一种基于时-空调制方式的红外热波成像系统与检测方法

    公开(公告)号:CN106442624A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610820975.8

    申请日:2016-09-13

    CPC classification number: G01N25/72

    Abstract: 一种基于时-空调制方式的红外热波成像系统与检测方法,属于红外成像无损检测领域。计算机通过VGA控制线与DMD控制器信号连接,DMD控制器通过控制线与DMD数字显微晶片板信号连接,半导体激光器电源通过电源线与半导体激光器电连接,半导体激光器通过光纤与准直镜连接,计算机通过以太网线与红外热像仪信号连接。本发明所述的一种基于时-空调制方式的红外热波成像系统与检测方法,对检测试件的加热均匀,在检测时对检测试件上的微裂纹敏感,且系统造价低廉。

    阿胶胶液废沫提取机缠绕式变速升降装置

    公开(公告)号:CN103771278B

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201410066262.8

    申请日:2014-02-26

    Abstract: 阿胶胶液废沫提取机缠绕式变速升降装置。在传统的熬制方法中,胶液内的杂质浮上水面,需要打沫瓢或打沫刀将其取出,一般一小时左右打沫一个。这个过程费时、费力,需要大量人工,效率低。本发明的组成包括:伺服电机(1),所述的伺服电机与蜗轮蜗杆减速机(2)连接,所述的蜗轮蜗杆减速机与安装座(3)通过螺栓连接,所述的蜗轮蜗杆减速机的输出轴(4)与钢丝绳缠绕轮(5)固定连接,所述的安装座与支架(6)通过螺栓连接,缠绕在所述的钢丝绳缠绕轮上的钢丝绳(9)穿过固定在所述的支架上的管(7)后与细目网筐(8)固定连接,所述的钢丝绳一端用销轴固定在所述的钢丝绳缠绕轮上。本发明用于提沫机刮沫板的垂直升降。

    阿胶胶液废沫提取机
    23.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103816683B

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201410066256.2

    申请日:2014-02-26

    Abstract: 阿胶胶液废沫提取机。传统的阿胶打沫方式还多采用手工打沫,机械自动化程度低,出胶慢,熬胶时间长,人工高,效率低。本发明的组成包括:上箱(1),所述的上箱与加热釜(2)通过法兰、密封垫连接,所述的加热釜包括U型内筒、半圆形夹套,所述的半圆形夹套与所述的U型内筒之间的夹套内均匀分布有一组圆柱形加强筋,在所述的上箱侧壁上安装有盛装防高温摄像机的摄像机冷却罩,所述的上箱上安装有皮带驱动直线运动模组(5),所述的直线运动模组的滑座上安装有缠绕式变速升降装置(6),所述的缠绕式变速升降装置底端与细目网筐结构(8)连接,在所述的直线运动模组两侧的上箱上设置有长条形狭孔(7)。本发明用于阿胶的熬制、提沫。

    阿胶胶液废沫提取机
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103816683A

    公开(公告)日:2014-05-28

    申请号:CN201410066256.2

    申请日:2014-02-26

    Abstract: 阿胶胶液废沫提取机。传统的阿胶打沫方式还多采用手工打沫,机械自动化程度低,出胶慢,熬胶时间长,人工高,效率低。本发明的组成包括:上箱(1),所述的上箱与加热釜(2)通过法兰、密封垫连接,所述的加热釜包括U型内筒、半圆形夹套,所述的半圆形夹套与所述的U型内筒之间的夹套内均匀分布有一组圆柱形加强筋,在所述的上箱侧壁上安装有盛装防高温摄像机的摄像机冷却罩,所述的上箱上安装有皮带驱动直线运动模组(5),所述的直线运动模组的滑座上安装有缠绕式变速升降装置(6),所述的缠绕式变速升降装置底端与细目网筐结构(8)连接,在所述的直线运动模组两侧的上箱上设置有长条形狭孔(7)。本发明用于阿胶的熬制、提沫。

    阿胶胶液废沫提取机上箱多运动机构装置

    公开(公告)号:CN103785189A

    公开(公告)日:2014-05-14

    申请号:CN201410066236.5

    申请日:2014-02-26

    Abstract: 阿胶胶液废沫提取机上箱多运动机构装置。传统的胶汁提取有敞口提取、密封提取等方法,传统的打沫方式还多采用手工打沫,传统方法机械自动化程度低,出胶慢,熬胶时间长,人工高,效率低。本发明组成包括:箱体(1),在所述的箱体上表面安装有实时测量液面高度的雷达液位变送器(2),在所述的箱体上安装有水平传动机构(3),在所述的水平传动机构的滑座上安装有缠绕式变速升降装置(4),所述的缠绕式变速升降装置底端与细目网筐结构(5)连接,在所述的水平传动机构两侧的箱体上设置有长条形狭孔(6),在一个所述的狭孔上安装有柔性风琴式防护罩(7),所述的箱体内安装有盛装防高温摄像机的摄像机冷却罩。本发明用于提沫机上箱装置。

    基于一维微焦准直的微小内腔尺寸和二维坐标传感方法与装置

    公开(公告)号:CN101520314A

    公开(公告)日:2009-09-02

    申请号:CN200910071624.1

    申请日:2009-03-24

    Abstract: 基于一维微焦准直的微小内腔尺寸和二维坐标传感方法与装置属于精密仪器制造及测量技术领域,特别是一种“亚宏观”领域中对微小、复杂内腔的结构尺寸和二维坐标的传感方法与装置,尤其适用于大深径比微小孔的测量,本发明利用光纤探针测杆具有超大曲率和微柱面透镜的结构特点组建了点光源一维微焦准直成像光路,利用该光路实现了对光纤探针测杆二维位移量的高倍放大与传感,本发明不仅具备单光纤探针测力小、易小型化及测量深径比大的特点,特别是分辨力最高可达深亚纳米量级,且在二维测量方向具有绝对“0”位,系统结构简单、实时性好、易于实际应用,在对微小内腔尺寸和二维坐标实施快速、超精密的测量与校准中具有显著优势。

    ICCD增益调频连续波调制无扫描距离成像器

    公开(公告)号:CN101498786A

    公开(公告)日:2009-08-05

    申请号:CN200910071450.9

    申请日:2009-02-27

    Abstract: ICCD增益调频连续波调制无扫描距离成像器,属于光电成像领域。本发明的目的是解决目前基于自混频探测器的无扫描FM/CW装置获取目标距离像的性能不稳定、难以应用的问题。半导体激光器发射出的激光光束经发射光学整形系统整形后照射到目标上,经目标反射后的激光光束被接收光学系统接收、汇聚至ICCD面阵探测器形成回波信号,调频连续波函数发生器发出的激光经高压调制电源与ICCD面阵探测器相连形成ICCD调制信号,ICCD调制信号与回波信号进行混频后,并由控制处理器进行傅立叶变换处理,获得与目标的距离。用于光学领域激光测距。

    基于双侧对称阻尼的静压气浮导轨

    公开(公告)号:CN101373146A

    公开(公告)日:2009-02-25

    申请号:CN200810064747.8

    申请日:2008-06-17

    Abstract: 基于双侧对称阻尼的静压气浮导轨属于精密仪器与测量技术领域,是针对气浮导轨驱动力小而惯性大的特点,根据导轨位置闭环控制系统的阶跃响应与冲击响应特性,在系统中引入双向粘滞阻尼器构成速度反馈环节,弥补PID控制器中微分参数阻尼作用的不足,达到提高系统阻尼比、减小其运动超调、消除随机扰动引起的固有振动的目的;本导轨是在气浮套两端对称布置两套具有相同参数的粘滞阻尼器构成双向粘滞阻尼器,阻尼力大小与气浮套运动速度成正比,方向与气浮套运动方向在同一条直线上,阻尼系数精确可调,可有效减小导轨的运动超调和定位后在运动方向上的固有振动,使导轨的定位精度和静态稳定性提高约一个数量级。

    一种基于圆偏振调制的近临界CO2介质增强光热显微成像方法

    公开(公告)号:CN119666848A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411660653.2

    申请日:2024-11-20

    Abstract: 一种基于圆偏振调制的近临界CO2介质增强光热显微成像方法,它涉及一种近临界CO2介质增强光热显微成像方法。本发明为了解决目前光热显微成像技术信号微弱,无法分离出被测物体的光热数据信号与检测过程中的噪声信号的问题。本发明基于圆偏振调制的近临界CO2介质增强光热显微成像方法融合热透镜特性机制、光热信号调制、远场显微成像、多源信号解混与特征提取、图像反卷积、深度学习等多方面技术领域,可实现针对复合材料、纳米材料、金属材料以及高分子聚合物浅表层缺陷的强信号高对比度光热显微成像。本发明属于光热科学与探测及信号处理技术领域。

    一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法

    公开(公告)号:CN119619014A

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202411731050.7

    申请日:2024-11-29

    Abstract: 本发明提出了一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法,属于光热科学与探测及信号处理技术领域,解决了目前纳米单颗粒难以观测、物理化学特性获取难度大的问题,具体包括:明确待检测样品,制备玻片样品;开启计算机、数据采集卡、锁相放大器、振镜控制器和函数发生器;开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器;设置检测参数,设置激光功率/电流参数,设置调制参数,对检测样件进行扫描检测;加载磁场;计算机从数据采集卡中读取信号得到光热检测结果图像;改变不同的激光参数和磁场大小,重复上述步骤,获得圆二色、磁圆二色检测结果,进行磁化曲线测量以及对单纳米颗粒磁矩翻转过程监测。

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