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公开(公告)号：CN115031833A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210481428.7
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测试与计量技术领域，公开了一种制冷式超低弱光光度计，包括外壳体，还包括沿同一水平线依次布置的变焦物镜系统、多视场反射镜驱动系统、准直透镜、衰减片转轮单元、光电倍增管PMT探测器组件、光电倍增管制冷系统，所述多视场反射镜驱动系统和衰减片转轮单元分别与信号处理单元连接；还包括瞄准目镜系统。第一TEC用于光电倍增管阴极端制冷，提高光电转换效率，第二TEC用于光电倍增管管座制冷，为第一TEC制冷提供基础制冷，空气阀用于当滤光片光窗或光电倍增管阴极面所在前舱结霜时，空气阀会因为前舱形成负压自动开启，消除结霜，而后自动关闭。
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公开(公告)号：CN114935446A
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202210482712.6
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种小型化微光夜视仪分辨力和视场测试系统，其，包括：光源系统、测试靶组、弱光照度计、辐亮度计、成像物镜组件和被测微光夜视仪；光源系统布置在测试靶组前方，为测试靶组提供均匀照明；测试靶组包括分辨力靶和视场靶；弱光照度计和辐亮度计并列排布于测试靶组空位后侧对应位置，用于测量及监测靶面处的辐亮度和照度值；成像物镜组件和被测微光夜视仪依次布置在测试靶组后方，对测试靶组成像并投射于被测微光夜视仪上，测试人员观测分辨力靶或视场靶的图像，给出最终分辨力值或视场值。本发明解决了在现场条件下，工作于可见光波段的夜视仪及近红外波段新型夜视仪分辨力和视场参数的评价问题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN114923419A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210482680.X
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于空间光路的自校准光栅定位装置，其包括机架和安装在机架上的光栅组件、齿轮传动组件、步进电机组件、运动控制电路、电机驱动电路、光电传感器；运动控制电路向电机驱动电路发送指令，电机驱动电路驱动步进电机组件旋转，步进电机组件驱动齿轮传动组件运转，齿轮传动组件驱动光栅组件旋转；齿轮传动组件在运转过程中持续触发光电传感器，光电传感器的触发状态反馈至运动控制电路，运动控制电路判断光电传感器的触发状态，向电机驱动电路发送运转指令，电机驱动电路发送驱动脉冲到步进电机组件，驱动步进电机组件作相应的旋转。本发明可快速实现仪器的自校准，避免了回厂校准的麻烦，具有很强的实用性和通用性。
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公开(公告)号：CN103776531A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201410001652.7
申请日：2014-01-01
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种近红外微弱脉冲光谱辐亮度校准装置，属光学计量技术领域。该装置包括用于标定光栅光谱仪的光源组件，含有阵列光纤束的光纤组件，装有光谱辐亮度校准数据处理软件包的计算机，含有平场凹面光栅和面阵EMCCD的光栅光谱仪；阵列光纤束的输入端为单根光纤，输出端含有n根按一字排列的光纤；被测脉冲光源发出的脉冲光束经光纤组件、狭缝后被平场凹面光栅色散，色散光聚焦到面阵EMCCD的光敏面上而形成n行线光谱，计算机采集n行线光谱并根据光谱辐亮度计算公式获得被测脉冲光源随波长变化的光谱辐亮度值，并在计算机屏幕上显示单幅或多幅光谱辐亮度曲线。本发明解决了近红外微弱脉冲光源的光谱辐亮度的校准难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN115031833B
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202210481428.7
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测试与计量技术领域，公开了一种制冷式超低弱光光度计，包括外壳体，还包括沿同一水平线依次布置的变焦物镜系统、多视场反射镜驱动系统、准直透镜、衰减片转轮单元、光电倍增管PMT探测器组件、光电倍增管制冷系统，所述多视场反射镜驱动系统和衰减片转轮单元分别与信号处理单元连接；还包括瞄准目镜系统。第一TEC用于光电倍增管阴极端制冷，提高光电转换效率，第二TEC用于光电倍增管管座制冷，为第一TEC制冷提供基础制冷，空气阀用于当滤光片光窗或光电倍增管阴极面所在前舱结霜时，空气阀会因为前舱形成负压自动开启，消除结霜，而后自动关闭。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114942079B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202210482690.3
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J9/02
Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种柱面压缩成像系统最佳匹配调试方法，首先匹配柱面镜和线阵CCD，通过观察线阵CCD的输出至示波器的波形，当输出波形接近一条直线且信号的幅值最大时，完成柱面镜和线阵CCD的匹配；然后将柱面镜和线阵CCD作为一个整体与干涉模块进行匹配，通过观察线阵CCD输出至示波器的波形，当输出波形的占空比接近1:1且信号峰谷值最大时，干涉模块与柱面镜线阵CCD整体匹配完成。本发明解决了菲索激光波长计中的柱面压缩成像系统的调式难题，有效保证菲索波长计的波长测量精度。
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公开(公告)号：CN116037712A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202310045376.3
申请日：2023-01-30
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: B21D3/00
Abstract: 本发明公开了一种薄壁铜管大口径精密螺旋盘绕件校型装置，其包括：底盘、支柱、压圈、第一锁紧组件和第二锁紧组件；支柱有多根，均匀间隔布置在以底盘圆心为中心的同一圆周上，待校型盘绕件放置在多根圆柱与底盘所围成的容纳空间中，待校型盘绕件顶部布置第一锁紧组件，第一锁紧组件将相对的支柱卡紧并压紧在待校型盘绕件顶部，第一锁紧组件上方布置压圈，压圈顶部布置第二锁紧组件，第二锁紧组件将相对的支柱卡紧并压紧在压圈顶部，由此通过第一锁紧组件、第二锁紧组件对支柱进行周向收紧，并从顶部对盘绕件进行轴向压紧。本发明结构简单、投资少、操作方便，满足装配的要求，为高精度自动测量提供技术保障。
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公开(公告)号：CN115031838A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210481451.6
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法，高精度光谱仪主要是硬件上选择高线对数光栅、采用单次或者多次色散、长焦距汇聚镜、扫描摄谱等技术实现高准确度波长测量，该类光谱仪具备高光谱分辨率、高波长准确度等技术特点，标定方法首先对线阵探测器中心像元的波长标定，然后对线阵探测器非中心像元的波长标定。本发明可解决此类光谱仪波长的准确标定，尤其可实现紫外到近红外波段波长准确度±0.05nm的二次衍射的线阵光谱仪波长标定。
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公开(公告)号：CN107340555B
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201710699717.3
申请日：2017-08-16
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G02B5/22
Abstract: 本发明提出一种大发散角光吸收阱，包括串列的N级光吸收阱，N不小于3；其中从第1级到第N‑1级的光吸收阱为圆台形状腔体，且没有上下底面；第N级光吸收阱为圆锥腔体，且无下底面；第i级光吸收阱与第i+1级光吸收阱之间通过圆环紧密连接，圆环外径等于第i+1级光吸收阱下端内径，圆环内径等于第i级光吸收阱上端外径；光吸收阱腔体内壁以及圆环上表面具有黑色涂层。本发明的光吸收阱，既可以吸收小发散角的光束，也可以吸收大发散角的光束。
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公开(公告)号：CN103743489B
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201410001199.X
申请日：2014-01-01
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于标准面源黑体的红外辐射计比例常数标定方法，属于红外光学辐射领域。该标定方法针对目前红外辐射计斩波器喷涂高发射率黑漆和带有四个温度探头的特点，在斩波器温度与内置控温参考黑体温度相等时采集信号，避免斩波器的附加辐射进入探测器，此外，还要求在采集信号时，环境温度、壳体内部温度与斩波器温度相等，使得环境、壳体与斩波器之间的辐射动态平衡，这样就可以消除斩波器、壳体内部以及环境等附加辐射的影响。另外，该标定方法还在常用环境温度范围内进行了多个温度点的标定，弥补了传统方法中以一个温度点标定而代替多个温度点进行标定的以点带面的不足之处。与传统方法相比，这种红外辐射计比例常数标定方法的精度更高。
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