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公开(公告)号：CN103728021B
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201310703202.8
申请日：2013-12-19
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明公开了一种基于电光效应的光谱测量装置，包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、电光效应晶体、第二偏振片、光探测器；其中，第一偏振片的偏振方向与所述电光效应晶体在外加电场下的感应主轴方向不平行。本发明还公开了使用上述装置的光谱测量方法：首先测量对电光效应晶体施加不同外加电压下光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合光谱测量装置在不同外加电压下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合、辐射定标，得到待测入射光的光谱。本发明具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN104570406A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201510062156.7
申请日：2015-02-05
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02F1/01
CPC classification number: G02B26/00 , G02F1/01 , G02F2203/13
Abstract: 本发明公开了一种基于人工表面等离子体的太赫兹波调制方法，属于电磁波调制技术领域。本发明以构建在金属表面的两个一维金属光栅作为人工表面等离子体波的两个传输通道，一个一维金属光栅的等效表面等离子体频率大于所要调制的太赫兹波的最大频率，另一个一维金属光栅的等效表面等离子体频率小于所要调制的太赫兹波的最小频率；所述太赫兹波在两个传输通道中分别处于导通和关断状态，通过这两个传输通道的切换实现对太赫兹波的开关调制。本发明还公开了一种基于人工表面等离子体的太赫兹波调制器件及调制装置。本发明可在正常温度下实现太赫兹波调制，且调制器件调谐频带宽、硬件材料选择范围广，调制过程操作简单、灵活并具有亚波长约束的优势。
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公开(公告)号：CN102739165B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201210216220.9
申请日：2012-06-28
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H03C7/00
Abstract: 本发明公开了一种基于表面等离子体波传输距离的电磁波调制方法。在半导体平板表面上方设置两个相互平行的金属刀片：第一刀片和第二刀片，两个金属刀片的刃口均垂直指向半导体平板表面，且两个金属刀片刃口与半导体板表面的距离相等；从第一刀片的外侧向该刀片的刃口与半导体平板的间隙处发射频率小于半导体等离子体频率的电磁波，在半导体平板表面激发表面等离子体波，该表面等离子体波由第一刀片的刃口下方沿着半导体平板表面向第二刀片的刃口下方传输；在恒定温度下，通过调整两个金属刀片间的距离，使得从第二刀片刃口处耦合出的电磁波的强度发生变化。本发明方法能量消耗小，调谐频带宽，硬件成本低，操作简单、灵活，可实现归零和非归零调制功能。
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公开(公告)号：CN104142178A
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201410357523.1
申请日：2014-07-24
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种基于滤波膜阵列的光谱测量装置，包括沿入射光传播方向依次设置的光学准直装置、滤波膜阵列、探测阵列芯片；所述滤波膜阵列包括一组平行且在入射光方向上互不重叠的滤波膜，各滤波膜在所述探测阵列芯片的测量波段范围内的透射谱线互不相同；所述滤波膜阵列中的每一片滤波膜均有至少一个所述探测阵列芯片的像素元与其正对。本发明还公开了使用上述光谱测量装置的光谱测量方法。相比现有技术，本发明易于制作，成本低廉，利于实现批量生产。
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公开(公告)号：CN104091604A
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201410295733.2
申请日：2014-06-26
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明属于光信息存储技术，具体涉及利用多层平面荧光光波导结构实现数据信息的三维记录和读取。多层波导荧光数据存储器的制作是首先通过在芯层表面上刻印凹坑、将荧光材料填充到刻印好的凹坑内；然后将各个包层和芯层依次交错叠合，组合成一个整体，并保证最外两层是包层。该存储器通过芯层上的有凹坑并填充有荧光材料处与没有凹坑处区分开来，从而记录上“0”或“1”的信号。将寻址光束从波导的侧面耦合到要读取的存储单元并在芯层的上下两个交界面上发生全反射，激发作为信息符的荧光材料发出荧光，这样就会在黑暗的背景上显示出发光的数据点，该层数据通过光学系统呈像，且进一步转换为数字量，从而实现数据读取。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103759831A
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201410001178.8
申请日：2014-01-03
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本发明还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本发明具有成本较低、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN103728019A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201310706216.5
申请日：2013-12-19
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/433
Abstract: 本发明公开了一种基于声光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明的光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的声光调制器、光探测器。本发明还公开了一种基于声光调制的光谱测量方法，首先测量不同声场强度下光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合所述光探测器在不同声场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合，并经光谱辐射定标，得到待测入射光的光谱。相比现有技术，本发明具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等显著优点。
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公开(公告)号：CN102739165A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210216220.9
申请日：2012-06-28
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H03C7/00
Abstract: 本发明公开了一种基于表面等离子体波传输距离的电磁波调制方法。在半导体平板表面上方设置两个相互平行的金属刀片：第一刀片和第二刀片，两个金属刀片的刃口均垂直指向半导体平板表面，且两个金属刀片刃口与半导体板表面的距离相等；从第一刀片的外侧向该刀片的刃口与半导体平板的间隙处发射频率小于半导体等离子体频率的电磁波，在半导体平板表面激发表面等离子体波，该表面等离子体波由第一刀片的刃口下方沿着半导体平板表面向第二刀片的刃口下方传输；在恒定温度下，通过调整两个金属刀片间的距离，使得从第二刀片刃口处耦合出的电磁波的强度发生变化。本发明方法能量消耗小，调谐频带宽，硬件成本低，操作简单、灵活，可实现归零和非归零调制功能。
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公开(公告)号：CN102636491A
公开(公告)日：2012-08-15
申请号：CN201210111269.8
申请日：2012-04-17
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种基于表面等离子体波的半导体缺陷检测方法，用于检测半导体表面平整度或半导体薄膜内部缺陷。本发明利用频率小于半导体等离子体频率的电磁波入射向刀片刃口与待测半导体之间的狭缝，从而在半导体表面产生表面等离子体波。该表面等离子体波可以从另一刀片刃口与待测半导体之间的狭缝位置处耦合为空间辐射电磁波，从而被探测器接收。通过改变刀片与半导体在水平方向的相对位置，当待测半导体表面或内部存在的缺陷的位置有表面等离子体波经过时，出射电磁波信号会产生相应变化，从而可根据此原理对半导体表面不平整或半导体内部缺陷进行检测。相比现有技术，本发明方法具有适用范围广、使用灵活、检测精度高、检测样品无损伤等优点。
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公开(公告)号：CN203719771U
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201420001690.8
申请日：2014-01-03
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本实用新型公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本实用新型还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本实用新型具有成本较低、分辨率高、测量范围宽等优点。
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