温度测定构件、温度测定装置和温度测定方法

    公开(公告)号:CN101344438A

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN200810135718.6

    申请日:2008-07-03

    Abstract: 本发明提供一种不需要外部配线,也没有杂质和粉尘发生,能够进行从低温至高温的广阔的温度范围中的最高到达温度的测定的温度测定构件、温度测定装置和温度测定方法。本发明构成如下:以经由CCD照相机4和IO板5被输出到运算处理装置6的图像数据为基础,以个数计算部7计算在形成有金属薄膜的温度测定构件1受到的热过程下致使在金属薄膜上生成的突起的形状的面密度,根据该面密度和预先收纳在存储器8中的最高到达温度与面密度相关的数据,由温度计算部9求得被测温对象的最高到达温度。另外,本发明构成如下:使用在基板上成膜铝薄膜而成的温度测定构件,测定伴随该温度测定元件受到的温度过程而在薄膜表面所形成的突起引起的薄膜的反射率的降低量,基于此反射率的降低量,推定温度过程之中最高到达温度。

    介电线及其制作方法
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1745497A

    公开(公告)日:2006-03-08

    申请号:CN200480003063.7

    申请日:2004-01-05

    CPC classification number: H01P3/165 H01P11/006 Y10T428/24182

    Abstract: 本发明提供了一种介电线,其具有足够的强度,并适于批量生产,以及提供了一种该介电线的制造方法。该制造方法是一种用于制造介电线的制造方法,该介电线具有介电带和介电层,介电带位于两个大致相互平行的导电板之间,并且介电带具有比导电板窄的宽度,介电层填充在两个导电板之间除了介电带以外的其它部分,该介电层由介电常数比介电带的介电常数小的多孔材料组成。该介电线(NRD波导)通过下列步骤制成:使用介电原材料在导电板之一上形成薄膜的薄膜成形步骤;将介电原材料的上述薄膜的一部分暴露到预定的光线、光束以及蒸汽下的带暴露步骤,其中该部分具有相应于介电带的形状;以及使得介电原材料整个薄膜多孔的孔成形步骤。

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