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公开(公告)号：CN112269070B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202010899978.1
申请日：2020-08-31
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种天线测试双极化探头的通道平衡方法和系统，该方法包括：根据待测天线的极化类型，确定双极化通道探头的通道平衡初始位置；获取双极化通道探头在通道平衡初始位置时的两个极化对应的幅度和相位；按照预设转动规则，对双极化通道探头进行多次转动，直至双极化通道探头重新回到通道平衡初始位置；同时获取每次转动过程中两个极化对应的幅度和相位；根据获取的幅度和相位，进行通道平衡，得到通道平衡数据。本发明消除了传统通道平衡方法中由于旋转关节和电缆扭动影响，通过数学算法利用误差对消得到祛除旋转关节和电缆扭动影响后的通道平衡数据，在不添加额外硬件设备的基础上利用天线测试系统自身完成通道平
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公开(公告)号：CN112255469B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202010899976.2
申请日：2020-08-31
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种无参考信号的天线任意曲面近场测试相位获取装置和方法，该装置包括：信号源，用于产生射频测试信号；标准发射天线，用于将射频测试信号发送至处于接收状态的待测天线；待测天线，用于将射频测试信号发送至标准接收天线，以及生成的响应信号Ⅰ；标准接收天线，用于生成响应信号Ⅱ；数字接收机，用于对响应信号Ⅰ/Ⅱ进行处理后得到幅度和相位；控制计算机，用于根据幅度和相位进行近远场变换，得到远场方向图。本发明采用数字采样方式，通过“0”中频取得测试路相位，最终得到整个扫描面的所有位置的相位分布，无需参考路比幅比
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公开(公告)号：CN115356549A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210880097.4
申请日：2022-07-25
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种太赫兹紧缩场天线方向图测试方法，包括：安装待测天线，确定待测天线坐标系和场地坐标系之间的关系；控制转台转动，获得待测天线的远场幅度方向图数据和相位方向图数据，进一步获得电场复数值；对电场复数值乘以虚数系数然后进行快速傅里叶变换，确定方向图系数；对方向图系数进行扩展，然后进行快速傅里叶变换的逆变换，获得加密后的电场复数值。本发明利用普通紧缩场测试设备，无需增加额外硬件设备，仅通过数据处理计算得到更高分辨率的方向图数据，提高了天线的测试精度。本发明的加密属于无损加密，与实际增加采样密度得到的方向图可以达到完全重合的效果，与普通的数值插值算法有很大的不同，特别是对于方向图零深可以做到无损还原。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115327462A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210818969.4
申请日：2022-07-12
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种紧缩场极化校准方法，包括：建立紧缩场测试环境；对待测天线进行第一极化第一次测试、第二次测试及第二极化测试，分别得到远场幅度方向图和相位方向图；通过分析第一极化的两次测试结果，得到幅度修正因子和相位修正因子，对第二极化测试结果进行修正，得到待测天线的幅度方向图与相位方向图。通过本方法，提高了紧缩场测试天线的精度，特别是针对太赫兹频段的紧缩场，由于波长更短，位置偏差影响更加剧烈，本修正方法的效果更加明显。
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公开(公告)号：CN107219410B
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201710478259.0
申请日：2017-06-21
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于探头扫频位移偏移量的平面近场测量修正方法，包括如下步骤：(1)、对待测天线进行安装和场地校准，建立平面近场测试环境；(2)、对天线进行平面近场测量，得到N个频率的远场方向图i＝1～N；(3)、移动测试探头分别采集N个频率的+Y方向一维平面近场幅相分布数据和‑Y方向一维平面近场幅相分布数据(4)、计算每一个频率测量对应的探头沿近场扫描平面Y轴方向的扫频位移偏移量Δyi；(5)、对远场方向图进行修正，得到修正本发明在保证扫描架连续运动的高效测量模式下，修正了由于扫描架连续运动导致的探头位移引起的天线辐射特性测试误差，提高了天线的测试精度。
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公开(公告)号：CN106405256B
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201610752000.6
申请日：2016-08-26
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，本发明采用一种T型导轨，通过对扫描面区域内暗室散射的检测，得到该扫描区域的暗室散射场分布。利用算法补偿该区域内天线测试由于暗室散射带来的影响。本发明与传统暗室散射测试方法相比较，更好的检测指定区域内暗室散射分布情况，并且利用算法补偿暗室散射对于天线测试的影响。
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公开(公告)号：CN106249057B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201610607127.9
申请日：2016-07-28
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种大型绕焦点转动波束扫描天线辐射特性等效测试方法，本发明采用旋转馈源等效旋转反射面的方式，通过方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术得到实际工作状态的方向图测试数据。将待测天线安装在转台上，使用经纬仪测量天线坐标系与场地坐标系关系，利用转台进行调整，然后用摄影测量调整馈源位置至设计位置，测量方向图。利用方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术将测得方向图变换至天线坐标系下，即实际工作状态。本发明与传统测试方法相比较，更好的模拟了绕焦点转动波束扫描天线在卫星上波束扫描的实际工作状态，更容易调整天线指向，降低的对天线工装的要求，严格的数学推导降低了幅度方向图直接平移带来的误差，以及确定了新坐标系原点下的相位方向图。
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公开(公告)号：CN106249057A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610607127.9
申请日：2016-07-28
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 一种大型绕焦点转动波束扫描天线辐射特性等效测试方法，本发明采用旋转馈源等效旋转反射面的方式，通过方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术得到实际工作状态的方向图测试数据。将待测天线安装在转台上，使用经纬仪测量天线坐标系与场地坐标系关系，利用转台进行调整，然后用摄影测量调整馈源位置至设计位置，测量方向图。利用方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术将测得方向图变换至天线坐标系下，即实际工作状态。本发明与传统测试方法相比较，更好的模拟了绕焦点转动波束扫描天线在卫星上波束扫描的实际工作状态，更容易调整天线指向，降低的对天线工装的要求，严格的数学推导降低了幅度方向图直接平移带来的误差，以及确定了新坐标系原点下的相位方向图。
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