公开(公告)号：CN114008523B

公开(公告)日：2023-10-13

申请号：CN201980097686.1

申请日：2019-06-20

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 小川新平 ,  岛谷政彰 ,  福岛昌一郎

IPC: G02F1/29 ,  G02F1/01

Abstract: 反射光学元件(1)具备绝缘层(3)、格子群(5)、背面电极(21)以及电压施加部(23)。格子群(5)包括具备格子(7i)和格子(7j)的多个格子(7)。多个格子(7)分别具有层叠电介质层(11)和石墨烯层(13)的构造。电压施加部(23)具有对格子群(5)分别单独地施加电压的功能。电压施加部(23)包括对格子(7i)施加第1电压的电压施加部(23i)和对格子(7j)施加第2电压的电压施加部(23j)。

公开(公告)号：CN116529571A

公开(公告)日：2023-08-01

申请号：CN202180071357.7

申请日：2021-08-24

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 岛谷政彰 ,  小川新平 ,  福岛昌一郎 ,  奥田聪志

IPC: G01J1/02

Abstract: 电磁波检测器(100)具备半导体层(4)、二维材料层(1)、第1电极部(2a)、第2电极部(2b)以及铁电体层(5)。二维材料层(1)与半导体层(4)电连接。第1电极部(2a)与二维材料层(1)电连接。第2电极部(2b)经由半导体层(4)与二维材料层(1)电连接。铁电体层(5)与第1电极部(2a)、第2电极部(2b)以及半导体层(4)的至少任意一个电连接。电磁波检测器(100)构成为对于二维材料层(1)屏蔽从铁电体层(5)产生的电场。或者，铁电体层(5)被配置成在俯视时与二维材料层(1)不重叠。

公开(公告)号：CN115315818A

公开(公告)日：2022-11-08

申请号：CN202080098843.3

申请日：2020-03-27

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 奥田聪志 ,  小川新平 ,  福岛昌一郎 ,  岛谷政彰

IPC: H01L31/108

Abstract: 电磁波检测器(100A)具备：半导体基板(1)；第1绝缘膜(2)，配置于半导体基板上，并且以使半导体基板的一部分露出的方式形成；第1电极(3)，配置于第1绝缘膜上；二维材料层(5)，具有在半导体基板的一部分与半导体基板肖特基接合的接合部(12)，从接合部经由第1绝缘膜之上而延伸至第1电极；第2电极(6)，与半导体基板接触；以及控制电极(7)，在俯视时配置于接合部的周围的至少一部分，并且与半导体基板肖特基接合。

公开(公告)号：CN108701737B

公开(公告)日：2021-10-08

申请号：CN201680081193.5

申请日：2016-02-24

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 岛谷政彰 ,  小川新平 ,  藤泽大介 ,  奥田聪志

IPC: H01L31/10

Abstract: 对电磁波进行光电变换而检测的电磁波检测器包括：基板；绝缘层，设置于基板之上；石墨烯层，设置于绝缘层之上；一对电极，设置于绝缘层之上，分别与石墨烯层的两端连接；以及接触层，被设置成与石墨烯层接触，接触层由具有极性基团的材料构成，接触层与石墨烯层接触，从而在石墨烯层中形成有电荷。