算机设备,该方法通过预测芯片故障概率和故障区域,在芯片发生故障之前,转移芯片可能故障区域中的数据至其他数据存储区域中,同时改变芯片待存储数据的存储路径,使之避开芯片可能发生故障的区域,在芯片发生故障之前提前保护了芯片数据,避免了在芯片发生故障时未上传芯片数据的损毁,解决了现有技术芯片数据备份存储时效性差,对芯片数据的保护存储不够及时的问题,进一步解决了现有芯片数据备份技术依赖额外服务器和传输网络的问题,提高了芯片数据应急存储的独立性和效率,降低了数据保护的成本。

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