公开(公告)号：CN106716070A

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201680002822.0

申请日：2016-04-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 平野裕幸 ,  福冈诚二 ,  大山俊彦 ,  守屋贵裕 ,  成田薰

IPC: G01D5/12

CPC classification number: G01D5/12 ,  G01D5/147

Abstract: 本发明所涉及的位置检测装置(1)具备：第1磁体(3)和第2磁体(5)，以及检测由第1磁体(3)以及第2磁体(5)产生的磁场的方向的检测元件(7)，第1磁体(3)和第2磁体(5)通过相同极性相对来进行配置，受检测元件(7)检测的磁场的方向因检测对象物(D)在第1磁体(3)和第2磁体(5)的相对方向上的移动而发生变化。

公开(公告)号：CN106461418A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580033386.9

申请日：2015-01-28

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 平野裕幸 ,  福冈诚二 ,  铃木启史 ,  守屋贵裕 ,  成田薰

IPC: G01D5/12

CPC classification number: G01D5/14 ,  G01D5/145

Abstract: 本发明提供一种即便只有一个对象磁铁也能够进行合适的位置检测的磁式位置检测装置。磁式位置检测装置具备：偏置磁铁(1)、磁检测元件(2)、对象磁铁(3)和移动体(4)。偏置磁铁(1)和对象磁铁(3)相互异极相对。磁检测元件(2)设置于偏置磁铁(1)的与对象磁铁(3)相对的磁极面的前方。磁检测元件(2)相对于偏置磁铁(1)固定配置，并且与偏置磁铁(1)的相对位置关系被固定。磁检测元件(2)的位置上的磁场的方向根据对象磁铁(3)的移动而变化。磁检测元件(2)检测被施加于自身的磁场的方向。