公开(公告)号：CN111742241A

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：CN201980014440.3

申请日：2019-02-15

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 木村祯祐 ,  高井勇

IPC: G01S17/89 ,  G01S17/10

Abstract: 本发明涉及光测距装置。光测距装置(10)具备：光源部(30)；受光部(12)，具有多个受光元件，该受光元件能够根据来自物体的反射光的入射而输出脉冲信号；加法部(52)，将脉冲信号的数量相加来求出加法值；直方图生成部(54)，生成按每个飞行时间记录加法值的直方图；峰值检测部(56)，获取直方图的峰值处的加法值作为信号强度，并且根据与峰值对应的飞行时间求出距离值；图像生成部(58)，生成信号强度图像数据和距离图像数据；低信号强度要素检测部(62)，从信号强度图像数据检测具有低的信号强度的低信号强度要素；以及图像修正部(64)，基于其它距离值，对距离图像数据中的与低信号强度要素对应的对象要素中记录的距离值进行修正。

公开(公告)号：CN110462847A

公开(公告)日：2019-11-15

申请号：CN201880021118.9

申请日：2018-03-30

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 东谦太 ,  木村祯祐 ,  尾崎宪幸 ,  柏田真司 ,  秦武广 ,  高井勇 ,  松原弘幸

IPC: H01L31/10

Abstract: 本发明涉及光检测器。光检测器(1A)具备：检测部(10)，构成为对SPAD(4)施加反向偏压来进行光检测；监视器用SPAD(12)，具有与构成检测部的SPAD同样的特性；电流源(14)，向监视器用SPAD供给恒定电流使监视器用SPAD以盖革模式进行动作；以及电压生成部(18)，基于根据在监视器用SPAD的两端间产生的击穿电压设定的基准击穿电压和规定的过电压来生成施加到检测部的SPAD的反向偏压。

公开(公告)号：CN110462846A

公开(公告)日：2019-11-15

申请号：CN201880019965.1

申请日：2018-03-27

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 东谦太 ,  尾崎宪幸 ,  柏田真司 ,  木村祯祐 ,  高井勇 ,  松原弘幸

IPC: H01L31/10 ,  G01S7/486 ,  H01L27/146

Abstract: 本发明涉及光检测器。受光阵列部(10)具有根据光子的入射而输出脉冲信号的多个受光部(11)，且并行输出从多个受光部分别输出的脉冲信号。比较部(20)对输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数和触发阈值进行比较，并在响应数达到触发阈值的定时输出表示入射到受光阵列部的光信号的受光定时的触发信号。响应获取部(40)在按照触发信号的定时获取响应数，并作为表示光信号的强度的强度信息输出。延迟设定部(60)设定延迟设定值，该延迟设定值用于调整从受光阵列部输出脉冲信号到响应获取部获取响应数为止的时间。