公开(公告)号：CN201937551U

公开(公告)日：2011-08-17

申请号：CN201120012294.1

申请日：2011-01-14

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 吕长志 ,  彭振宇 ,  佘烁杰 ,  孟宪磊 ,  黄月强 ,  范宇 ,  张健 ,  盖辰宁 ,  王任卿

IPC: H03G3/20 ,  H03F3/45

Abstract: 本实用新型公开了一种基于可编程增益放大器（PGA单元）的信号处理电路，包括：输入信号保持单元，用于对输入的小信号的进行保持；PGA单元，与上述的输入信号保持单元连接，用来选择输入的小信号的增益衰减幅度；加减法运算单元，其与上述的PGA单元输出相连接，用来实现对PGA单元输出不同信道的小信号幅度进行加减法运算；输出信号保持单元，与上述的加减法运算单元连接，实现对已完成加减法运算的信道小信号进行保持，并将其传送到电路的输出端。本信号处理电路解决了PGA电路仅仅只能对单一信道的输入信号增益进行处理而不能处理多信道信号之间增益的相互影响的问题，可更好的完成对输入的不同信道之间的信号增益处理，给设计者带来很大的自由度。

公开(公告)号：CN2901333Y

公开(公告)日：2007-05-16

申请号：CN200520128067.X

申请日：2005-10-14

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 冯士维 ,  谢雪松 ,  吕长志 ,  程尧海

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/66

Abstract: 本实用新型属半导体器件测量领域。目前温升和热阻测量操作复杂，周期长，有的有破坏性。本装置：被测器件(401)放在恒温平台(403)上；计算机(100)通过接口(200)接采集器(205)；(205)分三路：一路接三路开关(303)，接到被测器件(401)；二路接采样电阻(501)后接三路开关(303)，再接测试电流源(201)；(201)的一端接接口(200)，一端接电流开关(301)；三路接采样电阻(502)后接三路开关(303)，再接工作电流源(202)；(202)的一端接接口(200)，一端接电流控制开关(301)；(301)输入两端接测试电流源(201)和工作电流源(202)；输出端接参考负载(402)和被测器件(401)，控制端接时序发生器(203)；采集器(204)一端接接口(200)，一端接到高速截取放大器(302)；高速截取放大器(302)接器件(401)。本实用新型非破坏性，可测瞬态加热响应曲线，从而分辨器件热阻构成。