无机固体电解质和锂电池元件

    公开(公告)号:CN1465114A

    公开(公告)日:2003-12-31

    申请号:CN02802450.8

    申请日:2002-02-22

    CPC classification number: H01M10/0562 H01B1/10 H01M2/1673 H01M6/18 H01M6/188

    Abstract: 一种硫化物基无机固体电解质,它可抑制硫化硅与金属锂之间的反应,即使是当所述电解质与所述金属锂处于接触状态时也是如此,一种形成所述电解质的方法,和一种含有所述电解质的锂电池元件和锂二次电池。所述电解质含有Li、P和S,但不含Si。理想地,当采用一种配带有能够保持低于1.33×10-9hPa的超真空的分析室的XPS进行分析时,在下述两个元件之间的边缘区域,所述氧含量,从所述电解质到所述含锂物质,是逐渐变化的,而且,在所述含锂物质表面上的含氧层,几乎完全被除去。所述电解质可以这样的方式形成,使得至少部分所述形成步骤,与采用惰性气体离子照射所述表面以蚀刻所述基底表面的步骤是同时进行的。

    固体电解质及其制造方法
    36.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101075500B

    公开(公告)日:2011-04-20

    申请号:CN200710103948.X

    申请日:2007-05-15

    Inventor: 太田进启

    CPC classification number: H01M10/0562 H01M2/145 H01M2300/002

    Abstract: 提供一种固体电解质及其制造方法。该固体电解质含有x原子%的锂、y原子%的磷、z原子%的硫和w原子%的氧,其中x、y、z和w满足以下表达式(1)-(5):20≤x≤45...(1)、10≤y≤20...(2)、35≤z≤60...(3)、1≤w≤10...(4)、x+y+z+w=100...(5),并且在利用Cu的Kα射线通过X射线衍射法所测得的X射线衍射图中,X射线衍射峰的顶点分别位于X射线衍射图中的以下衍射角2θ:16.7°±0.25°、20.4°±0.25°、23.8°±0.25°、25.9°±0.25°、29.4°±0.25°、30.4°±0.25°、31.7°±0.25°、33.5°±0.25°、41.5°±0.25°、43.7°±0.25°和51.2°±0.25°,各X射线衍射峰的半宽均在0.5°以下。

    电池结构体以及使用该电池结构体的锂二次电池

    公开(公告)号:CN101395754A

    公开(公告)日:2009-03-25

    申请号:CN200780008058.9

    申请日:2007-12-13

    Inventor: 太田进启

    Abstract: 本发明涉及一种电池结构体,其包括依次设置的正极层、固体电解质层和负极层,其中,除了不可避免的杂质以外,所述固体电解质层的化学组成以式aLi·bX·cS·dY表示,其中X为磷(P)和硼(B)中的至少一种元素,Y为氧(O)和氮(N)中的至少一种元素,a.b.c和d的总和为1,a为0.20至0.52、b为0.10至0.20、c为0.30至0.55、以及d为0至0.30。所述固体电解质层包括与所述负极层相接触的A部分和与所述正极层相接触的B部分,并且所述A部分中的d大于所述B部分中的d。本发明还涉及一种包括所述电池结构体的锂二次电池。

    固体电解质及其制造方法
    39.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101075500A

    公开(公告)日:2007-11-21

    申请号:CN200710103948.X

    申请日:2007-05-15

    Inventor: 太田进启

    CPC classification number: H01M10/0562 H01M2/145 H01M2300/002

    Abstract: 提供一种固体电解质及其制造方法。该固体电解质含有x原子%的锂、y原子%的磷、z原子%的硫和w原子%的氧,其中x、y、z和w满足以下表达式(1)-(5):20≤x≤45…(1)、10≤y≤20…(2)、35≤z≤60…(3)、1≤w≤10…(4)、x+y+z+w=100…(5),并且在利用Cu的Kα射线通过X射线衍射法所测得的X射线衍射图中,X射线衍射峰的顶点分别位于X射线衍射图中的以下衍射角2θ:16.7°±0.25°、20.4°±0.25°、23.8°±0.25°、25.9°±0.25°、29.4°±0.25°、30.4°±0.25°、31.7°±0.25°、33.5°±0.25°、41.5°±0.25°、43.7°±0.25°和51.2°±0.25°,各X射线衍射峰的半宽均在0.5°以下。

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