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公开(公告)号:CN102334024A
公开(公告)日:2012-01-25
申请号:CN200980157701.3
申请日:2009-12-23
Applicant: 哈利伯顿能源服务公司
IPC: G01N21/21
CPC classification number: G01N21/31 , E21B49/088 , G01J3/021 , G01J3/4532 , G01J3/4535 , G01J2003/4534 , G01N21/33 , G01N21/35 , G01N21/3577 , G01N2021/3595
Abstract: 本发明涉及用于通过干涉图(具有包含鉴别频率分量的时间变化的频率分量的光束)进行井下光学分析的各种系统和方法。通过在光路中引入干涉仪来产生干涉图,干涉仪的两臂具有以时间为函数变化的传播时间差。光在干涉仪之前或之后与待分析材料相遇,待分析材料例如为来自地层的流体样品、钻孔流体样品、矿样或钻孔壁的一部分。材料的光谱特性会留在光束上,并且可通过执行傅立叶变换以获得光谱或者能够与一个或多个模板相比较的电子处理装置容易地分析所述光谱特性。被设计成在不利的井下环境中良好运行的干涉仪有望实现实验室质量的测量。
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公开(公告)号:CN1025757C
公开(公告)日:1994-08-24
申请号:CN91109595.0
申请日:1991-09-28
Applicant: 岛津制作所
Inventor: 吉川治
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/4532
Abstract: 一种双光束干涉仪包括:两立方角镜相对且共用一或两镜面而形成一整体的两镜面组,并被驱动而在包括两相对棱边的平面或包括由两公共镜面所形成的棱边的平面上作往复转动,一分束片被设在两立方角镜的前面以反射部分入射光并导向两立方角镜的一个,同时,透射入射光的余下部分并导向两立方角镜的另一个,从而在从立方角镜反射出的光分量之间产生干涉。按照本发明,组装时可简化调整并能在有温度变化和振动干扰时稳定地工作。
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