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公开(公告)号：CN102483937B
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：CN201180003552.2
申请日：2011-01-17
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G11B7/135 , G11B7/09 , G11B7/1374
CPC classification number: G11B7/0903 , G11B7/094 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/13925 , G11B7/1395 , G11B2007/0013
Abstract: 搭载于光盘装置的光学头装置(3)具有衍射光学元件(21)和光检测器(22)。衍射光学元件(21)包含：主衍射区域(210)，其配置在反射衍射光束的0次光成分的一部分和反射衍射光束的±1次光成分入射的位置；以及副衍射区域(211A、211B)，其配置在反射衍射光束的±1次光成分不入射、反射衍射光束的0次光成分的另一部分入射的位置。光检测器(22)的主受光部(23)接收透射过主衍射区域(210)和副衍射区域(211A、211B)的透射衍射光束的0次光成分。副受光部(24、25)接收透射过副衍射区域(211A、211B)的透射衍射光束的+1次光成分和-1次光成分中的至少一方。
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公开(公告)号：CN103052986B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201180037714.4
申请日：2011-07-25
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G11B7/24 , G11B7/24038
CPC classification number: G11B7/24 , G11B7/0908 , G11B7/24038 , G11B7/24056 , G11B7/24065
Abstract: 光信息记录介质（1）包括：至少1层的记录层（11）；保护层（13），其使会聚后的激光束透过；以及超分辨功能层（12），其至少在被照射会聚后的激光束的期间，光学特性在比由会聚光学系统（25）的光学性能和激光束（26）的波长决定的衍射极限小的局部区域发生变化。保护层（13）的光入射面与记录层（11）之间的厚度（K）的上限是0.083mm。
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公开(公告)号：CN103503071A
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201280020558.5
申请日：2012-02-17
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G11B20/10222 , G11B20/10037 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/1024 , G11B20/10277 , G11B20/10462 , G11B2220/2537
Abstract: 为了通过稳定的时钟信号的生成提高作为再现信号的二值化数据的质量，信号处理装置（30）具有：自适应型滤波器（14）；PRML电路，其通过基于时钟信号的周期的采样点处的采样，依次生成二值化数据，并且依次生成PR波形（S12）；加法器（18），其根据目标波形（S12）与实施了滤波的再现波形（S11）之间的差分依次计算针对采样点的第1相位误差；通过从第1相位误差中排除特定的相位误差而输出第2相位误差的选择器（37）；以及生成与第2相位误差对应的频率的时钟信号的时钟生成部（29），特定的相位误差包含关于与实施滤波后的再现波形与再现波形的平均水平交叉的交叉点最接近的采样点的相位误差。
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公开(公告)号：CN101874270A
公开(公告)日：2010-10-27
申请号：CN200880117828.8
申请日：2008-08-21
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor： 中井贤也
CPC classification number: G11B7/1387 , G11B7/139
Abstract: 本发明的课题在于，提供即使在对包含衍射极限以下的小记录标记的超分辨光盘进行再现时，也能有效地检测低频噪声成分小的再现信号，提高再现质量的光学头装置。作为解决手段，设置孔径控制单元(70)并利用受光元件(11)检测比入射瞳径D1范围大的反射光，有效地对低频噪声成分比例少的所述反射光的周围部进行受光检测，得到质量良好的再现信号，而无需使用高数值孔径且制造成本高的物镜，其中，该孔径控制单元(70)对来自光盘(7)的反射光发挥功能，使回路光路中的物镜的出射瞳径D2大于去路光路中的入射瞳径D1。
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公开(公告)号：CN101256791A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200810082217.6
申请日：2008-02-26
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G11B7/22 , G11B7/1376 , G11B7/13925
Abstract: 提供一种光拾波器装置的调节方法和制造方法、及可以使这些方法实现的光拾波器调节用光盘，可以将准直透镜的光轴方向之外的方向的位移对光检测器的检测信号的影响控制在允许范围内。作为解决手段，光拾波器调节用光盘(30)具有：保护基板(31)；和光拾波器调节用的中间深度信息记录层(32mid)，其形成为光盘标准规定的最大深度信息记录层的深度Dmax和最小深度信息记录层的深度Dmin的中间的深度Dmid。光拾波器装置的调节方法如下，光拾波器装置(10)隔着保护基板(31)向光拾波器调节用光盘(30)的中间深度信息记录层(32mid)照射激光L1，并检测反射激光L2，调节装置(20)根据反射激光L2的检测结果，调节光拾波器装置(10)的光检测器(16)的位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101111890A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200580047610.6
申请日：2005-12-26
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor： 中井贤也
CPC classification number: G11B7/0941 , G11B7/0909 , G11B7/094 , G11B7/0943 , G11B7/131
Abstract: 本发明提供光学装置和使用该光学装置的光盘装置。在基于利用现有的像散法的焦点误差信号的对焦伺服控制中，由于光检测器的受光面上的受光光束的位置偏移、或者因返回光的强度分布的非对称引起的偏差而使焦点误差信号产生误差，存在不能正确地进行对焦伺服动作的课题。本发明利用因返回光的强度分布的非对称引起的偏差来校正根据在光检测器(12)上的切线方向上产生的受光面与受光光束的位置偏移量和物镜(7)的透镜移动量的关系而导出的信号，求出与规定的常数的乘积值，根据从现有的像散法的运算式中减去该运算值所得到的焦点误差信号来进行对焦伺服控制。
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公开(公告)号：CN108369171B
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN201680071190.3
申请日：2016-12-08
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor： 中井贤也
Abstract: 微小物检测装置(11)具有光学系统(50)。第1光学系统(50)包含第1反射区域(101)、第2反射区域(102)和受光元件(6)。第1反射区域(101)为椭圆面形状，利用椭圆面形状的2个焦点的位置来反射照射光照到粒子(R)而散射的散射光并将该散射光引导至受光元件(6)。第2反射区域(102)反射从粒子(R)到达的散射光并将该散射光引导至第1反射区域(101)，利用第1反射区域(101)的椭圆面形状将该散射光引导至受光元件(6)。由第2反射区域(102)反射后的散射光的光束直径在发出散射光的粒子(R)的位置处大于粒子(R)。
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公开(公告)号：CN112334755A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN201880094629.3
申请日：2018-06-22
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G01N15/14
Abstract: 粒子检测装置(100)具有：第1光源(11)，其射出第1照射光(L1)；第1聚光部件(31)，其具有凹状的第1反射面；第2聚光部件(32)，其具有与第1反射面对置的凹状的第2反射面；第2光源(21)，其射出第2照射光(L2)；以及第1受光元件(41)，其输出表示与第1入射光的强度对应的值的第1检测信号(D1)，在第1光源(11)射出第1照射光(L1)时，第1受光元件(41)检测第1照射光被照射到存在于对象空间(30)内的检测位置处的粒子而产生的散射光作为第1入射光，在第2光源(21)射出第2照射光(L2)时，第1受光元件(41)检测第2照射光(L2)中的由第1反射面反射后的光以及由第1反射面和第2反射面双方反射后的光作为第1入射光。
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公开(公告)号：CN104081459B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201280065953.5
申请日：2012-11-26
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G11B7/1353 , G11B7/09 , G11B7/131
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/0903 , G11B7/094 , G11B7/125 , G11B7/131 , G11B2007/0013
Abstract: 光学头装置(11)具有：光学元件(36)，其使从半导体激光器(34)射出的光束透射式衍射，生成0次衍射光束和±1次衍射光束；以及光检测元件(40)，其接收被光盘(2)反射的0次衍射光束和+1次衍射光束。光检测元件(40)包含接收0次衍射光束的主受光部(400)、和比主受光部(400)靠外侧配置的第1副受光部(401)。第1副受光部外侧的一部分的位置处，对这一部分进行光电转换而输出副检测信号。(401)被配置于检测+1次衍射光束的受光光斑的
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公开(公告)号：CN106164643A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201580018544.3
申请日：2015-02-19
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G01N15/1434 , G01N15/0211 , G01N15/06 , G01N21/49 , G01N21/53 , G01N2015/0046 , G01N2015/0693 , G01N2015/1454 , G01N2201/06113 , G01N2201/0683 , G01S7/4916 , G01S7/499 , G01S17/95 , H01S5/0028 , H01S5/0427 , H01S5/0617 , H01S5/06832 , Y02A90/19
Abstract: 浮游粒子检测装置(1)能够实现装置结构的简化且准确判别浮游粒子的种类，该装置具有包含激光发光元件(11)和反向监视用受光元件(12)的激光照射部(10)、选择性地接收在照射到浮游粒子(50)时产生的散射光中的预定偏振成分的光而生成第2检测信号的散射光受光部(20)、以及根据第1检测信号和第2检测信号判别浮游粒子的种类的判别处理部(30)，入射到反向监视用受光元件(12)的入射光包含反向监视用激光(L0)和照射到浮游粒子(50)的照射激光(L1)的散射光(Ls)中的朝向激光照射部(10)的后方散射光(Lbs)。
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