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公开(公告)号:CN101465449B
公开(公告)日:2014-01-01
申请号:CN200810149261.4
申请日:2008-09-22
Applicant: 三美电机株式会社
IPC: H01M10/48 , G01R31/36 , G01R31/02 , G01R19/165
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够确保在由多个二次电池构成的电池单元的内部发生短路时的安全性的电池组、便携设备、电池组的内部短路检测方法以及内部短路检测程序。电池组(100)检测停止电池单元(111)的充放电的时刻的电压和在停止充放电的状态下经过规定时间后的电池单元(111)的电压,根据两者的电压差检测电池单元(111)的内部短路。
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公开(公告)号:CN101034139B
公开(公告)日:2011-11-02
申请号:CN200710005763.5
申请日:2007-02-13
Applicant: 三美电机株式会社
CPC classification number: G01R31/361 , G01R31/3648 , H03H17/0671 , H03M3/43 , H03M3/456 , H03M3/462
Abstract: 本发明以提供一种能够以简单的构成将模拟信号变换成数字数据来进行数字处理的数字信号处理装置为目的。数字信号处理装置具有:对模拟信号进行脉冲密度调制并输出脉冲密度调制信号的调制部件(112);存储了将脉冲密度调制信号变换成脉冲码调制数据的变换程序(141)的存储器(114);以及从调制部件(112)被供给脉冲密度调制信号,并基于存储器中所存储的变换程序,将脉冲密度调制信号变换成作为数字信号的脉冲码调制数据的CPU(113),将模拟信号变换成数字信号来进行数字处理。
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公开(公告)号:CN101025437B
公开(公告)日:2011-07-20
申请号:CN200710005761.6
申请日:2007-02-13
Applicant: 三美电机株式会社
CPC classification number: H02J7/0047 , H02J2007/005
Abstract: 本发明以提供一种能够较小地抑制电流消耗,且能够进行准确的电池余量检测的电池余量检测电路为目的。其具有:检测电池(102)的充放电电流的电流检测部件(123);在用电流检测部件(123)检测出的充放电电流小于等于规定值时以第1时间间隔,在充放电电流超过上述规定值时则以比第1时间间隔短的第2时间间隔,对充放电电流进行累计来测定电池(102)之余量的余量测定部件(112、113);以及在充放电电流超过基准值时生成中断信号并对余量测定部件(112、113)指示电池余量的测定的中断信号生成部件(116)。
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公开(公告)号:CN101022180B
公开(公告)日:2010-12-01
申请号:CN200710005762.0
申请日:2007-02-13
Applicant: 三美电机株式会社
CPC classification number: H01M10/44
Abstract: 本发明以提供一种可以具有电池余量的检测功能,且小型化的电池组为目的。本发明的电池组具有:电池(101);检测电池的充放电电流,并输出与充放电电流相应的模拟信号的电流检测部件(133);对模拟信号进行脉冲密度调制并输出脉冲密度调制信号的调制部件(122);存储了将脉冲密度调制信号变换成脉冲码调制数据的变换程序(147)、和对脉冲码调制数据进行累计而算出电池余量的余量计算程序(148)的存储器(124);以及从调制部件(122)被供给脉冲密度调制信号,并基于存储器(124)中所存储的变换程序将脉冲密度调制信号变换成作为数字信号的脉冲码调制数据,基于存储器(124)中所存储的余量计算程序对脉冲码调制数据进行累计而算出电池余量的CPU(123)。
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公开(公告)号:CN1812087B
公开(公告)日:2010-10-06
申请号:CN200510087158.8
申请日:2005-07-27
Applicant: 三美电机株式会社
CPC classification number: H02J7/0091 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , H01L2224/48145 , H02J7/0031 , H01L2924/00014 , H01L2924/00 , H01L2924/00012
Abstract: 本发明涉及电池保护IC芯片。本发明的目的在于提高锂离子电池保护模块中的充电放控制用FET的温度检测精度。本发明的技术方案中,控制IC芯片(120)除具有放电过电流检测部(VD3)、充电过电流检测部(VD4)外,还具有温度检测部(148)。通过将控制IC芯片(120)重叠地装在充电控制用FET芯片及放电控制用FET芯片的上面,可以将温度检测部(148)配置成与充电控制用FET芯片及放电控制用FET芯片极为靠近,从而可以对充电控制用FET芯片及放电控制用FET芯片的温度进行高精度的检测。
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公开(公告)号:CN101465449A
公开(公告)日:2009-06-24
申请号:CN200810149261.4
申请日:2008-09-22
Applicant: 三美电机株式会社
IPC: H01M10/48 , G01R31/36 , G01R31/02 , G01R19/165
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够确保在由多个二次电池构成的电池单元的内部发生短路时的安全性的电池组、便携设备、电池组的内部短路检测方法以及内部短路检测程序。电池组(100)检测停止电池单元(111)的充放电的时刻的电压和在停止充放电的状态下经过规定时间后的电池单元(111)的电压,根据两者的电压差检测电池单元(111)的内部短路。
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公开(公告)号:CN101025437A
公开(公告)日:2007-08-29
申请号:CN200710005761.6
申请日:2007-02-13
Applicant: 三美电机株式会社
CPC classification number: H02J7/0047 , H02J2007/005
Abstract: 本发明以提供一种能够较小地抑制电流消耗,且能够进行准确的电池余量检测的电池余量检测电路为目的。其具有:检测电池(102)的充放电电流的电流检测部件(123);在用电流检测部件(123)检测出的充放电电流小于等于规定值时以第1时间间隔,在充放电电流超过上述规定值时则以比第1时间间隔短的第2时间间隔,对充放电电流进行累计来测定电池(102)之余量的余量测定部件(112、113);以及在充放电电流超过基准值时生成中断信号并对余量测定部件(112、113)指示电池余量的测定的中断信号生成部件(116)。
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公开(公告)号:CN1324704C
公开(公告)日:2007-07-04
申请号:CN03156853.X
申请日:2003-09-10
Applicant: 三美电机株式会社
CPC classification number: H01L27/0255
Abstract: 本发明提供一种半导体设备包括一衬底;形成于衬底上;形成于阱区上场效应晶体管;一扩散区,包括相互连接形成PN结以将背栅电位提供给该阱区的N型扩散区和P型扩散区,该扩散区形成于该阱区和衬底上,以便横跨该阱区和衬底的边缘;第一终端,连接于该场效应晶体管的漏极和该N型扩散区;和第二终端,连接于该场效应晶体管的源极和该P型扩散区;其中场效应晶体管和PN结在该第一和第二终端之间连接以吸收过载电流,这样保护了与终端相连的内电路。
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公开(公告)号:CN1755385A
公开(公告)日:2006-04-05
申请号:CN200510051022.1
申请日:2005-02-25
Applicant: 三美电机株式会社
CPC classification number: H01M10/42 , H02J7/0031 , H02J2007/0037 , H02J2007/004
Abstract: 本发明,提供一种过充电/过放电检测装置(114),其具有将二次电池(113)与外部电路连接或者将二次电池(113)从外部电路切断的开关单元(M11、M12),以及检测出二次电池(113)的状态并控制开关单元(M11、M12)的控制单元(141、142、143、144、146、147、148、149),其特征在于,具有通常被置成了开放状态的检测端子(T14)和检测出检测端子(T14)上施加了电压的检测单元(145);控制单元(141、142、143、144、146、147、148、149),在由检测单元(145)检测出检测端子(T14)上施加了电压时,使开关单元(M11、M12)断开,将二次电池(113)从外部电路切断。
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公开(公告)号:CN1661379A
公开(公告)日:2005-08-31
申请号:CN200410104198.4
申请日:2004-12-30
Applicant: 三美电机株式会社
IPC: G01R19/165 , H01M10/42
CPC classification number: H02J7/0031 , G01R19/0092 , G01R19/16571
Abstract: 本发明涉及电流检测电路和保护电路,其通过电流—电压变换元件把输入电流变换成电压、比较被变换过的电压和基准电压、输出对应其大小关系的输出信号,能够考虑温度特性进行电流检测。本发明的电流检测电路(11)包括:产生与输入电流相对应的电压的电流—电压变换元件(Rs),生成基准电压(Vref)的基准电压生成电路(41),输出对应由上述电流—电压变换元件(Rs)变换过的电压(Vs)与在基准电压生成电路(41)生成的基准电压(Vref)的大小关系的输出信号的比较器(42),其特征在于,基准电压生成电路(41)设定为赋予上述基准电压(Vref)预设的温度特性的元件构造。
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