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公开(公告)号:CN118067672A
公开(公告)日:2024-05-24
申请号:CN202410163359.4
申请日:2024-02-05
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供了一种光谱检测方法及装置,所述光谱检测方法包括通过第一线偏振片在第一方向上对光源光过滤以得到偏振光;将所述偏振光照射至待检物上,并接收从所述待检物上发出的混合光;通过第二线偏振片在第二方向上对所述混合光过滤以得到检测光;获取所述检测光的高光谱图像;对所述高光谱图像进行预处理,以获取类图形光谱数据;根据所述类图形光谱数据获取对应的检测结果;所述第一方向与所述第二方向垂直。本发明技术方案提高检测精度,处理结果更可靠。
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公开(公告)号:CN117881047A
公开(公告)日:2024-04-12
申请号:CN202311818025.8
申请日:2023-12-26
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供了一种积分球光谱调节装置、方法及计算机可读存储介质,所述积分球光谱调节装置包括壳体、OLED组件、光谱检测仪及处理器,所述OLED组件设置在所述壳体的内壁上;所述光谱检测仪设置在所述壳体上,所述光谱检测仪用于检测所述OLED组件的光谱信息;所述处理器分别于所述OLED组件以及所述光谱检测仪电连接,所述处理器用于根据目标光谱信息匹配计算目标功率,并控制所述OLED组件的运行功率调整至上述目标功率。本发明技术方案避免积分球光源由于长时间使用后导致的光谱特性变化,提高可靠性。且能够满足任意光谱类型,在完成一次光谱匹配后可以保存光谱匹配记录,后续可以再次调用,操作方便。
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公开(公告)号:CN115575790B
公开(公告)日:2023-03-17
申请号:CN202211587907.3
申请日:2022-12-12
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种微米发光二极管芯片缺陷检测方法、设备及存储介质,属于芯片检测技术领域,该方法包括:获取微米发光二极管芯片的光谱数据,将所述光谱数据转化为待测光谱向量;确定所述待测光谱向量与预设的背景光谱向量之间的第一角度参量,若所述第一角度参量符合预设的检测条件,则将所述待测光谱向量作为目标光谱向量;确定所述目标光谱向量与预设的参考光谱向量之间的第二角度参量,根据所述第二角度参量和预设的参量阈值之间的大小关系判断所述微米发光二极管芯片是否异常。本发明通过光谱角匹配进行微米发光二极管芯片的缺陷检测,实现了提高微米发光二极管芯片检测效率的技术效果。
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