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公开(公告)号：CN114301585A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111360712.0
申请日：2021-11-17
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： H04L9/08
摘要： 本发明实施例提供一种标识私钥的使用方法，属于计算机安全技术领域。所述标识私钥的使用方法包括：依次获取私钥参数，并生成一组标识私钥，其中所述一组标识私钥中的每个标识私钥对应一个标识私钥生成函数标识符；以及选取所述一组标识私钥中的一个标识私钥进行使用，并公开对应的所述标识私钥生成函数标识符。用户端内置多个标识私钥，并公开相应的标识私钥生成函数标识符，可以使标识私钥的使用和更新简单、安全、高效，不会降低公钥的自证性，也不会影响其他用户。
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公开(公告)号：CN107861047B
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201711058364.5
申请日：2017-11-01
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网新疆电力公司检修公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司 , 国网辽宁省电力有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了一种安全测试模式的检测系统及检测方法，检测系统用以防止芯片的测试电路被废止后再次进入安全测试模式，安全测试模式的检测系统包含：时序逻辑控制模块、检测电路模块以及触发模块。触发模块用于根据通断状态，产生高电平或低电平的触发信号。时序逻辑控制模块根据低电平的触发信号，输出高电平的测试模式信号，从而使得芯片能够进入安全测试模式；或，时序逻辑控制模块根据高电平的触发信号，输出低电平的测试模式信号，从而使得检测电路模块输出自毁信号使芯片进行自毁操作。借此，本发明的安全测试模式的检测系统，多重保证提高了对芯片敏感信息的保护效力，符合绝大部分工艺实现需求，可广泛应用于各类安全芯片。
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公开(公告)号：CN116561772A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202310844077.6
申请日：2023-07-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种可信静态度量值计算方法、装置、存储介质及处理器，属于信息安全领域。所述可信静态度量值计算方法包括：获取待度量文件，所述待度量文件包括应用源数据和应用属性数据；采用哈希算法对所述应用源数据进行哈希运算，得到第一哈希结果；将所述第一哈希结果与所述应用属性数据进行拼接，并对拼接后的数据进行哈希运算，得到静态度量值。通过将应用源数据和应用属性数据加入到静态度量值的计算过程中，使得计算得到的静态度量值是基于多个因子得到的，相对于现有技术中采用单一源数据计算，采用本实施例中的方法计算得到静态度量值更加完整，提高了静态度量值的可靠性。
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公开(公告)号：CN115113019A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210553120.9
申请日：2022-05-20
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种芯片动态功耗测试系统及方法，属于芯片评价技术领域。所述系统包括：测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；示波器，所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源通道连接，第二端口与所述测试芯片的I/O管脚连接，所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；所述电流探头，用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。本发明方案搭建了一套简单、易用、易实现的、可自动化获取安全芯片算法动态功耗结果的测试环境。
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公开(公告)号：CN114329649A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111357657.X
申请日：2021-11-16
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种加密硬盘的密钥保护方法、使用方法、及密钥管理系统，属于计算机安全领域。所述加密硬盘的密钥保护方法包括：通过用户USBKey生成因子，生成密钥加密密钥；通过所述密钥加密密钥对所述加密硬盘的数据加密密钥进行加密，并将对应的密文存入所述加密硬盘；以及对所述用户USBKey生成因子进行加密，并将对应的密文存入用户USBKey。本发明实施例通过不直接存储数据加密密钥DEK或密钥加密密钥KEK，而且存储加密的USBKey生成因子UKGF的方式，可以实现即使密文被破解，也只会得到USBKey生成因子UKGF，无法直接获取相关密钥，安全性更高。
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公开(公告)号：CN112100013A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202011290441.1
申请日：2020-11-18
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明实施方式涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统。所述方法包括：所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。同时还提供了对应的装置和系统。本发明提供的实施方式，能够提升安全芯片SPI接口的测试效率。
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公开(公告)号：CN106571924B
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201610922043.4
申请日：2016-10-21
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网新疆电力公司检修公司 , 国网辽宁省电力有限公司
IPC分类号： H04L9/32
摘要： 本发明公开了一种物理不可克隆函数电路，包括：n个级联的数据延迟电路、n个时钟延迟电路和仲裁器；数据延迟电路的控制端用于接收随机控制信号；数据延迟电路的第一输出端和第二输出端分别与下级数据延迟电路的第一输入端和第二输入端相连；n个数据延迟电路的数据端依次分别与n个时钟延迟电路的输入端相连；时钟延迟电路的输出端与仲裁器相连，时钟延迟电路的时终端接收时钟信号；仲裁器用于根据n个时钟延迟电路输出的信号确定输出数据。该电路可以同时引入数据延迟偏差和时钟延迟偏差，增加了数学建模的难度，从而增加PUF电路的安全性。
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公开(公告)号：CN106301761B
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201610647528.7
申请日：2016-08-09
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司
IPC分类号： H04L9/06
摘要： 本发明涉及一种基于密码杂凑算法的压缩方法及装置，方法包括：获取各变量字的初值和预计算扩展字；对第一变量字、第二变量字、第三变量字的初值进行布尔函数处理；将预计算扩展字、第一变量字的初值、补偿结果以及布尔函数处理后的结果进行压缩加和处理，其中，补偿结果为进行预设位数移位后的常数与预设的补偿值的和；对压缩加和处理后的结果进行选择；对选择后的加和处理后结果进行置换运算，得到当前周期的第一变量字的压缩结果，可以缩短算法中的关键路径，降低关键路径时延，提高电路的吞吐率。
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公开(公告)号：CN106301761A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610647528.7
申请日：2016-08-09
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司
IPC分类号： H04L9/06
CPC分类号： H04L9/0643 , H04L2209/125
摘要： 本发明涉及一种基于密码杂凑算法的压缩方法及装置，方法包括：获取各变量字的初值和预计算扩展字；对第一变量字、第二变量字、第三变量字的初值进行布尔函数处理；将预计算扩展字、第一变量字的初值、补偿结果以及布尔函数处理后的结果进行压缩加和处理，其中，补偿结果为进行预设位数移位后的常数与预设的补偿值的和；对压缩加和处理后的结果进行选择；对选择后的加和处理后结果进行置换运算，得到当前周期的第一变量字的压缩结果，可以缩短算法中的关键路径，降低关键路径时延，提高电路的吞吐率。
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公开(公告)号：CN118312372A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410744647.9
申请日：2024-06-11
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明提供一种固态硬盘异常掉电测试方法、系统及装置，属于硬盘测试技术领域。固态硬盘异常掉电测试方法包括：获取配置策略，并基于配置策略，生成掉电协议报文，配置策略包括与各个待测固态硬盘对应的掉电策略；执行测试脚本，并在执行测试脚本到达预设的掉电测试点时，根据掉电协议报文，对各个待测固态硬盘进行掉电控制；在完成对各个待测固态硬盘进行掉电控制之后，查询得到各个待测固态硬盘当前状态；基于各个待测固态硬盘当前状态，得到异常掉电测试结果。通过采用协议报文控制待测固态硬盘异常掉电测试，能够提供一对多的固态硬盘掉电测试，无需增加更多设备，成本更低，测试效率提升不依赖于设备的增加。
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